薄膜和涂層薄膜和涂層分析采用的原理與XRPD相同,，不過(guò)進(jìn)一步提供了光束調(diào)節(jié)和角度控制功能。典型示例包括但不限于相鑒別,、晶體質(zhì)量,、殘余應(yīng)力、織構(gòu)分析,、厚度測(cè)定以及組分與應(yīng)變分析,。在對(duì)薄膜和涂層進(jìn)行分析時(shí)，著重對(duì)厚度在nm和μm之間的層狀材料進(jìn)行特性分析,，從非晶和多晶涂層到外延生長(zhǎng)薄膜等,。D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件可進(jìn)行以下高質(zhì)量的薄膜分析：掠入射衍射X射線反射高分辨率X射線衍射倒易空間掃描，由于具有出色的適應(yīng)能力,，使用D8ADVANCE,，您就可對(duì)所有類型的樣品進(jìn)行測(cè)量：從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物,。無(wú)論是新手用戶還是專業(yè)用戶,，都可簡(jiǎn)單快捷、不出錯(cuò)地對(duì)配置進(jìn)行更改,。這都是通過(guò)布魯克獨(dú)特的DAVINCI設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的：配置儀器時(shí),，免工具,、免準(zhǔn)直，同時(shí)還受到自動(dòng)化的實(shí)時(shí)組件識(shí)別與驗(yàn)證的支持,。不僅如此——布魯克提供基于NIST標(biāo)樣剛玉（SRM1976）的準(zhǔn)直保證。目前,，在峰位,、強(qiáng)度和分辨率方面，市面上尚無(wú)其他粉末衍射儀的精度超過(guò)D8ADVANCE,。UMC樣品臺(tái)通常用于分析大塊樣品,、掃描測(cè)量應(yīng)用和涂層分析，也能測(cè)量多個(gè)小樣品或用于執(zhí)行非環(huán)境實(shí)驗(yàn),。廣州微觀應(yīng)變分析XRD衍射儀

材料屬性D2PHASER是一款便攜的臺(tái)式XRD儀器,，主要用于研究和質(zhì)控。您可以使用TOPAS軟件提供的基本參數(shù)方法研究晶體結(jié)構(gòu),、研究快速可靠的SAXS測(cè)量的納米結(jié)構(gòu)或研究微觀結(jié)構(gòu)（微晶尺寸）,。SAXS—分析SBA-15介觀催化劑（PDF）Er-Melilite的晶體結(jié)構(gòu)（PDF）陽(yáng)極焦炭（LC值）分析（PDF）DIFFRAC.DQUANT：對(duì)殘余奧氏體進(jìn)行合規(guī)量化（PDF）布魯克為礦物和采礦業(yè)提供了先進(jìn)的解決方案，旨在以可靠的方式,，支持地質(zhì)學(xué)家和礦產(chǎn)勘探者隨時(shí)隨地開展礦床發(fā)現(xiàn)和分析工作,。湖南原位分析XRD衍射儀推薦咨詢全能運(yùn)動(dòng)概念確保當(dāng)樣品在移動(dòng)時(shí)，感興趣區(qū)域始終在測(cè)角儀中心,，從φ旋轉(zhuǎn)到XYZ平移和ψ傾斜,，有5個(gè)自由度。

嬰兒爽身粉中石棉的定量分析引言含有滑石粉成分的化妝品常見(jiàn)的有各種潤(rùn)膚粉,、美容粉,、爽身粉等。因滑石粉具有阻隔紅外線的作用,，能增強(qiáng)這類化妝品的防曬和抗紅外線的性能,。所以，在日常生活中使用,。由于石棉是滑石的伴生礦物,，滑石粉中可能含有石棉。石棉纖維被人體吸入到肺會(huì)引起石棉肺惡性疾病,，我國(guó)已明確把石棉列為化妝品禁用物質(zhì),，用于化妝品生產(chǎn)的滑石粉必須經(jīng)過(guò)檢測(cè)不含石棉成分方可使用。判斷滑石中是否存在石棉通常采用偏光或電子顯微鏡和X射線衍射相結(jié)合的辦法,。而石棉的定量分析一直是石棉分析中的一個(gè)難點(diǎn),，主要采用X射線衍射法。石棉定量采用基底修正法,，具體操作步驟請(qǐng)參考：?SN／T2549.2-2010：進(jìn)出口化妝品中石棉的測(cè)定：第2部分：X射線衍射-偏光顯微鏡法?ISO22262-3_2016：QuantitativedeterminationofasbestosbyX-raydiffractionmethod?GB／T23263-2009：制品中石棉含量測(cè)定法

D8ADVANCEECO是市面上環(huán)保的X射線衍射儀,，其應(yīng)用范圍,、數(shù)據(jù)質(zhì)量、靈活性和可升級(jí)性毫不打折扣,。D8ADVANCEECO是功能齊全的D8ADVANCE版本,，適用于所有X射線粉末衍射和散射應(yīng)用。與D8ADVANCE完全兼容,，它具有面向未來(lái)的所有靈活性,。面對(duì)新應(yīng)用，您隨時(shí)都能對(duì)它輕松完成升級(jí),，從而適應(yīng)未來(lái)實(shí)驗(yàn)室可能出現(xiàn)的任何X射線衍射和散射應(yīng)用需求：相鑒定定量相分析微觀結(jié)構(gòu)分析結(jié)構(gòu)測(cè)定和精修殘余應(yīng)力織構(gòu)掠入射衍射（GID）X射線反射分析（XRR）小角X射線散射（SAXS）對(duì)分布函數(shù)（PDF）分析D8D在金屬樣品檢測(cè)中,，殘余奧氏體、殘余應(yīng)力和織構(gòu)檢測(cè)是其中小部分,，目的在于確保產(chǎn)品完成復(fù)合用戶需求,。

RuO2薄膜掠入射XRD-GID引言薄膜材料就是厚度介于一個(gè)納米到幾個(gè)微米之間的單層或者多層材料。由于厚度比較薄,，薄膜材通常依附于一定的襯底材料之上,。常規(guī)的XRD測(cè)試，X射線的穿透深度一般在幾個(gè)微米到幾十個(gè)微米,，這遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于薄膜的厚度,，導(dǎo)致薄膜的信號(hào)會(huì)受到襯底的影響（圖1）。另外,，如果衍射簡(jiǎn)單較高,，那么X射線只能輻射到部分樣品，無(wú)法利用整個(gè)樣品的體積,，衍射信號(hào)弱,。薄膜掠入射衍射（GID：GrazingIncidenceX-RayDiffraction）很好的解絕了以上問(wèn)題。所謂掠入射是指使X射線以非常小小的入射角（＜5°）照射到薄膜上,，小的入射角大大減小了在薄膜中的穿透深度,，同時(shí)增加衍射顆粒的數(shù)目和x射線在薄膜中的光程。這里有兩點(diǎn)說(shuō)明：GID需要硬件配置,；常規(guī)GID只適合多晶薄膜和非晶薄膜,，不適合單晶外延膜。使用DIFFRAC.EVA,測(cè)定小區(qū)域結(jié)構(gòu)特性,。通過(guò)積分2D圖像,，進(jìn)行1D掃描，來(lái)進(jìn)行定性相分析和微觀結(jié)構(gòu)分析,。上海檢測(cè)XRD衍射儀

所有樣品臺(tái)都是DIFFRAC.DAVINCI概念的組成部分,，因此元件及其電動(dòng)驅(qū)動(dòng)裝置可在安裝時(shí)自動(dòng)完成識(shí)別和配置。廣州微觀應(yīng)變分析XRD衍射儀

石墨化度分析引言石墨及其復(fù)合材料具有高溫下不熔融,、導(dǎo)電導(dǎo)熱性能好以及化學(xué)穩(wěn)定性優(yōu)異等特點(diǎn),，應(yīng)用于冶金,、化工、航空航天等行業(yè),。特別是近年來(lái)鋰電池的快速發(fā)展,，進(jìn)一步加大了石墨材料的需求。工業(yè)上常將碳原料經(jīng)過(guò)煅燒破碎,、焙燒,、高溫石墨化處理來(lái)獲取高性能人造石墨材料。石墨的質(zhì)量對(duì)電池的性能有很大影響,，石墨化度是一種從結(jié)構(gòu)上表征石墨質(zhì)量的方法之一。石墨化度碳原子形成密排六方石墨晶體結(jié)構(gòu)的程度,其晶格尺寸愈接近理想石墨的點(diǎn)陣參數(shù),石墨化度就愈高,。廣州微觀應(yīng)變分析XRD衍射儀