二氧化鋯多晶型分析引言二氧化鋯化學(xué)性質(zhì)不活潑，且具有高熔點(diǎn),、高電阻率,、高折射率和低熱膨脹系數(shù)等獨(dú)特的物理化學(xué)性質(zhì),，使它成為重要的耐高溫材料,、陶瓷絕緣材料和陶瓷遮光劑,。其結(jié)構(gòu)主要有三種晶型：單斜相,、四方相以及立方相,。不同晶體結(jié)構(gòu)對應(yīng)的物理化學(xué)性質(zhì)有較大區(qū)別,，X射線衍射是區(qū)分二氧化鋯晶型的主要手段之一,。同時(shí)利用先進(jìn)的Rietveld方法可對二氧化鋯多晶型樣品進(jìn)行快速定量分析。實(shí)例二氧化鋯多晶型定性分析左插圖：微量的二氧化鋯單斜相右插圖：二氧化鋯四方相和立方相區(qū)分明顯定性相分析和結(jié)構(gòu)測定 微米應(yīng)變和微晶尺寸分析 應(yīng)力和織構(gòu)分析 粒度和粒度分布測定 微米大小X射線束局部分析,。量子阱

布魯克獨(dú)有的DBO功能為X射線衍射的數(shù)據(jù)質(zhì)量樹立了全新的重要基準(zhǔn),。馬達(dá)驅(qū)動(dòng)發(fā)散狹縫、防散射屏和可變探測器窗口的自動(dòng)同步功能,，可為您提供的數(shù)據(jù)質(zhì)量——尤其是在低2?角度時(shí),。除此之外，LYNXEYE全系列探測器均支持DBO：SSD160-2,，LYNXEYE-2和LYNXEYEXE-T,。LYNXEYEXE-T是LYNXEYE系列探測器的旗艦產(chǎn)品。它是目前市面上的一款可采集0D,、1D和2D數(shù)據(jù)的能量色散探測器,，適用于所有波長（從Cr到Ag），具有準(zhǔn)確的計(jì)數(shù)率和角分辨率,，是所有X射線衍射和散射應(yīng)用的理想選擇,。量子阱從過程開發(fā)到質(zhì)量控制，D8 DISCOVER可以對亞毫米至300mm大小的樣品進(jìn)行結(jié)構(gòu)表征,。

RuO2薄膜掠入射XRD-GID引言薄膜材料就是厚度介于一個(gè)納米到幾個(gè)微米之間的單層或者多層材料,。由于厚度比較薄，薄膜材通常依附于一定的襯底材料之上,。常規(guī)的XRD測試,，X射線的穿透深度一般在幾個(gè)微米到幾十個(gè)微米，這遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于薄膜的厚度,，導(dǎo)致薄膜的信號(hào)會(huì)受到襯底的影響（圖1）,。另外，如果衍射簡單較高,，那么X射線只能輻射到部分樣品,，無法利用整個(gè)樣品的體積，衍射信號(hào)弱,。薄膜掠入射衍射（GID：GrazingIncidenceX-RayDiffraction）很好的解絕了以上問題,。所謂掠入射是指使X射線以非常小小的入射角（＜5°）照射到薄膜上，小的入射角大大減小了在薄膜中的穿透深度,，同時(shí)增加衍射顆粒的數(shù)目和x射線在薄膜中的光程,。這里有兩點(diǎn)說明：GID需要硬件配置；常規(guī)GID只適合多晶薄膜和非晶薄膜，不適合單晶外延膜,。

D2PHASER所具備的數(shù)據(jù)質(zhì)量和數(shù)據(jù)采集速度遠(yuǎn)超目前人們對臺(tái)式XRD系統(tǒng)的認(rèn)知,。緊湊輕便的外形和易于使用的設(shè)計(jì)，十分便于移動(dòng),，您無需準(zhǔn)備復(fù)雜的基礎(chǔ)框架,、大而笨重的工作臺(tái)，也無需供應(yīng)商前來安裝和調(diào)整,，只需準(zhǔn)備標(biāo)準(zhǔn)的電源插座,，然后花費(fèi)幾分鐘的時(shí)間，即可完成從拆包到獲得分析結(jié)果的過程,。D2PHASERXE-T版D2PHASER配備了獨(dú)特的LYNXEYEXE-T探測器,，已然成為同類更好的選擇！小于380eV的能量分辨率使其支持的數(shù)字單色器模式,，可有效去除——不必要的輻射,，如樣品熒光，Kβ輻射以及軔致輻射——背景散射,，而不會(huì)明顯降低檢測速度,。在DIFFRAC.TEXTURE中，使用球諧函數(shù)和分量方法,，生成極圖,、取向分布函數(shù)（ODF）和體積定量分析。

D8ADVANCEECO是一款功能齊全的D8ADVANCE衍射儀的經(jīng)濟(jì)型版本,，是D8衍射儀系列平臺(tái)的入門款,。隨著采購和維護(hù)X射線分析的資源愈發(fā)有限，人們對準(zhǔn)確性,、精度和速度的要求也達(dá)到了前所未有的高度,。D8ADVANCEECO即理想的解決方案：較小的生態(tài)足跡、易用性和出色的分析性能是其突出的特點(diǎn),。得益于精簡的儀器配置,，不論預(yù)算如何,，它都是您的理想之選,。與D8ADVANCE系列其他產(chǎn)品一樣，D8ADVANCEECO覆蓋所有X射線粉末衍射和散射應(yīng)用,，包括典型的X射線粉末衍射（XRD）對分布函數(shù)（PDF）分析小角X射線散射（SAXS）和廣角X射線散射（WAXS）環(huán)境條件下和非環(huán)境條件下,。在DIFFRAC.EVA中，對塑料薄膜進(jìn)行WAXS測量分析,。然后塑料纖維的擇優(yōu)取向便顯而易見了,。廣州進(jìn)口XRD衍射儀推薦咨詢

D8測角儀巨有市場超前地精確度，為布魯克獨(dú)有的準(zhǔn)直保證奠定了基礎(chǔ)。量子阱

薄膜和涂層薄膜和涂層分析采用的原理與XRPD相同,，不過進(jìn)一步提供了光束調(diào)節(jié)和角度控制功能,。典型示例包括但不限于相鑒別、晶體質(zhì)量,、殘余應(yīng)力,、織構(gòu)分析、厚度測定以及組分與應(yīng)變分析,。在對薄膜和涂層進(jìn)行分析時(shí),，著重對厚度在nm和μm之間的層狀材料進(jìn)行特性分析，從非晶和多晶涂層到外延生長薄膜等,。D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件可進(jìn)行以下高質(zhì)量的薄膜分析：掠入射衍射X射線反射高分辨率X射線衍射倒易空間掃描,，由于具有出色的適應(yīng)能力，使用D8ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進(jìn)行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,，都可簡單快捷,、不出錯(cuò)地對配置進(jìn)行更改。這都是通過布魯克獨(dú)特的DAVINCI設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的：配置儀器時(shí),，免工具,、免準(zhǔn)直，同時(shí)還受到自動(dòng)化的實(shí)時(shí)組件識(shí)別與驗(yàn)證的支持,。不僅如此——布魯克提供基于NIST標(biāo)樣剛玉（SRM1976）的準(zhǔn)直保證,。目前，在峰位,、強(qiáng)度和分辨率方面,，市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE。量子阱