嬰兒爽身粉中石棉的定量分析引言含有滑石粉成分的化妝品常見的有各種潤膚粉,、美容粉,、爽身粉等。因滑石粉具有阻隔紅外線的作用,，能增強這類化妝品的防曬和抗紅外線的性能,。所以，在日常生活中使用,。由于石棉是滑石的伴生礦物,，滑石粉中可能含有石棉。石棉纖維被人體吸入到肺會引起石棉肺惡性疾病,，我國已明確把石棉列為化妝品禁用物質,，用于化妝品生產(chǎn)的滑石粉必須經(jīng)過檢測不含石棉成分方可使用。判斷滑石中是否存在石棉通常采用偏光或電子顯微鏡和X射線衍射相結合的辦法,。而石棉的定量分析一直是石棉分析中的一個難點,，主要采用X射線衍射法,。石棉定量采用基底修正法,，具體操作步驟請參考：?SN／T2549.2-2010：進出口化妝品中石棉的測定：第2部分：X射線衍射-偏光顯微鏡法?ISO22262-3_2016：QuantitativedeterminationofasbestosbyX-raydiffractionmethod?GB／T23263-2009：制品中石棉含量測定法更換光學期間時,，無需工具,，亦無需對光,，因此您可輕松快速地更改配置,。浙江微觀應變分析XRD衍射儀

對分布函數(shù)分析對分布函數(shù)（PDF）分析是一種分析技術,，它基于Bragg衍射以及漫散射（“總散射”）,，提供無序材料的結構信息,。其中,，您可以通過Bragg衍射峰,，了解材料的平均晶體結構的信息（即長程有序），通過漫散射,，表征其局部結構（即短程有序）,。就分析速度,、數(shù)據(jù)質量以及對非晶、弱晶型,、納米晶或納米結構材料的分析結果而言,，D8ADVANCE和TOPAS軟件是目前市面上性能較好的PDF分析解決方案：相鑒定結構測定和精修納米粒度和形狀。廣州原位分析XRD衍射儀配件從過程開發(fā)到質量控制,，D8 DISCOVER可以對亞毫米至300mm大小的樣品進行結構表征,。

X射線粉末衍射（XRPD）技術是重要的材料表征工具之一。粉末衍射圖中的許多信息,，直接源于物相的原子排列,。在D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件的支持下，您將能簡單地實施常見的XRPD方法：鑒別晶相和非晶相,，并測定樣品純度對多相混合物的晶相和非晶相進行定量分析微觀結構分析（微晶尺寸、微應變,、無序…）熱處理或加工制造組件產(chǎn)生的大量殘余應力織構（擇優(yōu)取向）分析指標化,、從頭晶體結構測定和晶體結構精修,，由于具有出色的適應能力，使用D8ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進行測量：從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物,。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶，都可簡單快捷,、不出錯地對配置進行更改。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設計實現(xiàn)的：配置儀器時,，免工具、免準直,，同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持,。不僅如此——布魯克提供基于NIST標樣剛玉（SRM1976）的準直保證。目前,，在峰位,、強度和分辨率方面，市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE,。

材料研究樣品臺緊湊型UMC和緊湊型尤拉環(huán)plus樣品臺能夠精確地移動樣品,，因此擴展了D8ADVANCEPlus的樣品處理能力。緊湊型UMC樣品臺可對2Kg的樣品進行電動移動：X軸25mm,、Y軸70mm和Z軸52mm,，可用于分析大型塊狀樣品或多個小樣品；緊湊型尤拉環(huán)plus樣品臺的Phi旋轉角度不受限制,，Psi傾斜度在-5°到95°之間,，可用于應力、織構和外延薄膜分析,。另外,，它還具有真空多用途通孔，可通過小型薄膜樣品架或大型手動X-Y樣品臺,，將樣品固定在適當位置,。二者均可用于溫控樣品臺，進行非環(huán)境分析,。另外,，它們還可借助DIFFRAC.DAVINCI樣品臺卡口安裝系統(tǒng),，輕松更換樣品臺。配備了UMC樣品臺的DISCOVER,，優(yōu)勢在于對大型機械零件殘余應力和織構分析以及殘余奧氏體或高溫合金表征,。

納米多層薄膜物相隨深度變化引言掠入射X射線衍射（GID）是表征薄膜材料的有效手段。通過控制不同的入射角度,，進而控制X射線在薄膜中的穿透深度,，可以確定薄膜材料的結構隨深度變化的信息。實例45nmNiO/355nmSnO2/玻璃薄膜的GID測試由于具有出色的適應能力,，使用D8ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進行測量：從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物,。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,，都可簡單快捷、不出錯地對配置進行更改,。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設計實現(xiàn)的：配置儀器時,，免工具、免準直,，同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持,。不只如此——布魯克提供基于NIST標樣剛玉（SRM1976）的準直保證。目前,，在峰位,、強度和分辨率方面，市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE,。MONTEL光學器件可優(yōu)化光束形狀和發(fā)散度,，與布魯克大量組件、光學器件和探測器完全兼容,。蘇州取向檢測分析

D8D和DIFFRAC.SUITE軟件將有助于您使用常見的XRD方法輕松進行薄膜分析：掠入射衍射,、X射線反射率測量。浙江微觀應變分析XRD衍射儀

獲得的TRIO光路簡化了D8ADVANCE的操作,，使之適用于多種應用和樣品類型,。為便于用戶使用，該系統(tǒng)提供了自動化電動切換功能,，可在多達6種不同的光束幾何之間進行自動切換,。系統(tǒng)無需人工干預,，即可在三個光路之間切換：用于粉末分析的Bragg-Brentano聚焦幾何用于毛細管,、GID和XRR的平行光束Kα1,2幾何用于外延薄膜的高分辨率平行光束Kα1幾何它非常適合在環(huán)境條件或非環(huán)境條件下對所有樣品類型進行分析，其中包括粉末,、塊狀材料,、纖維,、片材和薄膜（非晶、多晶和外延）,。浙江微觀應變分析XRD衍射儀