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江蘇物相定量分析XRD衍射儀

來源: 發(fā)布時(shí)間:2023-09-16

X射線粉末衍射(XRPD)技術(shù)是重要的材料表征工具之一,。粉末衍射圖中的許多信息,直接源于物相的原子排列,。在D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件的支持下,,您將能簡單地實(shí)施常見的XRPD方法:鑒別晶相和非晶相,并測定樣品純度對多相混合物的晶相和非晶相進(jìn)行定量分析微觀結(jié)構(gòu)分析(微晶尺寸,、微應(yīng)變,、無序…)熱處理或加工制造組件產(chǎn)生的大量殘余應(yīng)力織構(gòu)(擇優(yōu)取向)分析指標(biāo)化、從頭晶體結(jié)構(gòu)測定和晶體結(jié)構(gòu)精修,,由于具有出色的適應(yīng)能力,,使用D8ADVANCE,您就可對所有類型的樣品進(jìn)行測量:從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物,。更換光學(xué)期間時(shí),無需工具,亦無需對光,,因此您可輕松快速地更改配置,。江蘇物相定量分析XRD衍射儀

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薄膜和涂層分析采用的原理與XRPD相同,不過進(jìn)一步提供了光束調(diào)節(jié)和角度控制功能,。典型示例包括但不限于相鑒定、晶體質(zhì)量,、殘余應(yīng)力,、織構(gòu)分析、厚度測定以及組分與應(yīng)變分析,。在對薄膜和涂層進(jìn)行分析時(shí),,著重對厚度在nm和μm之間的層狀材料進(jìn)行特性分析(從非晶和多晶涂層到外延生長薄膜)。D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件可進(jìn)行以下高質(zhì)量的薄膜分析:掠入射衍射X射線反射法高分辨率X射線衍射倒易空間掃描,。由于具有出色的適應(yīng)能力,,使用D8ADVANCE,您就可對所有類型的樣品進(jìn)行測量:從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物,。無論是新手用戶還是**用戶,都可簡單快捷,、不出錯(cuò)地對配置進(jìn)行更改,。這都是通過布魯克獨(dú)特的DAVINCI設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的:配置儀器時(shí),免工具,、免準(zhǔn)直,,同時(shí)還受到自動(dòng)化的實(shí)時(shí)組件識(shí)別與驗(yàn)證的支持。珠海BRUKERXRD衍射儀配件安裝在標(biāo)準(zhǔn)陶瓷X射線管前面,,可多達(dá)6種不同的光束幾何之間自動(dòng)地進(jìn)行電動(dòng)切換,,無需認(rèn)為干預(yù)。

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獲得的TRIO光路簡化了D8ADVANCE的操作,,使之適用于多種應(yīng)用和樣品類型,。為便于用戶使用,該系統(tǒng)提供了自動(dòng)化電動(dòng)切換功能,,可在多達(dá)6種不同的光束幾何之間進(jìn)行自動(dòng)切換,。系統(tǒng)無需人工干預(yù),即可在三個(gè)光路之間切換:用于粉末分析的Bragg-Brentano聚焦幾何用于毛細(xì)管,、GID和XRR的平行光束Kα1,2幾何用于外延薄膜的高分辨率平行光束Kα1幾何它非常適合在環(huán)境條件或非環(huán)境條件下對所有樣品類型進(jìn)行分析,,其中包括粉末、塊狀材料,、纖維,、片材和薄膜(非晶、多晶和外延)。

D2PHASER所具備的數(shù)據(jù)質(zhì)量和數(shù)據(jù)采集速度遠(yuǎn)超目前人們對臺(tái)式XRD系統(tǒng)的認(rèn)知,。緊湊輕便的外形和易于使用的設(shè)計(jì),,十分便于移動(dòng),您無需準(zhǔn)備復(fù)雜的基礎(chǔ)框架,、大而笨重的工作臺(tái),,也無需供應(yīng)商前來安裝和調(diào)整,只需準(zhǔn)備標(biāo)準(zhǔn)的電源插座,,然后花費(fèi)幾分鐘的時(shí)間,,即可完成從拆包到獲得分析結(jié)果的過程。D2PHASERXE-T版D2PHASER配備了獨(dú)特的LYNXEYEXE-T探測器,,已然成為同類更好的選擇,!小于380eV的能量分辨率使其支持的數(shù)字單色器模式,可有效去除——不必要的輻射,,如樣品熒光,,Kβ輻射以及軔致輻射——背景散射,而不會(huì)明顯降低檢測速度,。D8D對地質(zhì)構(gòu)造研究,,借助μXRD,哪怕是很小的包裹體定性相分析和結(jié)構(gòu)測定都不在話下,。

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RuO2薄膜掠入射XRD-GID引言薄膜材料就是厚度介于一個(gè)納米到幾個(gè)微米之間的單層或者多層材料,。由于厚度比較薄,薄膜材通常依附于一定的襯底材料之上,。常規(guī)的XRD測試,,X射線的穿透深度一般在幾個(gè)微米到幾十個(gè)微米,這遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于薄膜的厚度,,導(dǎo)致薄膜的信號(hào)會(huì)受到襯底的影響(圖1),。另外,如果衍射簡單較高,,那么X射線只能輻射到部分樣品,,無法利用整個(gè)樣品的體積,衍射信號(hào)弱,。薄膜掠入射衍射(GID:GrazingIncidenceX-RayDiffraction)很好的解絕了以上問題,。所謂掠入射是指使X射線以非常小小的入射角(<5°)照射到薄膜上,小的入射角大大減小了在薄膜中的穿透深度,,同時(shí)增加衍射顆粒的數(shù)目和x射線在薄膜中的光程,。這里有兩點(diǎn)說明:GID需要硬件配置;常規(guī)GID只適合多晶薄膜和非晶薄膜,,不適合單晶外延膜,。D8 DISCOVER系列是市面上準(zhǔn)確,、功能強(qiáng)大和靈活的X射線衍射解決方案。重慶BRUKERXRD衍射儀

專為在環(huán)境條件下和非環(huán)境條件下,,對從粉末,、非晶和多晶材料到外延多層薄膜等各種材料進(jìn)行結(jié)構(gòu)表征而設(shè)計(jì)。江蘇物相定量分析XRD衍射儀

布魯克獨(dú)有的DBO功能為X射線衍射的數(shù)據(jù)質(zhì)量樹立了全新的重要基準(zhǔn),。馬達(dá)驅(qū)動(dòng)發(fā)散狹縫,、防散射屏和可變探測器窗口的自動(dòng)同步功能,可為您提供的數(shù)據(jù)質(zhì)量——尤其是在低2?角度時(shí),。除此之外,,LYNXEYE全系列探測器均支持DBO:SSD160-2,LYNXEYE-2和LYNXEYEXE-T,。LYNXEYEXE-T是LYNXEYE系列探測器的旗艦產(chǎn)品。它是目前市面上的一款可采集0D,、1D和2D數(shù)據(jù)的能量色散探測器,,適用于所有波長(從Cr到Ag),具有準(zhǔn)確的計(jì)數(shù)率和角分辨率,,是所有X射線衍射和散射應(yīng)用的理想選擇,。江蘇物相定量分析XRD衍射儀

標(biāo)簽: XRD衍射儀 顯微CT