波特蘭水泥熟料礦相定量分析引言水泥和熟料的物理化學(xué)性能,，比如凝結(jié)性能和強(qiáng)度變化等,，不光是由化學(xué)組成所決定的，而主要是由其礦物組成所決定的,。傳統(tǒng)的熟料物相分析采用BOGUE計(jì)算方法或熟料顯微鏡分析方法,。這些方法的缺點(diǎn)是眾所周知的。目前有效的熟料礦相定量分析方法是XRD與Rietveld分析方法的結(jié)合,?？梢源_定孰料中的C3S、C2S,、C3A,、C4AF等主要礦相的含量，還可以得到C3S,、C2S,、C3A等礦相多晶型含量以及游離鈣等微量相的含量。憑借RapidRSM技術(shù),，能在 短的時(shí)間內(nèi),，測(cè)量大面積倒易空間。在DIFFRAC.LEPTOS中,，進(jìn)行倒易點(diǎn)陣轉(zhuǎn)換和分析,。浙江XRD衍射儀推薦咨詢(xún)

EIGER2R具有多模式功能（0D-1D-2D、快照和掃描模式）,，覆蓋了從粉末研究到材料研究的多種測(cè)量方法,。EIGER2并非傳統(tǒng)意義上的萬(wàn)金油，而是所有分析應(yīng)用領(lǐng)域的專(zhuān)業(yè)用戶(hù),。其可實(shí)現(xiàn)無(wú)吸收測(cè)量的動(dòng)態(tài)范圍,、用于超快粉末測(cè)量和快速倒易空間掃描的1D大尺寸以及超過(guò)500k像素的2D大覆蓋范圍，都為多模式探測(cè)器樹(shù)立了新標(biāo)準(zhǔn),。EIGER2采用了DECTRIS公司研發(fā)的光束探測(cè)器技術(shù),，整合了布魯克的軟件和硬件，可為您帶來(lái)無(wú)縫易用的解決方案。由于具有出色的適應(yīng)能力,，使用D8ADVANCE,，您就可對(duì)所有類(lèi)型的樣品進(jìn)行測(cè)量：從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物,。蘇州二維衍射儀檢測(cè)分析支持全新技術(shù)進(jìn)行定制,，包括高性能X射線(xiàn)源、定制版光學(xué)器件,、定制版樣品臺(tái)和多模式探測(cè)器,。

由于具有出色的適應(yīng)能力，*使用D8ADVANCE,，您就可對(duì)所有類(lèi)型的樣品進(jìn)行測(cè)量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物。無(wú)論是新手用戶(hù)還是專(zhuān)業(yè)用戶(hù),，都可簡(jiǎn)單快捷,、不出錯(cuò)地對(duì)配置進(jìn)行更改。這都是通過(guò)布魯克獨(dú)特的DAVINCI設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的：配置儀器時(shí),，免工具,、免準(zhǔn)直，同時(shí)還受到自動(dòng)化的實(shí)時(shí)組件識(shí)別與驗(yàn)證的支持,。不僅如此——布魯克***提供基于NIST標(biāo)樣剛玉（SRM1976）的準(zhǔn)直保證,。目前，在峰位,、強(qiáng)度和分辨率方面,，市面上尚無(wú)其他粉末衍射儀的精度超過(guò)D8ADVANCE。

X射線(xiàn)反射率測(cè)定引言X射線(xiàn)反射率（XRR：X-RayReflectivity）是一種表面表征技術(shù),，是利用X射線(xiàn)在不同物質(zhì)表面或界面的反射線(xiàn)之間的干涉現(xiàn)象分析薄膜或多層膜結(jié)構(gòu)的工具,。通過(guò)分析XRR圖譜(圖1)可以確定各層薄膜的密度、膜厚,、粗糙度等結(jié)構(gòu)參數(shù),。XRR的特點(diǎn)：1無(wú)損檢測(cè)2對(duì)樣品的結(jié)晶狀態(tài)沒(méi)有要求，不論是單晶膜,、多晶膜還是非晶膜均可以進(jìn)行測(cè)試3XRR適用于納米薄膜,，要求厚度小于500nm4晶面膜，表面粗糙度一般不超過(guò)5nm5多層膜之間要求有密度差安裝在標(biāo)準(zhǔn)陶瓷X射線(xiàn)管前面,，可多達(dá)6種不同的光束幾何之間自動(dòng)地進(jìn)行電動(dòng)切換,，無(wú)需認(rèn)為干預(yù)。

納米多層薄膜物相隨深度變化引言掠入射X射線(xiàn)衍射（GID）是表征薄膜材料的有效手段,。通過(guò)控制不同的入射角度,，進(jìn)而控制X射線(xiàn)在薄膜中的穿透深度,，可以確定薄膜材料的結(jié)構(gòu)隨深度變化的信息。實(shí)例45nmNiO/355nmSnO2/玻璃薄膜的GID測(cè)試由于具有出色的適應(yīng)能力,，使用D8ADVANCE,，您就可對(duì)所有類(lèi)型的樣品進(jìn)行測(cè)量：從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物,。無(wú)論是新手用戶(hù)還是專(zhuān)業(yè)用戶(hù),，都可簡(jiǎn)單快捷、不出錯(cuò)地對(duì)配置進(jìn)行更改,。這都是通過(guò)布魯克獨(dú)特的DAVINCI設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的：配置儀器時(shí),，免工具、免準(zhǔn)直,，同時(shí)還受到自動(dòng)化的實(shí)時(shí)組件識(shí)別與驗(yàn)證的支持。不只如此——布魯克提供基于NIST標(biāo)樣剛玉（SRM1976）的準(zhǔn)直保證,。目前,，在峰位、強(qiáng)度和分辨率方面,，市面上尚無(wú)其他粉末衍射儀的精度超過(guò)D8ADVANCE,。在DIFFRAC.LEPTOS中，對(duì)多層樣品的薄膜厚度,、界面粗糙度和密度進(jìn)行XRR分析,。遼寧XRD衍射儀推薦咨詢(xún)

定性相分析和結(jié)構(gòu)測(cè)定 微米應(yīng)變和微晶尺寸分析 應(yīng)力和織構(gòu)分析 粒度和粒度分布測(cè)定 微米大小X射線(xiàn)束局部分析。浙江XRD衍射儀推薦咨詢(xún)

D2PHASER—數(shù)據(jù)質(zhì)量D2PHASER所具備的數(shù)據(jù)質(zhì)量和數(shù)據(jù)采集速度遠(yuǎn)超目前人們對(duì)臺(tái)式XRD系統(tǒng)的認(rèn)知,。得益于出色的分辨率,、低角度和低背景，該儀器是從相識(shí)別,、定量相分析到晶體結(jié)構(gòu)分析的所有粉末衍射應(yīng)用的理想解決方案,。不僅如此——只有布魯克AXS才能在整個(gè)角度范圍內(nèi)，保證實(shí)現(xiàn)儀器對(duì)準(zhǔn)（精度等于或優(yōu)于±0.02°2θ）,。加上遵循著嚴(yán)格的儀器驗(yàn)證協(xié)議,，它可為所有應(yīng)用提供準(zhǔn)確數(shù)據(jù)。由于具有出色的適應(yīng)能力,，使用D8ADVANCE,，您就可對(duì)所有類(lèi)型的樣品進(jìn)行測(cè)量：從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物,。浙江XRD衍射儀推薦咨詢(xún)