RuO2薄膜掠入射XRD-GID引言薄膜材料就是厚度介于一個(gè)納米到幾個(gè)微米之間的單層或者多層材料,。由于厚度比較薄,，薄膜材通常依附于一定的襯底材料之上。常規(guī)的XRD測試,，X射線的穿透深度一般在幾個(gè)微米到幾十個(gè)微米,，這遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于薄膜的厚度，導(dǎo)致薄膜的信號會受到襯底的影響（圖1）,。另外,，如果衍射簡單較高，那么X射線只能輻射到部分樣品,，無法利用整個(gè)樣品的體積,，衍射信號弱。薄膜掠入射衍射（GID：GrazingIncidenceX-RayDiffraction）很好的解絕了以上問題,。所謂掠入射是指使X射線以非常小小的入射角（＜5°）照射到薄膜上,，小的入射角大大減小了在薄膜中的穿透深度，同時(shí)增加衍射顆粒的數(shù)目和x射線在薄膜中的光程,。這里有兩點(diǎn)說明：GID需要硬件配置,；常規(guī)GID只適合多晶薄膜和非晶薄膜，不適合單晶外延膜,。LYNXEYE XE-T主要用于0D,、1D和2D數(shù)據(jù)采集，具有始終有效的出色能量鑒別能力,，同時(shí)不會損失二級單色器信號,。湖南全新XRD衍射儀批發(fā)價(jià)

XRD檢測聚合物結(jié)晶度測定引言聚合物的結(jié)晶度是與其物理性質(zhì)有很大關(guān)系的結(jié)構(gòu)參數(shù)。有時(shí),，可以通過評估結(jié)晶度來確定剛度不足，裂紋,，發(fā)白和其他缺陷的原因,。通常，測量結(jié)晶度的方法包括密度,，熱分析,，NMR,、IR以及XRD方法。這里將給出通過X射線衍射技術(shù)加全譜擬合法測定結(jié)晶度的方法的說明以及實(shí)例,。結(jié)晶度對于含有非晶態(tài)的聚合物,，其散射信號來源于兩部分：晶態(tài)的衍射峰和非晶態(tài)漫散峰。那么結(jié)晶度DOC則定義為晶態(tài)衍射峰面積與總散射信號面積的比值：湖南布魯克XRD衍射儀對較大300 mm的樣品進(jìn)行掃描,、安裝和掃描重量不超過5kg的樣品,、自動(dòng)化接口。

基于的D8衍射儀系列平臺的D8ADVANCE,，是所有X射線粉末衍射和散射應(yīng)用的理想之選,，如：典型的X射線粉末衍射（XRD）對分布函數(shù)（PDF）分析小角X射線散射（SAXS）和廣角X射線散射（WAXS）由于具有出色的適應(yīng)能力，使用D8ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進(jìn)行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物。無論是新手用戶還是**用戶,，都可簡單快捷,、不出錯(cuò)地對配置進(jìn)行更改。這都是通過布魯克獨(dú)特的DAVINCI設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的：配置儀器時(shí),，免工具,、免準(zhǔn)直，同時(shí)還受到自動(dòng)化的實(shí)時(shí)組件識別與驗(yàn)證的支持,。不止如此——布魯克提供基于NIST標(biāo)樣剛玉（SRM1976）的準(zhǔn)直保證,。目前，在峰位,、強(qiáng)度和分辨率方面,，市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE。

殘余應(yīng)力分析：：在DIFFRAC.LEPTOS中,，使用sin2psi法,，用Cr輻射進(jìn)行測量，對鋼構(gòu)件的殘余應(yīng)力進(jìn)行分析,。使用了2D檢測器的μXRD：使用DIFFRAC.EVA,測定小區(qū)域結(jié)構(gòu)特性,。通過積分2D圖像，進(jìn)行1D掃描,，來進(jìn)行定性相分析和微觀結(jié)構(gòu)分析,。定性相分析：候選材料鑒別（PMI）為常見，這是因?yàn)槠鋵υ咏Y(jié)構(gòu)十分靈敏,，而這無法通過元素分析技術(shù)實(shí)現(xiàn),。高通量篩選（HTS）:在DIFFRAC.EVA中，進(jìn)行半定量分析，以現(xiàn)實(shí)孔板上不同相的濃度,。非環(huán)境XRD：在DIFFRAC.WIZARD中配置溫度曲線并將其與測量同步,，然后可以在DIFFRAC.EVR中顯示結(jié)果。小角X射線散射（SAXS）：在DIFFRAC.SAXS中,，對EIGER2R500K通過2D模式手機(jī)的NISTSRM80119nm金納米顆粒進(jìn)行粒度分析,。UMCy樣品臺在樣品重量和大小方面具有獨(dú)特的承載能力。

薄膜和涂層分析采用的原理與XRPD相同,，不過進(jìn)一步提供了光束調(diào)節(jié)和角度控制功能,。典型示例包括但不限于相鑒定、晶體質(zhì)量,、殘余應(yīng)力,、織構(gòu)分析、厚度測定以及組分與應(yīng)變分析,。在對薄膜和涂層進(jìn)行分析時(shí),，著重對厚度在nm和μm之間的層狀材料進(jìn)行特性分析（從非晶和多晶涂層到外延生長薄膜）。D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件可進(jìn)行以下高質(zhì)量的薄膜分析：掠入射衍射X射線反射法高分辨率X射線衍射倒易空間掃描由于具有出色的適應(yīng)能力,，使用D8ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進(jìn)行測量：從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物,。使用DIFFRAC.EVA,測定小區(qū)域結(jié)構(gòu)特性,。通過積分2D圖像，進(jìn)行1D掃描,，來進(jìn)行定性相分析和微觀結(jié)構(gòu)分析,。廣東BRUKERXRD衍射儀

所有樣品臺都是DIFFRAC.DAVINCI概念的組成部分，因此元件及其電動(dòng)驅(qū)動(dòng)裝置可在安裝時(shí)自動(dòng)完成識別和配置,。湖南全新XRD衍射儀批發(fā)價(jià)

D8DISCOVER應(yīng)用范圍材料研究殘余應(yīng)力分析,、織構(gòu)和極圖、微區(qū)X射線衍射,、廣角X射線散射（WAXS）XRD可研究材料的結(jié)構(gòu)和物理特性,，是重要的材料研究工具之一。D8DISCOVER就是布魯克推出的,、用于材料研究的旗艦款XRD儀器,。D8DISCOVER配備了技術(shù)超過的組件，可為您帶來較好的性能和充分的靈活性,，同時(shí)讓研究人員對材料進(jìn)行細(xì)致入微的表征：定性相分析和結(jié)構(gòu)測定微米應(yīng)變和微晶尺寸分析應(yīng)力和織構(gòu)分析粒度和粒度分布測定使用微米大小的X射線束進(jìn)行局部XRD分析倒易空間掃描湖南全新XRD衍射儀批發(fā)價(jià)

束蘊(yùn)儀器（上海）有限公司是國內(nèi)一家多年來專注從事布魯克顯微CT1272,，布魯克XRD衍射儀D8，布魯克顯微CT2214,，布魯克XRD衍射儀D2的老牌企業(yè),。公司位于新橋鎮(zhèn)千帆路288弄G60科創(chuàng)云廊3號樓602-1室,，成立于2016-09-23,。公司的產(chǎn)品營銷網(wǎng)絡(luò)遍布國內(nèi)各大市場,。公司主要經(jīng)營布魯克顯微CT1272，布魯克XRD衍射儀D8,，布魯克顯微CT2214,，布魯克XRD衍射儀D2等產(chǎn)品，我們依托高素質(zhì)的技術(shù)人員和銷售隊(duì)伍,，本著誠信經(jīng)營,、理解客戶需求為經(jīng)營原則，公司通過良好的信譽(yù)和周到的售前,、售后服務(wù),，贏得用戶的信賴和支持。公司秉承以人為本,，科技創(chuàng)新,，市場先導(dǎo)，和諧共贏的理念,，建立一支由布魯克顯微CT1272,，布魯克XRD衍射儀D8，布魯克顯微CT2214,，布魯克XRD衍射儀D2**組成的顧問團(tuán)隊(duì),，由經(jīng)驗(yàn)豐富的技術(shù)人員組成的研發(fā)和應(yīng)用團(tuán)隊(duì)。束蘊(yùn)儀器（上海）有限公司以誠信為原則,，以安全,、便利為基礎(chǔ)，以優(yōu)惠價(jià)格為布魯克顯微CT1272,，布魯克XRD衍射儀D8,，布魯克顯微CT2214，布魯克XRD衍射儀D2的客戶提供貼心服務(wù),，努力贏得客戶的認(rèn)可和支持,，歡迎新老客戶來我們公司參觀。