X射線反射率測定引言X射線反射率（XRR：X-RayReflectivity）是一種表面表征技術(shù),，是利用X射線在不同物質(zhì)表面或界面的反射線之間的干涉現(xiàn)象分析薄膜或多層膜結(jié)構(gòu)的工具,。通過分析XRR圖譜(圖1)可以確定各層薄膜的密度、膜厚,、粗糙度等結(jié)構(gòu)參數(shù),。XRR的特點(diǎn)：1無損檢測2對樣品的結(jié)晶狀態(tài)沒有要求，不論是單晶膜,、多晶膜還是非晶膜均可以進(jìn)行測試3XRR適用于納米薄膜,，要求厚度小于500nm4晶面膜，表面粗糙度一般不超過5nm5多層膜之間要求有密度差所有樣品臺都是DIFFRAC.DAVINCI概念的組成部分,，因此元件及其電動驅(qū)動裝置可在安裝時自動完成識別和配置,。北京購買XRD衍射儀

布魯克獨(dú)有的DBO功能為X射線衍射的數(shù)據(jù)質(zhì)量樹立了全新的重要基準(zhǔn)。馬達(dá)驅(qū)動發(fā)散狹縫,、防散射屏和可變探測器窗口的自動同步功能,，可為您提供的數(shù)據(jù)質(zhì)量——尤其是在低2?角度時,。除此之外,，LYNXEYE全系列探測器均支持DBO：SSD160-2，LYNXEYE-2和LYNXEYEXE-T,。LYNXEYEXE-T是LYNXEYE系列探測器的旗艦產(chǎn)品,。它是目前市面上的一款可采集0D、1D和2D數(shù)據(jù)的能量色散探測器,，適用于所有波長（從Cr到Ag）,，具有準(zhǔn)確的計(jì)數(shù)率和角分辨率，是所有X射線衍射和散射應(yīng)用的理想選擇,。江蘇微觀應(yīng)變分析XRD衍射儀價格在DIFFRAC.LEPTOS中,，進(jìn)行晶片分析：分析晶片的層厚度和外延層濃度的均勻性。

薄膜和涂層分析采用的原理與XRPD相同,，不過進(jìn)一步提供了光束調(diào)節(jié)和角度控制功能,。典型示例包括但不限于相鑒定、晶體質(zhì)量,、殘余應(yīng)力,、織構(gòu)分析,、厚度測定以及組分與應(yīng)變分析。在對薄膜和涂層進(jìn)行分析時,，著重對厚度在nm和μm之間的層狀材料進(jìn)行特性分析（從非晶和多晶涂層到外延生長薄膜）,。D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件可進(jìn)行以下高質(zhì)量的薄膜分析：掠入射衍射X射線反射法高分辨率X射線衍射倒易空間掃描由于具有出色的適應(yīng)能力，使用D8ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進(jìn)行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物。

由于具有出色的適應(yīng)能力,，使用D8ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進(jìn)行測量：從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物,。無論是新手用戶還是**用戶,，都可簡單快捷、不出錯地對配置進(jìn)行更改,。這都是通過布魯克獨(dú)特的DAVINCI設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的：配置儀器時,，免工具、免準(zhǔn)直,，同時還受到自動化的實(shí)時組件識別與驗(yàn)證的支持,。布魯克提供基于NIST標(biāo)樣剛玉（SRM1976）的準(zhǔn)直保證。目前,，在峰位,、強(qiáng)度和分辨率方面，市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE,。在DIFFRAC.WIZARD中配置溫度曲線并將其與測量同不,，然后可以在DIFFRAC.EVA中顯示結(jié)果。

D2PHASER所具備的數(shù)據(jù)質(zhì)量和數(shù)據(jù)采集速度遠(yuǎn)超目前人們對臺式XRD系統(tǒng)的認(rèn)知,。緊湊輕便的外形和易于使用的設(shè)計(jì),，十分便于移動，您無需準(zhǔn)備復(fù)雜的基礎(chǔ)框架,、大而笨重的工作臺,，也無需供應(yīng)商前來安裝和調(diào)整，只需準(zhǔn)備標(biāo)準(zhǔn)的電源插座,，然后花費(fèi)幾分鐘的時間,，即可完成從拆包到獲得分析結(jié)果的過程。D2PHASERXE-T版D2PHASER配備了獨(dú)特的LYNXEYEXE-T探測器,，已然成為同類更好的選擇,！小于380eV的能量分辨率使其支持的數(shù)字單色器模式，可有效去除——不必要的輻射,，如樣品熒光,，Kβ輻射以及軔致輻射——背景散射,，而不會明顯降低檢測速度。這種X射線源可提供高亮度光束,，對mm大小的樣品研究,，或使用μm大小光束進(jìn)行微區(qū)X射線衍射研究的理想選擇。深圳購買XRD衍射儀共同合作

使用D8D,，您將能在原位循環(huán)條件下測試電池材料,，直截了當(dāng)?shù)孬@取不斷變化的儲能材料和晶體結(jié)構(gòu)和相位信息。北京購買XRD衍射儀

D8DISCOVER是旗艦款多功能X射線衍射儀,，帶有諸多前沿技術(shù)組件,。它專為在環(huán)境條件下和非環(huán)境條件下，對從粉末,、非晶和多晶材料到外延多層薄膜等各種材料進(jìn)行結(jié)構(gòu)表征而設(shè)計(jì),。應(yīng)用范圍：1.定性相分析和定量相分析、結(jié)構(gòu)測定和精修,、微應(yīng)變和微晶尺寸分析2.X射線反射法,、掠入射衍射（GID）、面內(nèi)衍射,、高分辨率XRD,、GISAXS、GI應(yīng)力分析,、晶體取向分析3.殘余應(yīng)力分析,、織構(gòu)和極圖、微區(qū)X射線衍射,、廣角X射線散射（WAXS）4.總散射分析：Bragg衍射,、對分布函數(shù)（PDF）、小角X射線散射（SAXS）北京購買XRD衍射儀

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