介孔分子篩SBA-15結(jié)構(gòu)分析引言介孔分子篩SBA-15具有大晶胞的二維六方孔狀結(jié)構(gòu),，具有更大的孔徑,、更厚的孔壁和更高的孔容，而且具有更好的水熱穩(wěn)定性,，有利于它在溫度較高,、體系中有水的反應(yīng)中應(yīng)用，因此在催化,、分離,、生物及納米材料等領(lǐng)域有應(yīng)用前景。SBA-15結(jié)構(gòu)特穩(wěn)定性和其孔徑大小與性能有較大關(guān)聯(lián),，而XRD是表征其結(jié)構(gòu)的有效方法之一,。由于SBA-15的晶胞較大，其衍射峰往往出現(xiàn)在非常低的角度,，這導(dǎo)致很難從直射光和空氣散射中區(qū)分其衍射信號,。目前，隨著衍射儀的發(fā)展,，動態(tài)光路對的設(shè)計很好的解決了這類問題,。實例SBA-15小角度XRD圖譜，五個衍射峰分別對應(yīng)(100),、(110),、(200)、(300),、(220),。根據(jù)圖2示意圖，計算得到平均孔距使用DIFFRAC.EVA,測定小區(qū)域結(jié)構(gòu)特性,。通過積分2D圖像,，進行1D掃描，來進行定性相分析和微觀結(jié)構(gòu)分析,。四川BRUKERXRD衍射儀

EIGER2R具有多模式功能（0D-1D-2D,、快照和掃描模式）,，覆蓋了從粉末研究到材料研究的多種測量方法。EIGER2并非傳統(tǒng)意義上的萬金油,，而是所有分析應(yīng)用領(lǐng)域的專業(yè)用戶,。其可實現(xiàn)無吸收測量的動態(tài)范圍、用于超快粉末測量和快速倒易空間掃描的1D大尺寸以及超過500k像素的2D大覆蓋范圍,，都為多模式探測器樹立了新標準,。EIGER2采用了DECTRIS公司研發(fā)的光束探測器技術(shù)，整合了布魯克的軟件和硬件,，可為您帶來無縫易用的解決方案,。由于具有出色的適應(yīng)能力，使用D8ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物。四川BRUKERXRD衍射儀全能運動概念確保當樣品在移動時,，感興趣區(qū)域始終在測角儀中心,，從φ旋轉(zhuǎn)到XYZ平移和ψ傾斜，有5個自由度,。

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薄膜和涂層分析采用的原理與XRPD相同，不過進一步提供了光束調(diào)節(jié)和角度控制功能,。典型示例包括但不限于相鑒定,、晶體質(zhì)量、殘余應(yīng)力,、織構(gòu)分析,、厚度測定以及組分與應(yīng)變分析,。在對薄膜和涂層進行分析時，著重對厚度在nm和μm之間的層狀材料進行特性分析（從非晶和多晶涂層到外延生長薄膜）,。D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件可進行以下高質(zhì)量的薄膜分析：掠入射衍射X射線反射法高分辨率X射線衍射倒易空間掃描由于具有出色的適應(yīng)能力,，使用D8ADVANCE，您就可對所有類型的樣品進行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物,。UMCy樣品臺在樣品重量和大小方面具有獨特的承載能力。

D8DISCOVER特點：微焦源IμS配備了MONTEL光學(xué)器件的IμS微焦源可提供小X射線束,，非常適合小范圍或小樣品的研究,。1.毫米大小的光束：高亮度和很低背景2.綠色環(huán)保設(shè)計：低功耗、無耗水,、使用壽命延長3.MONTEL光學(xué)器件可優(yōu)化光束形狀和發(fā)散度4.與布魯克大量組件,、光學(xué)器件和探測器完全兼容。5.提供各種技術(shù)前列的全集成X射線源,，用于產(chǎn)生X射線。6.工業(yè)級金屬陶瓷密封管,，可實現(xiàn)線焦斑或點焦斑,。7.專業(yè)的TWIST-TUBE（旋轉(zhuǎn)光管）技術(shù)，可快速簡便地切換線焦斑和點焦斑,。8.微焦斑X射線源（IμS）可提高極小焦斑面積上的X射線通量,，而功耗卻很低。9.TURBOX射線源（TXS）旋轉(zhuǎn)陽極可為線焦斑,、點焦斑和微焦斑等應(yīng)用提供比較高X射線通量,。10.性液態(tài)金屬靶METALJET技術(shù)，可提供無出其右的X射線光源亮度,。11.高效TurboX射線源（TXS-HE）可為點焦斑和線焦斑應(yīng)用提供比較高X射線通量,，適用于D8DISCOVERPlus。12.這些X射線源結(jié)合指定使用X射線光學(xué)元件,，可高效捕獲X射線,，并將之轉(zhuǎn)化為針對您的應(yīng)用而優(yōu)化的X射線束。在DIFFRAC.TEXTURE中,，使用球諧函數(shù)和分量方法,，生成極圖、取向分布函數(shù)（ODF）和體積定量分析,。四川XRD衍射儀哪里好

專為在環(huán)境條件下和非環(huán)境條件下,，對從粉末、非晶和多晶材料到外延多層薄膜等各種材料進行結(jié)構(gòu)表征而設(shè)計,。四川BRUKERXRD衍射儀

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