XRD檢測納米二氧化鈦晶粒尺寸引言納米材料的性能往往和其晶粒大小有關(guān),，而X射線衍射是測定納米材料晶尺寸的有效方法之一。晶粒尺寸Dhkl(可理解為一個完整小單晶的大小)可通過謝樂公示計算Dhkl：晶粒尺寸,，垂直于晶面hkl方向β:hkl晶面的半高寬（或展寬）θ：hkl晶面的bragg角度λ：入射X光的波長，一般Cu靶為1.54埃K：常數(shù)（晶粒近似為球形,，K=0.89,；其他K=1）ADVANCE采用了開放式設(shè)計并具有不受約束的模塊化特性的同時，將用戶友好性,、操作便利性以及安全操作性發(fā)揮得淋漓盡致,，這就是布魯克DAVINCI設(shè)計從微米到納米厚度的涂層或外延膜的樣品都受益,，用于評估晶體質(zhì)量、薄膜厚度,、成分外延排列和應(yīng)變松弛技術(shù),。江蘇原位分析XRD衍射儀銷售電話

制劑中微量API的晶型檢測引言藥物制劑生產(chǎn)過程中除需添加各種輔料外，往往還需要經(jīng)過溶解,、研磨,、干燥(溫度)、壓片等工藝過程,，在此過程中API的晶型有可能發(fā)生改變,，進(jìn)而可能影響到藥物的療效。國內(nèi)外FDA規(guī)定多晶型藥物在研制,、生產(chǎn),、貯存過程中必須保證其晶型的一致性，固體制劑中使用的晶型物質(zhì)應(yīng)該與API晶型一致,。因此藥物制劑中的晶型分析是非常重要的,。由于輔料的存在對藥物制劑中API的晶型分析增加了干擾，特別是API含量非常少的制劑樣品,，檢測更加困難,。XRPD是API晶型分析的有效手段之一，配合高性能的先進(jìn)檢測器,，為制劑中微量API的晶型檢測提供了有利工具,。浙江點陣參數(shù)精確測量XRD衍射儀用戶體驗總散射分析：Bragg衍射、對分布函數(shù)（PDF）,、小角X射線散射（SAXS）,。

當(dāng)石墨(002)衍射峰峰形對稱性很差時，如圖2,，樣品中可能含有多種不同石墨化度的組分存在(當(dāng)然,，也可能是由于非晶碳或無定形碳的存在。需要對衍射峰進(jìn)行分峰處理,，得到各個子峰的峰位和積分強(qiáng)度值,，如圖2所示。分別計算各子峰的石墨化度,，再利用各子峰的積分強(qiáng)度為權(quán)重,，歸一化樣品的石墨化度。圖2石墨實驗（藍(lán)色數(shù)據(jù)點）及分峰擬合圖譜（紅色：擬合圖譜,，兩綠色為單峰擬合結(jié)果）石墨及其復(fù)合材料具有高溫下不熔融,、導(dǎo)電導(dǎo)熱性能好以及化學(xué)穩(wěn)定性優(yōu)異等特點，應(yīng)用于冶金,、化工,、航空航天等行業(yè),。特別是近年來鋰電池的快速發(fā)展，進(jìn)一步加大了石墨材料的需求,。工業(yè)上常將碳原料經(jīng)過煅燒破碎,、焙燒、高溫石墨化處理來獲取高性能人造石墨材料,。石墨的質(zhì)量對電池的性能有很大影響,，石墨化度是一種從結(jié)構(gòu)上表征石墨質(zhì)量的方法之一。

薄膜和涂層分析采用的原理與XRPD相同,，不過進(jìn)一步提供了光束調(diào)節(jié)和角度控制功能,。典型示例包括但不限于相鑒定、晶體質(zhì)量,、殘余應(yīng)力,、織構(gòu)分析、厚度測定以及組分與應(yīng)變分析,。在對薄膜和涂層進(jìn)行分析時,，著重對厚度在nm和μm之間的層狀材料進(jìn)行特性分析（從非晶和多晶涂層到外延生長薄膜）。D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件可進(jìn)行以下高質(zhì)量的薄膜分析：掠入射衍射X射線反射法高分辨率X射線衍射倒易空間掃描由于具有出色的適應(yīng)能力,，使用D8ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進(jìn)行測量：從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物,。配備了UMC樣品臺的DISCOVER,，優(yōu)勢在于對大型機(jī)械零件殘余應(yīng)力和織構(gòu)分析以及殘余奧氏體或高溫合金表征。

D8DISCOVER是旗艦款多功能X射線衍射儀,，帶有諸多前沿技術(shù)組件,。它專為在環(huán)境條件下和非環(huán)境條件下，對從粉末,、非晶和多晶材料到外延多層薄膜等各種材料進(jìn)行結(jié)構(gòu)表征而設(shè)計,。應(yīng)用范圍：1.定性相分析和定量相分析、結(jié)構(gòu)測定和精修,、微應(yīng)變和微晶尺寸分析2.X射線反射法、掠入射衍射（GID）,、面內(nèi)衍射,、高分辨率XRD、GISAXS,、GI應(yīng)力分析,、晶體取向分析3.殘余應(yīng)力分析、織構(gòu)和極圖,、微區(qū)X射線衍射,、廣角X射線散射（WAXS）4.總散射分析：Bragg衍射、對分布函數(shù)（PDF）,、小角X射線散射（SAXS）UMCy樣品臺在樣品重量和大小方面具有獨特的承載能力,。廣東購買XRD衍射儀價格

在DIFFRAC.LEPTOS中，對多層樣品的薄膜厚度,、界面粗糙度和密度進(jìn)行XRR分析,。江蘇原位分析XRD衍射儀銷售電話

對分布函數(shù)分析對分布函數(shù)（PDF）分析是一種分析技術(shù)，它基于Bragg衍射以及漫散射（“總散射”）,，提供無序材料的結(jié)構(gòu)信息,。其中，您可以通過Bragg衍射峰,，了解材料的平均晶體結(jié)構(gòu)的信息（即長程有序）,，通過漫散射，表征其局部結(jié)構(gòu)（即短程有序）,。就分析速度,、數(shù)據(jù)質(zhì)量以及對非晶、弱晶型,、納米晶或納米結(jié)構(gòu)材料的分析結(jié)果而言,，D8ADVANCE和TOPAS軟件是目前市面上性能較好的PDF分析解決方案：相鑒定結(jié)構(gòu)測定和精修納米粒度和形狀。江蘇原位分析XRD衍射儀銷售電話

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