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來源: 發(fā)布時間:2023-10-07

石墨化度分析引言石墨及其復(fù)合材料具有高溫下不熔融,、導(dǎo)電導(dǎo)熱性能好以及化學(xué)穩(wěn)定性優(yōu)異等特點(diǎn),,應(yīng)用于冶金,、化工,、航空航天等行業(yè),。特別是近年來鋰電池的快速發(fā)展,,進(jìn)一步加大了石墨材料的需求,。工業(yè)上常將碳原料經(jīng)過煅燒破碎,、焙燒、高溫石墨化處理來獲取高性能人造石墨材料,。石墨的質(zhì)量對電池的性能有很大影響,,石墨化度是一種從結(jié)構(gòu)上表征石墨質(zhì)量的方法之一。石墨化度碳原子形成密排六方石墨晶體結(jié)構(gòu)的程度,其晶格尺寸愈接近理想石墨的點(diǎn)陣參數(shù),石墨化度就愈高,。新結(jié)構(gòu)測定以及多晶篩選是藥物開發(fā)的關(guān)鍵步驟,,對此,,D8 DISCOVER具有高通量篩選功能。廣州上海XRD衍射儀配件

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D8ADVANCEECO是市面上環(huán)保的X射線衍射儀,,其應(yīng)用范圍,、數(shù)據(jù)質(zhì)量、靈活性和可升級性毫不打折扣,。D8ADVANCEECO是功能齊全的D8ADVANCE版本,,適用于所有X射線粉末衍射和散射應(yīng)用。與D8ADVANCE完全兼容,,它具有面向未來的所有靈活性,。面對新應(yīng)用,您隨時都能對它輕松完成升級,,從而適應(yīng)未來實(shí)驗(yàn)室可能出現(xiàn)的任何X射線衍射和散射應(yīng)用需求:相鑒定定量相分析微觀結(jié)構(gòu)分析結(jié)構(gòu)測定和精修殘余應(yīng)力織構(gòu)掠入射衍射(GID)X射線反射分析(XRR)小角X射線散射(SAXS)對分布函數(shù)(PDF)分析湖南全新XRD衍射儀配件殘余應(yīng)力分析,、織構(gòu)和極圖、微區(qū)X射線衍射,、廣角X射線散射(WAXS),。

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多層膜XRR引言X射線反射率(XRR:X-RayReflectivity)單層薄膜或多層膜中各層薄膜的密度、膜厚,、粗糙度等結(jié)構(gòu)參數(shù)的有效無損檢測手段,。由于具有出色的適應(yīng)能力,使用D8ADVANCE,,您就可對所有類型的樣品進(jìn)行測量:從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物,。無論是新手用戶還是**用戶,,都可簡單快捷、不出錯地對配置進(jìn)行更改,。這都是通過布魯克獨(dú)特的DAVINCI設(shè)計實(shí)現(xiàn)的:配置儀器時,,免工具、免準(zhǔn)直,,同時還受到自動化的實(shí)時組件識別與驗(yàn)證的支持,。不止如此——布魯克提供基于NIST標(biāo)樣剛玉(SRM1976)的準(zhǔn)直保證。目前,,在峰位,、強(qiáng)度和分辨率方面,市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE,。

獲得的TRIO光路簡化了D8ADVANCE的操作,,使之適用于多種應(yīng)用和樣品類型。為便于用戶使用,,該系統(tǒng)提供了自動化電動切換功能,,可在多達(dá)6種不同的光束幾何之間進(jìn)行自動切換,。系統(tǒng)無需人工干預(yù),即可在三個光路之間切換:用于粉末分析的Bragg-Brentano聚焦幾何用于毛細(xì)管,、GID和XRR的平行光束Kα1,2幾何用于外延薄膜的高分辨率平行光束Kα1幾何它非常適合在環(huán)境條件或非環(huán)境條件下對所有樣品類型進(jìn)行分析,,其中包括粉末、塊狀材料,、纖維,、片材和薄膜(非晶、多晶和外延),。支持全新技術(shù)進(jìn)行定制,,包括高性能X射線源、定制版光學(xué)器件,、定制版樣品臺和多模式探測器,。

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殘余應(yīng)力分析::在DIFFRAC.LEPTOS中,使用sin2psi法,,用Cr輻射進(jìn)行測量,,對鋼構(gòu)件的殘余應(yīng)力進(jìn)行分析。使用了2D檢測器的μXRD:使用DIFFRAC.EVA,測定小區(qū)域結(jié)構(gòu)特性,。通過積分2D圖像,,進(jìn)行1D掃描,來進(jìn)行定性相分析和微觀結(jié)構(gòu)分析,。定性相分析:候選材料鑒別(PMI)為常見,,這是因?yàn)槠鋵υ咏Y(jié)構(gòu)十分靈敏,而這無法通過元素分析技術(shù)實(shí)現(xiàn),。高通量篩選(HTS):在DIFFRAC.EVA中,,進(jìn)行半定量分析,以現(xiàn)實(shí)孔板上不同相的濃度,。非環(huán)境XRD:在DIFFRAC.WIZARD中配置溫度曲線并將其與測量同步,,然后可以在DIFFRAC.EVR中顯示結(jié)果。小角X射線散射(SAXS):在DIFFRAC.SAXS中,,對EIGER2R500K通過2D模式手機(jī)的NISTSRM80119nm金納米顆粒進(jìn)行粒度分析,。根據(jù)應(yīng)用需求,調(diào)節(jié)探測器的位置和方向,,包括0°/ 90°免工具切換以及探測器位置可連續(xù)變化,、支持自動對光。購買XRD衍射儀哪里好

無論面對何種應(yīng)用,,DIFFRAC.DAVINCI都會指引用戶選擇較好的儀器配置,。廣州上海XRD衍射儀配件

納米多層薄膜物相隨深度變化引言掠入射X射線衍射(GID)是表征薄膜材料的有效手段。通過控制不同的入射角度,,進(jìn)而控制X射線在薄膜中的穿透深度,,可以確定薄膜材料的結(jié)構(gòu)隨深度變化的信息,。實(shí)例45nmNiO/355nmSnO2/玻璃薄膜的GID測試由于具有出色的適應(yīng)能力,使用D8ADVANCE,,您就可對所有類型的樣品進(jìn)行測量:從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物。無論是新手用戶還是**用戶,,都可簡單快捷,、不出錯地對配置進(jìn)行更改。這都是通過布魯克獨(dú)特的DAVINCI設(shè)計實(shí)現(xiàn)的:配置儀器時,,免工具,、免準(zhǔn)直,同時還受到自動化的實(shí)時組件識別與驗(yàn)證的支持,。不只如此——布魯克提供基于NIST標(biāo)樣剛玉(SRM1976)的準(zhǔn)直保證,。目前,在峰位,、強(qiáng)度和分辨率方面,,市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE。廣州上海XRD衍射儀配件

標(biāo)簽: XRD衍射儀 顯微CT