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蘇州粉末衍射檢測(cè)分析

來源: 發(fā)布時(shí)間:2024-04-19

石油和天然氣D2PHASER是一種移動(dòng)式的臺(tái)式X射線衍射儀(XRD),可用于鑒定地質(zhì)樣品中的塊狀和黏土礦物,。此外,,X射線衍射(XRD)是分析頁(yè)巖層所必不可少的技術(shù),,可進(jìn)行礦物學(xué)定性和定量表征,。X射線衍射在石化業(yè):使用D2PHASER識(shí)別膨脹性粘土(PDF)X射線衍射在石化業(yè):使用D2PHASER對(duì)頁(yè)巖層進(jìn)行井場(chǎng)礦物學(xué)分析(PDF)無(wú)論是新手用戶還是專業(yè)用戶,,都可簡(jiǎn)單快捷,、不出錯(cuò)地對(duì)配置進(jìn)行更改,。這都是通過布魯克獨(dú)特的DAVINCI設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的:配置儀器時(shí),,免工具,、免準(zhǔn)直,,同時(shí)還受到自動(dòng)化的實(shí)時(shí)組件識(shí)別與驗(yàn)證的支持,。不僅如此——布魯克提供基于NIST標(biāo)樣剛玉(SRM1976)的準(zhǔn)直保證,。目前,,在峰位,、強(qiáng)度和分辨率方面,,市面上尚無(wú)其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE。在DIFFRAC.EVA中,,對(duì)塑料薄膜進(jìn)行WAXS測(cè)量分析,。然后塑料纖維的擇優(yōu)取向便顯而易見了。蘇州粉末衍射檢測(cè)分析

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石墨化度分析引言石墨及其復(fù)合材料具有高溫下不熔融,、導(dǎo)電導(dǎo)熱性能好以及化學(xué)穩(wěn)定性優(yōu)異等特點(diǎn),應(yīng)用于冶金,、化工,、航空航天等行業(yè)。特別是近年來鋰電池的快速發(fā)展,,進(jìn)一步加大了石墨材料的需求。工業(yè)上常將碳原料經(jīng)過煅燒破碎,、焙燒,、高溫石墨化處理來獲取高性能人造石墨材料。石墨的質(zhì)量對(duì)電池的性能有很大影響,,石墨化度是一種從結(jié)構(gòu)上表征石墨質(zhì)量的方法之一,。石墨化度碳原子形成密排六方石墨晶體結(jié)構(gòu)的程度,其晶格尺寸愈接近理想石墨的點(diǎn)陣參數(shù),石墨化度就愈高。合肥粉煤灰檢測(cè)分析樣品臺(tái)的卡口座允許在測(cè)角儀上快速準(zhǔn)確地更換整個(gè)樣品臺(tái),,較大限度地提高實(shí)驗(yàn)靈活性,。

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藥物:從藥物發(fā)現(xiàn)到藥物生產(chǎn),D8D為藥品的整個(gè)生命周期提供支持,,其中包括結(jié)構(gòu)測(cè)定,、候選材料鑒別、配方定量和非環(huán)境穩(wěn)定性測(cè)試,。地質(zhì)學(xué):D8D是地質(zhì)構(gòu)造研究的理想之選,。借助μXRD,哪怕是對(duì)小的包裹體進(jìn)行定性相分析和結(jié)構(gòu)測(cè)定也不在話下,。金屬:在常見的金屬樣品檢測(cè)技術(shù)中,。殘余奧氏體、殘余應(yīng)力和織構(gòu)檢測(cè)不過是其中的一小部分,,檢測(cè)目的在于確保終產(chǎn)品復(fù)合終用戶的需求,。薄膜計(jì)量:從微米厚度的涂層到納米厚度的外延膜的樣品都受益于用于評(píng)估晶體質(zhì)量、薄膜厚度,、成分外延排列和應(yīng)變松弛的一系列技術(shù),。

由于具有出色的適應(yīng)能力,*使用D8ADVANCE,,您就可對(duì)所有類型的樣品進(jìn)行測(cè)量:從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物。無(wú)論是新手用戶還是專業(yè)用戶,,都可簡(jiǎn)單快捷,、不出錯(cuò)地對(duì)配置進(jìn)行更改,。這都是通過布魯克獨(dú)特的DAVINCI設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的:配置儀器時(shí),免工具,、免準(zhǔn)直,,同時(shí)還受到自動(dòng)化的實(shí)時(shí)組件識(shí)別與驗(yàn)證的支持。不僅如此——布魯克***提供基于NIST標(biāo)樣剛玉(SRM1976)的準(zhǔn)直保證,。目前,,在峰位、強(qiáng)度和分辨率方面,,市面上尚無(wú)其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE,。定性相分析和結(jié)構(gòu)測(cè)定 微米應(yīng)變和微晶尺寸分析 應(yīng)力和織構(gòu)分析 粒度和粒度分布測(cè)定 微米大小X射線束局部分析。

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EIGER2R具有多模式功能(0D-1D-2D,、快照和掃描模式),,覆蓋了從粉末研究到材料研究的多種測(cè)量方法。EIGER2并非傳統(tǒng)意義上的萬(wàn)金油,,而是所有分析應(yīng)用領(lǐng)域的專業(yè)用戶,。其可實(shí)現(xiàn)無(wú)吸收測(cè)量的動(dòng)態(tài)范圍、用于超快粉末測(cè)量和快速倒易空間掃描的1D大尺寸以及超過500k像素的2D大覆蓋范圍,,都為多模式探測(cè)器樹立了新標(biāo)準(zhǔn),。EIGER2采用了DECTRIS公司研發(fā)的光束探測(cè)器技術(shù),,整合了布魯克的軟件和硬件,可為您帶來無(wú)縫易用的解決方案,。由于具有出色的適應(yīng)能力,,使用D8ADVANCE,您就可對(duì)所有類型的樣品進(jìn)行測(cè)量:從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物,。在DIFFRAC.WIZARD中配置溫度曲線并將其與測(cè)量同不,,然后可以在DIFFRAC.EVA中顯示結(jié)果,。廣州全新XRD衍射儀配件

專為在環(huán)境條件下和非環(huán)境條件下,對(duì)從粉末,、非晶和多晶材料到外延多層薄膜等各種材料進(jìn)行結(jié)構(gòu)表征而設(shè)計(jì)。蘇州粉末衍射檢測(cè)分析

獲得的TRIO光路簡(jiǎn)化了D8ADVANCE的操作,,使之適用于多種應(yīng)用和樣品類型,。為便于用戶使用,,該系統(tǒng)提供了自動(dòng)化電動(dòng)切換功能,可在多達(dá)6種不同的光束幾何之間進(jìn)行自動(dòng)切換,。系統(tǒng)無(wú)需人工干預(yù),即可在三個(gè)光路之間切換:用于粉末分析的Bragg-Brentano聚焦幾何用于毛細(xì)管、GID和XRR的平行光束Kα1,2幾何用于外延薄膜的高分辨率平行光束Kα1幾何它非常適合在環(huán)境條件或非環(huán)境條件下對(duì)所有樣品類型進(jìn)行分析,,其中包括粉末,、塊狀材料,、纖維、片材和薄膜(非晶,、多晶和外延),。蘇州粉末衍射檢測(cè)分析

標(biāo)簽: 顯微CT XRD衍射儀