D8ADVANCEECO是市面上環(huán)保的X射線(xiàn)衍射儀,，其應(yīng)用范圍,、數(shù)據(jù)質(zhì)量,、靈活性和可升級(jí)性毫不打折扣,。D8ADVANCEECO是功能齊全的D8ADVANCE版本,，適用于所有X射線(xiàn)粉末衍射和散射應(yīng)用,。與D8ADVANCE完全兼容,，它具有面向未來(lái)的所有靈活性,。面對(duì)新應(yīng)用,，您隨時(shí)都能對(duì)它輕松完成升級(jí),，從而適應(yīng)未來(lái)實(shí)驗(yàn)室可能出現(xiàn)的任何X射線(xiàn)衍射和散射應(yīng)用需求：相鑒定定量相分析微觀結(jié)構(gòu)分析結(jié)構(gòu)測(cè)定和精修殘余應(yīng)力織構(gòu)掠入射衍射（GID）X射線(xiàn)反射分析（XRR）小角X射線(xiàn)散射（SAXS）對(duì)分布函數(shù)（PDF）分析MONTEL光學(xué)器件可優(yōu)化光束形狀和發(fā)散度，與布魯克大量組件,、光學(xué)器件和探測(cè)器完全兼容,。浙江檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室XRD衍射儀

不論您的預(yù)算如何，D8ADVANCEECO系列都能通過(guò)儀器配置為您帶來(lái)好的性能,。由于降低了對(duì)水和電力等資源的需求,，其運(yùn)營(yíng)成本降低。出色的儀器質(zhì)量為可靠性提供了保證,，同時(shí)布魯克還為之提供組件質(zhì)量保證,。無(wú)外部供水成本1kW高效發(fā)生器降低電力成本，無(wú)外部冷卻器耗電延長(zhǎng)了X射線(xiàn)管的使用壽命X射線(xiàn)管質(zhì)量保證：D8ADVANCEECO可用的所有高亮度X射線(xiàn)源均享有3年保修測(cè)角儀質(zhì)量保證：測(cè)角儀采用免維護(hù)的堅(jiān)固設(shè)計(jì),，可為您帶來(lái)機(jī)械強(qiáng)度和較長(zhǎng)的使用壽命,，因此能夠?yàn)槟峁┖玫臄?shù)據(jù)質(zhì)量。其中,，布魯克提供10年保修,。儀器準(zhǔn)直保證探測(cè)器質(zhì)量保證深圳微觀應(yīng)變分析XRD衍射儀哪里好PATHFINDERPlus光學(xué)器件有一個(gè)確保測(cè)得強(qiáng)度的線(xiàn)性的自動(dòng)吸收器，并可在以下之間切換：電動(dòng)狹縫,，分光晶體,。

RuO2薄膜掠入射XRD-GID引言薄膜材料就是厚度介于一個(gè)納米到幾個(gè)微米之間的單層或者多層材料。由于厚度比較薄,，薄膜材通常依附于一定的襯底材料之上,。常規(guī)的XRD測(cè)試，X射線(xiàn)的穿透深度一般在幾個(gè)微米到幾十個(gè)微米,，這遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于薄膜的厚度,，導(dǎo)致薄膜的信號(hào)會(huì)受到襯底的影響（圖1）,。另外，如果衍射簡(jiǎn)單較高,，那么X射線(xiàn)只能輻射到部分樣品,，無(wú)法利用整個(gè)樣品的體積，衍射信號(hào)弱,。薄膜掠入射衍射（GID：GrazingIncidenceX-RayDiffraction）很好的解絕了以上問(wèn)題,。所謂掠入射是指使X射線(xiàn)以非常小小的入射角（＜5°）照射到薄膜上，小的入射角大大減小了在薄膜中的穿透深度,，同時(shí)增加衍射顆粒的數(shù)目和x射線(xiàn)在薄膜中的光程,。這里有兩點(diǎn)說(shuō)明：GID需要硬件配置；常規(guī)GID只適合多晶薄膜和非晶薄膜,，不適合單晶外延膜,。

殘余應(yīng)力分析：：在DIFFRAC.LEPTOS中，使用sin2psi法,，用Cr輻射進(jìn)行測(cè)量,，對(duì)鋼構(gòu)件的殘余應(yīng)力進(jìn)行分析。使用了2D檢測(cè)器的μXRD：使用DIFFRAC.EVA,測(cè)定小區(qū)域結(jié)構(gòu)特性,。通過(guò)積分2D圖像,，進(jìn)行1D掃描，來(lái)進(jìn)行定性相分析和微觀結(jié)構(gòu)分析,。定性相分析：候選材料鑒別（PMI）為常見(jiàn),，這是因?yàn)槠鋵?duì)原子結(jié)構(gòu)十分靈敏，而這無(wú)法通過(guò)元素分析技術(shù)實(shí)現(xiàn),。高通量篩選（HTS）:在DIFFRAC.EVA中,，進(jìn)行半定量分析，以現(xiàn)實(shí)孔板上不同相的濃度,。非環(huán)境XRD：在DIFFRAC.WIZARD中配置溫度曲線(xiàn)并將其與測(cè)量同步,，然后可以在DIFFRAC.EVR中顯示結(jié)果。小角X射線(xiàn)散射（SAXS）：在DIFFRAC.SAXS中,，對(duì)EIGER2R500K通過(guò)2D模式手機(jī)的NISTSRM80119nm金納米顆粒進(jìn)行粒度分析,。XRD可研究材料的結(jié)構(gòu)和物理特性，是 重要的材料研究工具之一,。

薄膜和涂層分析采用的原理與XRPD相同,，不過(guò)進(jìn)一步提供了光束調(diào)節(jié)和角度控制功能。典型示例包括但不限于相鑒定,、晶體質(zhì)量,、殘余應(yīng)力、織構(gòu)分析、厚度測(cè)定以及組分與應(yīng)變分析,。在對(duì)薄膜和涂層進(jìn)行分析時(shí),，著重對(duì)厚度在nm和μm之間的層狀材料進(jìn)行特性分析（從非晶和多晶涂層到外延生長(zhǎng)薄膜）。D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件可進(jìn)行以下高質(zhì)量的薄膜分析：掠入射衍射X射線(xiàn)反射法高分辨率X射線(xiàn)衍射倒易空間掃描,。由于具有出色的適應(yīng)能力,，使用D8ADVANCE，您就可對(duì)所有類(lèi)型的樣品進(jìn)行測(cè)量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物,。無(wú)論是新手用戶(hù)還是專(zhuān)業(yè)用戶(hù),，都可簡(jiǎn)單快捷,、不出錯(cuò)地對(duì)配置進(jìn)行更改。這都是通過(guò)布魯克獨(dú)特的DAVINCI設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的：配置儀器時(shí),，免工具,、免準(zhǔn)直，同時(shí)還受到自動(dòng)化的實(shí)時(shí)組件識(shí)別與驗(yàn)證的支持,。使用D8D,，您將能在原位循環(huán)條件下測(cè)試電池材料，直截了當(dāng)?shù)孬@取不斷變化的儲(chǔ)能材料和晶體結(jié)構(gòu)和相位信息,。微觀應(yīng)變分析XRD衍射儀哪里好

在DIFFRAC.LEPTOS中,，對(duì)多層樣品進(jìn)行XRR分析，測(cè)定其薄膜厚度,、晶格失配和混合晶體濃度,。浙江檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室XRD衍射儀

淀粉結(jié)晶度測(cè)定引言淀粉結(jié)晶度是表征淀粉顆粒結(jié)晶性質(zhì)的一個(gè)重要參數(shù)，也是表征淀粉材料類(lèi)產(chǎn)品性質(zhì)的重要參數(shù),，其大小直接影響著淀粉產(chǎn)品的應(yīng)用性能,、淀粉材料的物理和機(jī)械性能。X射線(xiàn)衍射法（XRD)加全譜擬合法測(cè)定淀粉顆粒結(jié)晶度常用的方法之一,。結(jié)晶度對(duì)于含有非晶態(tài)的聚合物,，其散射信號(hào)來(lái)源于兩部分：晶態(tài)的衍射峰和非晶態(tài)漫散峰。那么結(jié)晶度DOC則定義為晶態(tài)衍射峰面積與總散射信號(hào)面積的比值,。采用了開(kāi)放式設(shè)計(jì)并具有不受約束的模塊化特性的同時(shí),，將用戶(hù)友好性、操作便利性以及安全操作性發(fā)揮得淋漓盡致,，這就是布魯克DAVINCI設(shè)計(jì)浙江檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室XRD衍射儀