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來源: 發(fā)布時間:2024-04-15

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XRD檢測納米二氧化鈦晶粒尺寸引言納米材料的性能往往和其晶粒大小有關,而X射線衍射是測定納米材料晶尺寸的有效方法之一,。晶粒尺寸Dhkl(可理解為一個完整小單晶的大小)可通過謝樂公示計算Dhkl:晶粒尺寸,,垂直于晶面hkl方向β:hkl晶面的半高寬(或展寬)θ:hkl晶面的bragg角度λ:入射X光的波長,,一般Cu靶為1.54埃K:常數(shù)(晶粒近似為球形,K=0.89,;其他K=1)ADVANCE采用了開放式設計并具有不受約束的模塊化特性的同時,,將用戶友好性、操作便利性以及安全操作性發(fā)揮得淋漓盡致,,這就是布魯克DAVINCI設計深圳全新XRD衍射儀安裝在標準陶瓷X射線管前面,,可多達6種不同的光束幾何之間自動地進行電動切換,無需認為干預,。

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當石墨(002)衍射峰峰形對稱性很差時,,如圖2,樣品中可能含有多種不同石墨化度的組分存在(當然,,也可能是由于非晶碳或無定形碳的存在,。需要對衍射峰進行分峰處理,得到各個子峰的峰位和積分強度值,,如圖2所示,。分別計算各子峰的石墨化度,再利用各子峰的積分強度為權重,,歸一化樣品的石墨化度,。圖2石墨實驗(藍色數(shù)據(jù)點)及分峰擬合圖譜(紅色:擬合圖譜,兩綠色為單峰擬合結果)石墨及其復合材料具有高溫下不熔融,、導電導熱性能好以及化學穩(wěn)定性優(yōu)異等特點,,應用于冶金、化工,、航空航天等行業(yè),。特別是近年來鋰電池的快速發(fā)展,進一步加大了石墨材料的需求,。工業(yè)上常將碳原料經過煅燒破碎,、焙燒、高溫石墨化處理來獲取高性能人造石墨材料,。石墨的質量對電池的性能有很大影響,,石墨化度是一種從結構上表征石墨質量的方法之一。

蒙脫石散及雜質的鑒定引言蒙脫石散常見的用于用于成人及兒童急,、慢性腹瀉的藥物,。蒙脫石散的主要成分為層狀結構的粘土礦物蒙脫石。根據(jù)中國藥典,,蒙脫石散的鑒別和雜質含量的分析的主要手段為XRD,。不論在何種應用場合,它都是值得您選擇的探測器:高的計數(shù)率,、動態(tài)范圍和能量分辨率,。布魯克提供基于NIST標樣剛玉(SRM1976c)整個角度范圍內的準直保證,。D8衍射儀系列平臺的D8ADVANCE,是所有X射線粉末衍射和散射應用的理想之選,,如:典型的X射線粉末衍射(XRD)對分布函數(shù)(PDF)分析小角X射線散射(SAXS)和廣角X射線散射(WAXS)在DIFFRAC.LEPTOS中,,使用sin2psi法,用Cr輻射進行測量,,對鋼構件的殘余應力進行分析,。

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對于需要探索材料極限的工業(yè)金屬樣品,通常需要進行殘余應力和織構測量,。通過消除樣品表面的拉應力或引起壓應力,,可延長其功能壽命。這可通過熱處理或噴丸處理等物理工藝來完成,。構成塊狀樣品的微晶的取向,,決定了裂紋的生長方式。而通過在材料中形成特定的織構,,可顯著增強其特性,。這兩種技術在優(yōu)化制造法(例如增材制造)領域也占有一席之地。由于具有出色的適應能力,,使用D8ADVANCE,,您就可對所有類型的樣品進行測量:從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物,??偵⑸浞治觯築ragg衍射、對分布函數(shù)(PDF),、小角X射線散射(SAXS),。浙江BRUKERXRD衍射儀配件

D8 DISCOVER系列包括DISCOVER和DISCOVER Plus版本,可通過使用的是標準D8測角儀還是ATLAS測角儀進行區(qū)分,。福建XRD衍射儀推薦咨詢

薄膜和涂層分析采用的原理與XRPD相同,,不過進一步提供了光束調節(jié)和角度控制功能。典型示例包括但不限于相鑒定,、晶體質量,、殘余應力、織構分析,、厚度測定以及組分與應變分析,。在對薄膜和涂層進行分析時,著重對厚度在nm和μm之間的層狀材料進行特性分析(從非晶和多晶涂層到外延生長薄膜),。D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件可進行以下高質量的薄膜分析:掠入射衍射X射線反射法高分辨率X射線衍射倒易空間掃描由于具有出色的適應能力,,使用D8ADVANCE,您就可對所有類型的樣品進行測量:從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物,。福建XRD衍射儀推薦咨詢