LYNXEYEXE-T具有優(yōu)于380eV的能量分辨率,，著實(shí)出色，是市面上性能的熒光過濾器探測器系統(tǒng),。借助它,，您可在零強(qiáng)度損失下對由銅輻射激發(fā)的鐵熒光進(jìn)行100％過濾,，而且無需金屬濾波片，因此數(shù)據(jù)也不會存在偽影,，如殘余K?和吸收邊,。同樣，也無需用到會消除強(qiáng)度的二級單色器,。布魯克提供獨(dú)有的LYNXEYEXE-T探測器保證：交貨時(shí)保證無壞道,！LYNXEYE XE-T是LYNXEYE系列探測器的旗艦產(chǎn)品。它是目前市面上一款可采集0D,、1D和2D數(shù)據(jù)的能量色散探測器,，適用于所有波長（從Cr到Ag），具有準(zhǔn)確的計(jì)數(shù)率和角分辨率,，是所有X射線衍射和散射應(yīng)用的理想選擇,。先進(jìn)的傳感器設(shè)計(jì)，包括第二代**性的EIGER：極限尺寸為75 x 75mm2的50萬像素,，實(shí)現(xiàn)微觀分辨率的宏觀覆蓋,。北京布魯克XRD衍射儀

對分布函數(shù)分析對分布函數(shù)（PDF）分析是一種分析技術(shù)，它基于Bragg衍射以及漫散射（“總散射”）,，提供無序材料的結(jié)構(gòu)信息,。其中，您可以通過Bragg衍射峰,，了解材料的平均晶體結(jié)構(gòu)的信息（即長程有序）,，通過漫散射，表征其局部結(jié)構(gòu)（即短程有序）,。就分析速度,、數(shù)據(jù)質(zhì)量以及對非晶、弱晶型,、納米晶或納米結(jié)構(gòu)材料的分析結(jié)果而言,，D8ADVANCE和TOPAS軟件是目前市面上性能較好的PDF分析解決方案：相鑒定結(jié)構(gòu)測定和精修納米粒度和形狀。湖北上海XRD衍射儀涉及高通量篩選（HTS）和大區(qū)域掃描分析時(shí),，D8 DISCOVER是較好解決方案,。

薄膜和涂層薄膜和涂層分析采用的原理與XRPD相同，不過進(jìn)一步提供了光束調(diào)節(jié)和角度控制功能,。典型示例包括但不限于相鑒別,、晶體質(zhì)量、殘余應(yīng)力,、織構(gòu)分析,、厚度測定以及組分與應(yīng)變分析。在對薄膜和涂層進(jìn)行分析時(shí),，著重對厚度在nm和μm之間的層狀材料進(jìn)行特性分析,，從非晶和多晶涂層到外延生長薄膜等,。D8 ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件可進(jìn)行以下高質(zhì)量的薄膜分析：掠入射衍射X射線反射高分辨率X射線衍射倒易空間掃描，由于具有出色的適應(yīng)能力,，使用D8ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進(jìn)行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物,。無論是新手用戶還是**用戶，都可簡單快捷,、不出錯(cuò)地對配置進(jìn)行更改,。這都是通過布魯克獨(dú)特的DAVINCI設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的：配置儀器時(shí)，免工具,、免準(zhǔn)直,，同時(shí)還受到自動化的實(shí)時(shí)組件識別與驗(yàn)證的支持。不僅如此——布魯克提供基于NIST標(biāo)樣剛玉（SRM1976）的準(zhǔn)直保證,。目前,，在峰位、強(qiáng)度和分辨率方面,，市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE,。

二氧化鋯多晶型分析引言二氧化鋯化學(xué)性質(zhì)不活潑，且具有高熔點(diǎn),、高電阻率,、高折射率和低熱膨脹系數(shù)等獨(dú)特的物理化學(xué)性質(zhì)，使它成為重要的耐高溫材料,、陶瓷絕緣材料和陶瓷遮光劑,。其結(jié)構(gòu)主要有三種晶型：單斜相、四方相以及立方相,。不同晶體結(jié)構(gòu)對應(yīng)的物理化學(xué)性質(zhì)有較大區(qū)別,，X射線衍射是區(qū)分二氧化鋯晶型的主要手段之一。同時(shí)利用先進(jìn)的Rietveld方法可對二氧化鋯多晶型樣品進(jìn)行快速定量分析,。實(shí)例二氧化鋯多晶型定性分析左插圖：微量的二氧化鋯單斜相右插圖：二氧化鋯四方相和立方相區(qū)分明顯候選材料鑒別（PMI） 為常見,，這是因?yàn)閷ζ湓咏Y(jié)構(gòu)十分靈敏，而這無法通過元素分析技術(shù)實(shí)現(xiàn),。

D8 DISCOVER是旗艦款多功能X射線衍射儀,，帶有諸多前沿技術(shù)組件。它專為在環(huán)境條件下和非環(huán)境條件下,，對從粉末,、非晶和多晶材料到外延多層薄膜等各種材料進(jìn)行結(jié)構(gòu)表征而設(shè)計(jì)。

應(yīng)用范圍：

1.定性相分析和定量相分析,、結(jié)構(gòu)測定和精修,、微應(yīng)變和微晶尺寸分析

2.X射線反射法,、掠入射衍射（GID）、面內(nèi)衍射,、高分辨率XRD,、GISAXS、GI應(yīng)力分析,、晶體取向分析

3.殘余應(yīng)力分析,、織構(gòu)和極圖,、微區(qū)X射線衍射、廣角X射線散射（WAXS）

4.總散射分析：Bragg衍射,、對分布函數(shù)（PDF）,、小角X射線散射（SAXS） D8 DISCOVER系列是市面上準(zhǔn)確,、功能強(qiáng)大和靈活的X射線衍射解決方案。上海全新XRD衍射儀什么價(jià)格

在DIFFRAC.TEXTURE中,，使用球諧函數(shù)和分量方法,，生成極圖、取向分布函數(shù)（ODF）和體積定量分析,。北京布魯克XRD衍射儀

XRD檢測聚合物結(jié)晶度測定引言聚合物的結(jié)晶度是與其物理性質(zhì)有很大關(guān)系的結(jié)構(gòu)參數(shù),。有時(shí)，可以通過評估結(jié)晶度來確定剛度不足,，裂紋,，發(fā)白和其他缺陷的原因,。通常,，測量結(jié)晶度的方法包括密度,，熱分析,，NMR,、IR以及XRD方法,。這里將給出通過X射線衍射技術(shù)加全譜擬合法測定結(jié)晶度的方法的說明以及實(shí)例。結(jié)晶度對于含有非晶態(tài)的聚合物，其散射信號來源于兩部分：晶態(tài)的衍射峰和非晶態(tài)漫散峰,。那么結(jié)晶度DOC則定義為晶態(tài)衍射峰面積與總散射信號面積的比值：北京布魯克XRD衍射儀

束蘊(yùn)儀器（上海）有限公司屬于儀器儀表的高新企業(yè),，技術(shù)力量雄厚。公司致力于為客戶提供安全,、質(zhì)量有保證的良好產(chǎn)品及服務(wù),，是一家有限責(zé)任公司（自然）企業(yè),。公司業(yè)務(wù)涵蓋布魯克顯微CT1272，布魯克XRD衍射儀D8,，布魯克顯微CT2214,，布魯克XRD衍射儀D2，價(jià)格合理,，品質(zhì)有保證,，深受廣大客戶的歡迎。束蘊(yùn)儀器將以真誠的服務(wù),、創(chuàng)新的理念,、***的產(chǎn)品，為彼此贏得全新的未來,！