當石墨(002)衍射峰峰形對稱性很差時，如圖2，樣品中可能含有多種不同石墨化度的組分存在(當然,，也可能是由于非晶碳或無定形碳的存在,。需要對衍射峰進行分峰處理，得到各個子峰的峰位和積分強度值，如圖2所示。分別計算各子峰的石墨化度，再利用各子峰的積分強度為權重,，歸一化樣品的石墨化度。圖2石墨實驗（藍色數據點）及分峰擬合圖譜（紅色：擬合圖譜,，兩綠色為單峰擬合結果）石墨及其復合材料具有高溫下不熔融,、導電導熱性能好以及化學穩(wěn)定性優(yōu)異等特點，應用于冶金,、化工,、航空航天等行業(yè)。特別是近年來鋰電池的快速發(fā)展,，進一步加大了石墨材料的需求,。工業(yè)上常將碳原料經過煅燒破碎、焙燒,、高溫石墨化處理來獲取高性能人造石墨材料,。石墨的質量對電池的性能有很大影響，石墨化度是一種從結構上表征石墨質量的方法之一,。在DIFFRAC.LEPTOS中,，對多層樣品的薄膜厚度、界面粗糙度和密度進行XRR分析,。珠海全新XRD衍射儀

所有維度都非常好的數據質量不論在何種應用場合,，它都是您的可選的探測器：高的計數率、動態(tài)范圍和能量分辨率,，峰位精度布魯克提供基于NIST標樣剛玉（SRM1976c）整個角度范圍內的準直保證,，面向未來的多用途采用了開放式設計并具有不受約束的模塊化特性的同時,，將用戶友好性、操作便利性以及安全操作性發(fā)揮得淋漓盡致,，這就是布魯克DAVINCI設計,，布魯克獲得的TWIN-TWIN光路設計極大地簡化了D8ADVANCE的操作，使之適用于多種應用和樣品類型,。為便于用戶使用,，該系統可在4種不同的光束幾何之間進行自動切換。該系統無需人工干預,，即可在Bragg-Brentano粉末衍射幾何和不良形狀的樣品,、涂層和薄膜的平行光束幾何以及它們之間進行切換，且無需人工干預,，是在環(huán)境下和非環(huán)境下對包括粉末、塊狀物體,、纖維,、片材和薄膜（非晶、多晶和外延）在內的所有類型的樣品進行分析的理想選擇,。安徽購買XRD衍射儀D8D和DIFFRAC.SUITE軟件將有助于您使用常見的XRD方法輕松進行薄膜分析：掠入射衍射,、X射線反射率測量。

蒙脫石散及雜質的鑒定引言蒙脫石散常見的用于用于成人及兒童急,、慢性腹瀉的藥物,。蒙脫石散的主要成分為層狀結構的粘土礦物蒙脫石。根據中國藥典,，蒙脫石散的鑒別和雜質含量的分析的主要手段為XRD,。不論在何種應用場合，它都是您的推薦探測器：高的計數率,、動態(tài)范圍和能量分辨率,。布魯克提供基于NIST標樣剛玉（SRM1976c）整個角度范圍內的準直保證。D8衍射儀系列平臺的D8ADVANCE,，是所有X射線粉末衍射和散射應用的理想之選,，如：典型的X射線粉末衍射（XRD）對分布函數（PDF）分析小角X射線散射（SAXS）和廣角X射線散射（WAXS）

D2PHASER—數據質量D2PHASER所具備的數據質量和數據采集速度遠超目前人們對臺式XRD系統的認知。得益于出色的分辨率,、低角度和低背景,，該儀器是從相識別、定量相分析到晶體結構分析的所有粉末衍射應用的理想解決方案,。不僅如此——只有布魯克AXS才能在整個角度范圍內,，保證實現儀器對準（精度等于或優(yōu)于±0.02°2θ）。加上遵循著嚴格的儀器驗證協議,，它可為所有應用提供準確數據,。由于具有出色的適應能力,，使用D8ADVANCE，您就可對所有類型的樣品進行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物,。定性相分析和定量相分析、結構測定和精修,、微應變和微晶尺寸分析,。

薄膜和涂層分析采用的原理與XRPD相同，不過進一步提供了光束調節(jié)和角度控制功能,。典型示例包括但不限于相鑒定,、晶體質量、殘余應力,、織構分析,、厚度測定以及組分與應變分析。在對薄膜和涂層進行分析時,，著重對厚度在nm和μm之間的層狀材料進行特性分析（從非晶和多晶涂層到外延生長薄膜）,。D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件可進行以下高質量的薄膜分析：掠入射衍射X射線反射法高分辨率X射線衍射倒易空間掃描由于具有出色的適應能力，使用D8ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物。涉及高通量篩選（HTS）和大區(qū)域掃描分析時,，D8 DISCOVER是較好解決方案,。北京進口XRD衍射儀

樣品臺的卡口座允許在測角儀上快速準確地更換整個樣品臺，較大限度地提高實驗靈活性,。珠海全新XRD衍射儀

RuO2薄膜掠入射XRD-GID引言薄膜材料就是厚度介于一個納米到幾個微米之間的單層或者多層材料,。由于厚度比較薄，薄膜材通常依附于一定的襯底材料之上,。常規(guī)的XRD測試,，X射線的穿透深度一般在幾個微米到幾十個微米，這遠遠大于薄膜的厚度,，導致薄膜的信號會受到襯底的影響（圖1）,。另外，如果衍射簡單較高,，那么X射線只能輻射到部分樣品,，無法利用整個樣品的體積，衍射信號弱,。薄膜掠入射衍射（GID：GrazingIncidenceX-RayDiffraction）很好的解絕了以上問題,。所謂掠入射是指使X射線以非常小小的入射角（＜5°）照射到薄膜上，小的入射角大大減小了在薄膜中的穿透深度,，同時增加衍射顆粒的數目和x射線在薄膜中的光程,。這里有兩點說明：GID需要硬件配置,；常規(guī)GID只適合多晶薄膜和非晶薄膜，不適合單晶外延膜,。珠海全新XRD衍射儀

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