薄膜和涂層薄膜和涂層分析采用的原理與XRPD相同，不過進一步提供了光束調(diào)節(jié)和角度控制功能,。典型示例包括但不限于相鑒別,、晶體質(zhì)量、殘余應力,、織構(gòu)分析,、厚度測定以及組分與應變分析。在對薄膜和涂層進行分析時,，著重對厚度在nm和μm之間的層狀材料進行特性分析,，從非晶和多晶涂層到外延生長薄膜等,。D8 ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件可進行以下高質(zhì)量的薄膜分析：掠入射衍射X射線反射高分辨率X射線衍射倒易空間掃描，由于具有出色的適應能力,，使用D8ADVANCE，您就可對所有類型的樣品進行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物,。無論是新手用戶還是**用戶，都可簡單快捷,、不出錯地對配置進行更改,。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設計實現(xiàn)的：配置儀器時，免工具,、免準直,，同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持。不僅如此——布魯克提供基于NIST標樣剛玉（SRM1976）的準直保證,。目前,，在峰位,、強度和分辨率方面，市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE,。新結(jié)構(gòu)測定以及多晶篩選是藥物開發(fā)的關鍵步驟,，對此，D8 DISCOVER具有高通量篩選功能,。廣州授權(quán)代理商XRD衍射儀售后服務

基于的D8衍射儀系列平臺的D8ADVANCE,，是所有X射線粉末衍射和散射應用的理想之選，如：典型的X射線粉末衍射（XRD）對分布函數(shù)（PDF）分析小角X射線散射（SAXS）和廣角X射線散射（WAXS）由于具有出色的適應能力,，使用D8ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進行測量：從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物,。無論是新手用戶還是**用戶,，都可簡單快捷、不出錯地對配置進行更改,。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設計實現(xiàn)的：配置儀器時,，免工具、免準直,，同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持,。不止如此——布魯克提供基于NIST標樣剛玉（SRM1976）的準直保證。目前,，在峰位,、強度和分辨率方面，市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE,。檢測實驗室XRD衍射儀銷售廠家D8D在金屬樣品檢測中,，殘余奧氏體、殘余應力和織構(gòu)檢測是其中小部分,，目的在于確保產(chǎn)品完成復合用戶需求,。

淀粉結(jié)晶度測定引言淀粉結(jié)晶度是表征淀粉顆粒結(jié)晶性質(zhì)的一個重要參數(shù)，也是表征淀粉材料類產(chǎn)品性質(zhì)的重要參數(shù),，其大小直接影響著淀粉產(chǎn)品的應用性能,、淀粉材料的物理和機械性能。X射線衍射法（XRD)加全譜擬合法測定淀粉顆粒結(jié)晶度常用的方法之一,。結(jié)晶度對于含有非晶態(tài)的聚合物,，其散射信號來源于兩部分：晶態(tài)的衍射峰和非晶態(tài)漫散峰。那么結(jié)晶度DOC則定義為晶態(tài)衍射峰面積與總散射信號面積的比值,。采用了開放式設計并具有不受約束的模塊化特性的同時,，將用戶友好性、操作便利性以及安全操作性發(fā)揮得淋漓盡致,，這就是布魯克DAVINCI設計

D8ADVANCEECO是市面上環(huán)保的X射線衍射儀,，其應用范圍,、數(shù)據(jù)質(zhì)量、靈活性和可升級性毫不打折扣,。D8ADVANCEECO是功能齊全的D8ADVANCE版本,，適用于所有X射線粉末衍射和散射應用。與D8ADVANCE完全兼容,，它具有面向未來的所有靈活性,。面對新應用，您隨時都能對它輕松完成升級,，從而適應未來實驗室可能出現(xiàn)的任何X射線衍射和散射應用需求：相鑒定定量相分析微觀結(jié)構(gòu)分析結(jié)構(gòu)測定和精修殘余應力織構(gòu)掠入射衍射（GID）X射線反射分析（XRR）小角X射線散射（SAXS）對分布函數(shù)（PDF）分析樣品臺的卡口座允許在測角儀上快速準確地更換整個樣品臺,，較大限度地提高實驗靈活性。

EIGER2 R 具有多模式功能（0D-1D-2D,、快照和掃描模式）,，覆蓋了從粉末研究到材料研究的多種測量方法。EIGER2并非傳統(tǒng)意義上的萬金油,，而是所有分析應用領域的**,。其可實現(xiàn)無吸收測量的動態(tài)范圍、用于超快粉末測量和快速倒易空間掃描的1D大尺寸以及超過500k像素的2D大覆蓋范圍,，都為多模式探測器樹立了新標準,。EIGER2采用了DECTRIS 公司研發(fā)的光束探測器技術，整合了布魯克的軟件和硬件,，可為您帶來無縫易用的解決方案,。由于具有出色的適應能力，使用D8 ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物。X射線反射法,、掠入射衍射（GID）,、面內(nèi)衍射、高分辨率XRD,、GISAXS、GI應力分析,、晶體取向分析,。廣州授權(quán)代理商XRD衍射儀售后服務

安裝在標準陶瓷X射線管前面，可多達6種不同的光束幾何之間自動地進行電動切換,，無需認為干預,。廣州授權(quán)代理商XRD衍射儀售后服務

XRD檢測聚合物結(jié)晶度測定引言聚合物的結(jié)晶度是與其物理性質(zhì)有很大關系的結(jié)構(gòu)參數(shù)。有時,，可以通過評估結(jié)晶度來確定剛度不足,，裂紋,，發(fā)白和其他缺陷的原因。通常,，測量結(jié)晶度的方法包括密度,，熱分析，NMR,、IR以及XRD方法,。這里將給出通過X射線衍射技術加全譜擬合法測定結(jié)晶度的方法的說明以及實例。結(jié)晶度對于含有非晶態(tài)的聚合物,，其散射信號來源于兩部分：晶態(tài)的衍射峰和非晶態(tài)漫散峰,。那么結(jié)晶度DOC則定義為晶態(tài)衍射峰面積與總散射信號面積的比值：廣州授權(quán)代理商XRD衍射儀售后服務

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