D8DISCOVER是旗艦款多功能X射線衍射儀,，帶有諸多前沿技術(shù)組件,。它專為在環(huán)境條件下和非環(huán)境條件下,，對從粉末,、非晶和多晶材料到外延多層薄膜等各種材料進行結(jié)構(gòu)表征而設(shè)計,。應(yīng)用范圍：1.定性相分析和定量相分析,、結(jié)構(gòu)測定和精修,、微應(yīng)變和微晶尺寸分析2.X射線反射法,、掠入射衍射（GID）,、面內(nèi)衍射,、高分辨率XRD、GISAXS,、GI應(yīng)力分析,、晶體取向分析3.殘余應(yīng)力分析、織構(gòu)和極圖,、微區(qū)X射線衍射,、廣角X射線散射（WAXS）4.總散射分析：Bragg衍射、對分布函數(shù)（PDF）,、小角X射線散射（SAXS）更換光學期間時,，無需工具，亦無需對光,，因此您可輕松快速地更改配置,。天津檢測XRD衍射儀

X射線反射率測定引言X射線反射率（XRR：X-RayReflectivity）是一種表面表征技術(shù)，是利用X射線在不同物質(zhì)表面或界面的反射線之間的干涉現(xiàn)象分析薄膜或多層膜結(jié)構(gòu)的工具,。通過分析XRR圖譜(圖1)可以確定各層薄膜的密度,、膜厚、粗糙度等結(jié)構(gòu)參數(shù),。XRR的特點：1無損檢測2對樣品的結(jié)晶狀態(tài)沒有要求,，不論是單晶膜、多晶膜還是非晶膜均可以進行測試3XRR適用于納米薄膜,，要求厚度小于500nm4晶面膜,，表面粗糙度一般不超過5nm5多層膜之間要求有密度差天津檢測XRD衍射儀而有了UMC樣品臺的加持，D8 DISCOVER更是成為了電動位移和重量能力方面的同類較好,。

對于需要探索材料極限的工業(yè)金屬樣品,，通常需要進行殘余應(yīng)力和織構(gòu)測量。通過消除樣品表面的拉應(yīng)力或引起壓應(yīng)力,，可延長其功能壽命,。這可通過熱處理或噴丸處理等物理工藝來完成。構(gòu)成塊狀樣品的微晶的取向,，決定了裂紋的生長方式,。而通過在材料中形成特定的織構(gòu),，可顯著增強其特性。這兩種技術(shù)在優(yōu)化制造法（例如增材制造）領(lǐng)域也占有一席之地,。由于具有出色的適應(yīng)能力,，使用D8ADVANCE，您就可對所有類型的樣品進行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物,。

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蒙脫石散及雜質(zhì)的鑒定引言蒙脫石散常見的用于用于成人及兒童急、慢性腹瀉的藥物,。蒙脫石散的主要成分為層狀結(jié)構(gòu)的粘土礦物蒙脫石,。根據(jù)中國藥典，蒙脫石散的鑒別和雜質(zhì)含量的分析的主要手段為XRD,。不論在何種應(yīng)用場合,，它都是您的推薦探測器：高的計數(shù)率、動態(tài)范圍和能量分辨率,。布魯克提供基于NIST標樣剛玉（SRM1976c）整個角度范圍內(nèi)的準直保證,。D8衍射儀系列平臺的D8ADVANCE，是所有X射線粉末衍射和散射應(yīng)用的理想之選,，如：典型的X射線粉末衍射（XRD）對分布函數(shù)（PDF）分析小角X射線散射（SAXS）和廣角X射線散射（WAXS）UMCy樣品臺在樣品重量和大小方面具有獨特的承載能力,。廣州原位分析XRD衍射儀配件

候選材料鑒別（PMI） 為常見，這是因為對其原子結(jié)構(gòu)十分靈敏，而這無法通過元素分析技術(shù)實現(xiàn),。天津檢測XRD衍射儀

薄膜和涂層薄膜和涂層分析采用的原理與XRPD相同,，不過進一步提供了光束調(diào)節(jié)和角度控制功能。典型示例包括但不限于相鑒別,、晶體質(zhì)量,、殘余應(yīng)力、織構(gòu)分析,、厚度測定以及組分與應(yīng)變分析,。在對薄膜和涂層進行分析時，著重對厚度在nm和μm之間的層狀材料進行特性分析,，從非晶和多晶涂層到外延生長薄膜等,。D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件可進行以下高質(zhì)量的薄膜分析：掠入射衍射X射線反射高分辨率X射線衍射倒易空間掃描，由于具有出色的適應(yīng)能力,，使用D8ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物,。無論是新手用戶還是**用戶，都可簡單快捷,、不出錯地對配置進行更改,。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設(shè)計實現(xiàn)的：配置儀器時，免工具,、免準直,，同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持。不僅如此——布魯克提供基于NIST標樣剛玉（SRM1976）的準直保證,。目前,，在峰位、強度和分辨率方面,，市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE,。天津檢測XRD衍射儀

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