石墨化度分析引言石墨及其復(fù)合材料具有高溫下不熔融,、導(dǎo)電導(dǎo)熱性能好以及化學(xué)穩(wěn)定性優(yōu)異等特點(diǎn),，應(yīng)用于冶金,、化工,、航空航天等行業(yè)。特別是近年來鋰電池的快速發(fā)展,，進(jìn)一步加大了石墨材料的需求,。工業(yè)上常將碳原料經(jīng)過煅燒破碎、焙燒,、高溫石墨化處理來獲取高性能人造石墨材料,。石墨的質(zhì)量對電池的性能有很大影響，石墨化度是一種從結(jié)構(gòu)上表征石墨質(zhì)量的方法之一,。石墨化度碳原子形成密排六方石墨晶體結(jié)構(gòu)的程度,其晶格尺寸愈接近理想石墨的點(diǎn)陣參數(shù),石墨化度就愈高,。新結(jié)構(gòu)測定以及多晶篩選是藥物開發(fā)的關(guān)鍵步驟，對此,，D8 DISCOVER具有高通量篩選功能,。江西原位分析XRD衍射儀哪里好

X射線粉末衍射（XRPD）技術(shù)是重要的材料表征工具之一。粉末衍射圖中的許多信息,，直接源于物相的原子排列,。在D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件的支持下，您將能簡單地實(shí)施常見的XRPD方法：鑒別晶相和非晶相,，并測定樣品純度對多相混合物的晶相和非晶相進(jìn)行定量分析微觀結(jié)構(gòu)分析（微晶尺寸,、微應(yīng)變、無序…）熱處理或加工制造組件產(chǎn)生的大量殘余應(yīng)力織構(gòu)（擇優(yōu)取向）分析指標(biāo)化,、從頭晶體結(jié)構(gòu)測定和晶體結(jié)構(gòu)精修,，由于具有出色的適應(yīng)能力，使用D8ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進(jìn)行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物。湖南布魯克XRD衍射儀檢測根據(jù)應(yīng)用需求,，調(diào)節(jié)探測器的位置和方向,，包括0°/ 90°免工具切換以及探測器位置可連續(xù)變化、支持自動對光,。

API多晶型分析引言2015版藥典附錄新增“9105多晶型藥品的質(zhì)量控制技術(shù)和方法指導(dǎo)原則”：指出固體藥物及其制劑中粗在多晶型現(xiàn)象隨時(shí),，應(yīng)使用“優(yōu)勢藥物晶型物質(zhì)狀態(tài)“為藥物原料及其制劑晶型，以保證藥品臨床有效性,、安全性與質(zhì)量可控性,。說明目前藥物行業(yè)對晶型的重視。晶型,，特別是API晶型對藥物的功能有直接關(guān)心,，同一API的不同晶型在溶解度、熔點(diǎn),、溶出度,、生物有效性等方便可能會有不同。而表征API晶型的有效手段之一就是XRPD,。

薄膜和涂層薄膜和涂層分析采用的原理與XRPD相同,，不過進(jìn)一步提供了光束調(diào)節(jié)和角度控制功能。典型示例包括但不限于相鑒別,、晶體質(zhì)量,、殘余應(yīng)力、織構(gòu)分析,、厚度測定以及組分與應(yīng)變分析,。在對薄膜和涂層進(jìn)行分析時(shí),，著重對厚度在nm和μm之間的層狀材料進(jìn)行特性分析，從非晶和多晶涂層到外延生長薄膜等,。D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件可進(jìn)行以下高質(zhì)量的薄膜分析：掠入射衍射X射線反射高分辨率X射線衍射倒易空間掃描,，由于具有出色的適應(yīng)能力，使用D8ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進(jìn)行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,，都可簡單快捷,、不出錯地對配置進(jìn)行更改。這都是通過布魯克獨(dú)特的DAVINCI設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的：配置儀器時(shí),，免工具,、免準(zhǔn)直，同時(shí)還受到自動化的實(shí)時(shí)組件識別與驗(yàn)證的支持,。不僅如此——布魯克提供基于NIST標(biāo)樣剛玉（SRM1976）的準(zhǔn)直保證,。目前，在峰位,、強(qiáng)度和分辨率方面,，市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE?？偵⑸浞治觯築ragg衍射,、對分布函數(shù)（PDF）、小角X射線散射（SAXS）,。

介孔分子篩SBA-15結(jié)構(gòu)分析引言介孔分子篩SBA-15具有大晶胞的二維六方孔狀結(jié)構(gòu),，具有更大的孔徑、更厚的孔壁和更高的孔容,，而且具有更好的水熱穩(wěn)定性,，有利于它在溫度較高、體系中有水的反應(yīng)中應(yīng)用,，因此在催化,、分離、生物及納米材料等領(lǐng)域有應(yīng)用前景,。SBA-15結(jié)構(gòu)特穩(wěn)定性和其孔徑大小與性能有較大關(guān)聯(lián),，而XRD是表征其結(jié)構(gòu)的有效方法之一。由于SBA-15的晶胞較大,，其衍射峰往往出現(xiàn)在非常低的角度,，這導(dǎo)致很難從直射光和空氣散射中區(qū)分其衍射信號。目前，隨著衍射儀的發(fā)展,，動態(tài)光路對的設(shè)計(jì)很好的解決了這類問題,。實(shí)例SBA-15小角度XRD圖譜，五個衍射峰分別對應(yīng)(100),、(110),、(200)、(300),、(220)。根據(jù)圖2示意圖,，計(jì)算得到平均孔距全能運(yùn)動概念確保當(dāng)樣品在移動時(shí),，感興趣區(qū)域始終在測角儀中心，從φ旋轉(zhuǎn)到XYZ平移和ψ傾斜,，有5個自由度,。杭州織構(gòu)檢測分析

卡口安裝式Eulerian托架可支持多種應(yīng)用，如應(yīng)力,、織構(gòu)和外延膜分析,，包括在非環(huán)境條件下。江西原位分析XRD衍射儀哪里好

XRD檢測納米二氧化鈦晶粒尺寸引言納米材料的性能往往和其晶粒大小有關(guān),，而X射線衍射是測定納米材料晶尺寸的有效方法之一,。晶粒尺寸Dhkl(可理解為一個完整小單晶的大小)可通過謝樂公示計(jì)算Dhkl：晶粒尺寸，垂直于晶面hkl方向β:hkl晶面的半高寬（或展寬）θ：hkl晶面的bragg角度λ：入射X光的波長,，一般Cu靶為1.54埃K：常數(shù)（晶粒近似為球形,，K=0.89；其他K=1）ADVANCE采用了開放式設(shè)計(jì)并具有不受約束的模塊化特性的同時(shí),，將用戶友好性,、操作便利性以及安全操作性發(fā)揮得淋漓盡致，這就是布魯克DAVINCI設(shè)計(jì)江西原位分析XRD衍射儀哪里好