EIGER2R具有多模式功能(0D-1D-2D,、快照和掃描模式),覆蓋了從粉末研究到材料研究的多種測量方法,。EIGER2并非傳統(tǒng)意義上的萬金油,而是所有分析應(yīng)用領(lǐng)域的專業(yè)用戶,。其可實現(xiàn)無吸收測量的動態(tài)范圍,、用于超快粉末測量和快速倒易空間掃描的1D大尺寸以及超過500k像素的2D大覆蓋范圍,都為多模式探測器樹立了新標(biāo)準(zhǔn),。EIGER2采用了DECTRIS公司研發(fā)的光束探測器技術(shù),,整合了布魯克的軟件和硬件,可為您帶來無縫易用的解決方案,。由于具有出色的適應(yīng)能力,,使用D8ADVANCE,您就可對所有類型的樣品進(jìn)行測量:從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物,。配備了UMC樣品臺的DISCOVER,優(yōu)勢在于對大型機械零件殘余應(yīng)力和織構(gòu)分析以及殘余奧氏體或高溫合金表征,。貴州全新XRD衍射儀
由于具有出色的適應(yīng)能力,,使用D8ADVANCE,您就可對所有類型的樣品進(jìn)行測量:從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物,。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,都可簡單快捷,、不出錯地對配置進(jìn)行更改,。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設(shè)計實現(xiàn)的:配置儀器時,免工具,、免準(zhǔn)直,,同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持。布魯克提供基于NIST標(biāo)樣剛玉(SRM1976)的準(zhǔn)直保證,。目前,,在峰位,、強度和分辨率方面,,市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE。熟料礦相所有樣品臺都是DIFFRAC.DAVINCI概念的組成部分,,因此元件及其電動驅(qū)動裝置可在安裝時自動完成識別和配置,。
D2PHASER—數(shù)據(jù)質(zhì)量D2PHASER所具備的數(shù)據(jù)質(zhì)量和數(shù)據(jù)采集速度遠(yuǎn)超目前人們對臺式XRD系統(tǒng)的認(rèn)知,。得益于出色的分辨率、低角度和低背景,,該儀器是從相識別,、定量相分析到晶體結(jié)構(gòu)分析的所有粉末衍射應(yīng)用的理想解決方案。不僅如此——只有布魯克AXS才能在整個角度范圍內(nèi),,保證實現(xiàn)儀器對準(zhǔn)(精度等于或優(yōu)于±0.02°2θ),。加上遵循著嚴(yán)格的儀器驗證協(xié)議,它可為所有應(yīng)用提供準(zhǔn)確數(shù)據(jù),。由于具有出色的適應(yīng)能力,,使用D8ADVANCE,您就可對所有類型的樣品進(jìn)行測量:從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物,。
X射線衍射(XRD)和反射率是對薄層結(jié)構(gòu)樣品進(jìn)行無損表征的重要方法。D8DISCOVER和DIFFRAC.SUITE軟件將有助于您使用常見的XRD方法輕松進(jìn)行薄膜分析:掠入射衍射(GID):晶相表面靈敏識別及結(jié)構(gòu)性質(zhì)測定,,包括微晶尺寸和應(yīng)變,。X射線反射率測量(XRR):用于提取從簡單的基底到高度復(fù)雜的超晶格結(jié)構(gòu)等多層樣品的厚度、材料密度和界面結(jié)構(gòu)信息,。高分辨率X射線衍射(HRXRD):用于分析外延生長結(jié)構(gòu):層厚度,、應(yīng)變、弛豫,、鑲嵌,、混合晶體的成分分析。應(yīng)力和織構(gòu)(擇優(yōu)取向)分析,。D8 DISCOVER系列包括DISCOVER和DISCOVER Plus版本,,可通過使用的是標(biāo)準(zhǔn)D8測角儀還是ATLAS測角儀進(jìn)行區(qū)分。
由于具有出色的適應(yīng)能力,,*使用D8ADVANCE,,您就可對所有類型的樣品進(jìn)行測量:從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物,。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,,都可簡單快捷、不出錯地對配置進(jìn)行更改,。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設(shè)計實現(xiàn)的:配置儀器時,,免工具、免準(zhǔn)直,,同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持,。不僅如此——布魯克***提供基于NIST標(biāo)樣剛玉(SRM1976)的準(zhǔn)直保證。目前,,在峰位,、強度和分辨率方面,,市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE。定性相分析和結(jié)構(gòu)測定 微米應(yīng)變和微晶尺寸分析 應(yīng)力和織構(gòu)分析 粒度和粒度分布測定 微米大小X射線束局部分析,。貴州全新XRD衍射儀
在DIFFRAC.EVA中,,進(jìn)行半定量分析,以現(xiàn)實孔板上不同相的濃度,。貴州全新XRD衍射儀
D8DISCOVER是旗艦款多功能X射線衍射儀,,帶有諸多前沿技術(shù)組件。它專為在環(huán)境條件下和非環(huán)境條件下,,對從粉末,、非晶和多晶材料到外延多層薄膜等各種材料進(jìn)行結(jié)構(gòu)表征而設(shè)計。應(yīng)用范圍:1.定性相分析和定量相分析,、結(jié)構(gòu)測定和精修,、微應(yīng)變和微晶尺寸分析2.X射線反射法、掠入射衍射(GID),、面內(nèi)衍射,、高分辨率XRD、GISAXS,、GI應(yīng)力分析,、晶體取向分析3.殘余應(yīng)力分析、織構(gòu)和極圖,、微區(qū)X射線衍射,、廣角X射線散射(WAXS)4.總散射分析:Bragg衍射、對分布函數(shù)(PDF),、小角X射線散射(SAXS)貴州全新XRD衍射儀