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深圳上海XRD衍射儀檢測

來源: 發(fā)布時(shí)間:2023-03-13

當(dāng)石墨(002)衍射峰峰形對(duì)稱性很差時(shí),,如圖2,,樣品中可能含有多種不同石墨化度的組分存在(當(dāng)然,也可能是由于非晶碳或無定形碳的存在,。需要對(duì)衍射峰進(jìn)行分峰處理,,得到各個(gè)子峰的峰位和積分強(qiáng)度值,如圖2所示,。分別計(jì)算各子峰的石墨化度,,再利用各子峰的積分強(qiáng)度為權(quán)重,歸一化樣品的石墨化度,。圖2石墨實(shí)驗(yàn)(藍(lán)色數(shù)據(jù)點(diǎn))及分峰擬合圖譜(紅色:擬合圖譜,,兩綠色為單峰擬合結(jié)果)石墨及其復(fù)合材料具有高溫下不熔融、導(dǎo)電導(dǎo)熱性能好以及化學(xué)穩(wěn)定性優(yōu)異等特點(diǎn),應(yīng)用于冶金,、化工、航空航天等行業(yè),。特別是近年來鋰電池的快速發(fā)展,,進(jìn)一步加大了石墨材料的需求。工業(yè)上常將碳原料經(jīng)過煅燒破碎,、焙燒,、高溫石墨化處理來獲取高性能人造石墨材料。石墨的質(zhì)量對(duì)電池的性能有很大影響,,石墨化度是一種從結(jié)構(gòu)上表征石墨質(zhì)量的方法之一,。從微米到納米厚度的涂層或外延膜的樣品都受益,用于評(píng)估晶體質(zhì)量,、薄膜厚度,、成分外延排列和應(yīng)變松弛技術(shù)。深圳上海XRD衍射儀檢測

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多層膜XRR引言X射線反射率(XRR:X-RayReflectivity)單層薄膜或多層膜中各層薄膜的密度,、膜厚,、粗糙度等結(jié)構(gòu)參數(shù)的有效無損檢測手段。由于具有出色的適應(yīng)能力,,使用D8ADVANCE,,您就可對(duì)所有類型的樣品進(jìn)行測量:從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物,。無論是新手用戶還是**用戶,,都可簡單快捷、不出錯(cuò)地對(duì)配置進(jìn)行更改,。這都是通過布魯克獨(dú)特的DAVINCI設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的:配置儀器時(shí),,免工具、免準(zhǔn)直,,同時(shí)還受到自動(dòng)化的實(shí)時(shí)組件識(shí)別與驗(yàn)證的支持,。不止如此——布魯克提供基于NIST標(biāo)樣剛玉(SRM1976)的準(zhǔn)直保證。目前,,在峰位,、強(qiáng)度和分辨率方面,市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE,。點(diǎn)陣參數(shù)精確測量XRD衍射儀價(jià)格在DIFFRAC.EVA中,,進(jìn)行半定量分析,以現(xiàn)實(shí)孔板上不同相的濃度,。

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獲得的TRIO光路簡化了D8ADVANCE的操作,,使之適用于多種應(yīng)用和樣品類型。為便于用戶使用,該系統(tǒng)提供了自動(dòng)化電動(dòng)切換功能,,可在多達(dá)6種不同的光束幾何之間進(jìn)行自動(dòng)切換,。系統(tǒng)無需人工干預(yù),即可在三個(gè)光路之間切換:用于粉末分析的Bragg-Brentano聚焦幾何用于毛細(xì)管,、GID和XRR的平行光束Kα1,2幾何用于外延薄膜的高分辨率平行光束Kα1幾何它非常適合在環(huán)境條件或非環(huán)境條件下對(duì)所有樣品類型進(jìn)行分析,,其中包括粉末、塊狀材料,、纖維,、片材和薄膜(非晶、多晶和外延),。

藥物制劑生產(chǎn)過程中除需添加各種輔料外,,往往還需要經(jīng)過溶解、研磨,、干燥(溫度),、壓片等工藝過程,在此過程中API的晶型有可能發(fā)生改變,,進(jìn)而可能影響到藥物的療效,。國內(nèi)外FDA規(guī)定多晶型藥物在研制、生產(chǎn),、貯存過程中必須保證其晶型的一致性,,固體制劑中使用的晶型物質(zhì)應(yīng)該與API晶型一致。因此藥物制劑中的晶型分析是非常重要的,。由于輔料的存在對(duì)藥物制劑中API的晶型分析增加了干擾,,特別是API含量非常少的制劑樣品,檢測更加困難,。XRPD是API晶型分析的有效手段之一,,配合高性能的先進(jìn)檢測器,為制劑中微量API的晶型檢測提供了有利工具,??装搴统练e樣品在反射和透射中的高通量篩選。

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淀粉結(jié)晶度測定引言淀粉結(jié)晶度是表征淀粉顆粒結(jié)晶性質(zhì)的一個(gè)重要參數(shù),,也是表征淀粉材料類產(chǎn)品性質(zhì)的重要參數(shù),,其大小直接影響著淀粉產(chǎn)品的應(yīng)用性能、淀粉材料的物理和機(jī)械性能,。X射線衍射法(XRD)加全譜擬合法測定淀粉顆粒結(jié)晶度常用的方法之一,。結(jié)晶度對(duì)于含有非晶態(tài)的聚合物,其散射信號(hào)來源于兩部分:晶態(tài)的衍射峰和非晶態(tài)漫散峰,。那么結(jié)晶度DOC則定義為晶態(tài)衍射峰面積與總散射信號(hào)面積的比值,。采用了開放式設(shè)計(jì)并具有不受約束的模塊化特性的同時(shí),將用戶友好性、操作便利性以及安全操作性發(fā)揮得淋漓盡致,,這就是布魯克DAVINCI設(shè)計(jì)在DIFFRAC.SAXS中,,對(duì)EIGER2 R 500K通過2D模式手機(jī)的NIST SRM 8011 9nm金納米顆粒進(jìn)行粒度分析。江蘇購買XRD衍射儀哪里好

在DIFFRAC.LEPTOS中,,進(jìn)行晶片分析:分析晶片的層厚度和外延層濃度的均勻性,。深圳上海XRD衍射儀檢測

對(duì)分布函數(shù)(PDF)分析是一種分析技術(shù),它基于Bragg以及漫散射(“總散射”),,提供無序材料的結(jié)構(gòu)信息。其中,,您可以通過Bragg衍射峰,,了解材料的平均晶體結(jié)構(gòu)的信息(即長程有序),通過漫散射,,表征其局部結(jié)構(gòu)(即短程有序),。就分析速度、數(shù)據(jù)質(zhì)量以及對(duì)非晶,、弱晶型,、納米晶或納米結(jié)構(gòu)材料的分析結(jié)果而言,D8ADVANCE和TOPAS軟件市面上性能好的PDF分析解決方案:相鑒定結(jié)構(gòu)測定和精修納米粒度和形狀,。由于具有出色的適應(yīng)能力,,使用D8ADVANCE,您就可對(duì)所有類型的樣品進(jìn)行測量:從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物,。無論是新手用戶還是**用戶,都可簡單快捷,、不出錯(cuò)地對(duì)配置進(jìn)行更改,。這都是通過布魯克獨(dú)特的DAVINCI設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的:配置儀器時(shí),免工具,、免準(zhǔn)直,,同時(shí)還受到自動(dòng)化的實(shí)時(shí)組件識(shí)別與驗(yàn)證的支持。深圳上海XRD衍射儀檢測

束蘊(yùn)儀器(上海)有限公司坐落于新橋鎮(zhèn)千帆路288弄G60科創(chuàng)云廊3號(hào)樓602-1室,,是集設(shè)計(jì),、開發(fā)、生產(chǎn),、銷售,、售后服務(wù)于一體,儀器儀表的貿(mào)易型企業(yè),。公司在行業(yè)內(nèi)發(fā)展多年,,持續(xù)為用戶提供整套布魯克顯微CT1272,布魯克XRD衍射儀D8,布魯克顯微CT2214,,布魯克XRD衍射儀D2的解決方案,。公司具有布魯克顯微CT1272,布魯克XRD衍射儀D8,,布魯克顯微CT2214,,布魯克XRD衍射儀D2等多種產(chǎn)品,根據(jù)客戶不同的需求,,提供不同類型的產(chǎn)品,。公司擁有一批熱情敬業(yè)、經(jīng)驗(yàn)豐富的服務(wù)團(tuán)隊(duì),,為客戶提供服務(wù),。依托成熟的產(chǎn)品資源和渠道資源,向全國生產(chǎn),、銷售布魯克顯微CT1272,,布魯克XRD衍射儀D8,布魯克顯微CT2214,,布魯克XRD衍射儀D2產(chǎn)品,,經(jīng)過多年的沉淀和發(fā)展已經(jīng)形成了科學(xué)的管理制度,、豐富的產(chǎn)品類型,。束蘊(yùn)儀器(上海)有限公司以先進(jìn)工藝為基礎(chǔ)、以產(chǎn)品質(zhì)量為根本,、以技術(shù)創(chuàng)新為動(dòng)力,,開發(fā)并推出多項(xiàng)具有競爭力的布魯克顯微CT1272,,布魯克XRD衍射儀D8,布魯克顯微CT2214,,布魯克XRD衍射儀D2產(chǎn)品,,確保了在布魯克顯微CT1272,布魯克XRD衍射儀D8,,布魯克顯微CT2214,,布魯克XRD衍射儀D2市場的優(yōu)勢。

標(biāo)簽: XRD衍射儀 顯微CT