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D8DISCOVER是旗艦款多功能X射線衍射儀,帶有諸多前沿技術(shù)組件,。它專為在環(huán)境條件下和非環(huán)境條件下,,對從粉末、非晶和多晶材料到外延多層薄膜等各種材料進行結(jié)構(gòu)表征而設計,。應用范圍:1.定性相分析和定量相分析,、結(jié)構(gòu)測定和精修、微應變和微晶尺寸分析2.X射線反射法,、掠入射衍射(GID),、面內(nèi)衍射、高分辨率XRD,、GISAXS,、GI應力分析、晶體取向分析3.殘余應力分析,、織構(gòu)和極圖,、微區(qū)X射線衍射、廣角X射線散射(WAXS)4.總散射分析:Bragg衍射,、對分布函數(shù)(PDF),、小角X射線散射(SAXS)涉及高通量篩選(HTS)和大區(qū)域掃描分析時,D8 DISCOVER是較好解決方案,。湖北進口XRD衍射儀哪里好
對分布函數(shù)(PDF)分析是一種分析技術(shù),,它基于Bragg以及漫散射(“總散射”),提供無序材料的結(jié)構(gòu)信息,。其中,,您可以通過Bragg衍射峰,了解材料的平均晶體結(jié)構(gòu)的信息(即長程有序),,通過漫散射,,表征其局部結(jié)構(gòu)(即短程有序)。就分析速度,、數(shù)據(jù)質(zhì)量以及對非晶,、弱晶型,、納米晶或納米結(jié)構(gòu)材料的分析結(jié)果而言,D8ADVANCE和TOPAS軟件市面上性能好的PDF分析解決方案:相鑒定結(jié)構(gòu)測定和精修納米粒度和形狀,。由于具有出色的適應能力,,使用D8ADVANCE,您就可對所有類型的樣品進行測量:從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物,。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,都可簡單快捷,、不出錯地對配置進行更改,。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設計實現(xiàn)的:配置儀器時,免工具,、免準直,,同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持。粉煤灰MONTEL光學器件可優(yōu)化光束形狀和發(fā)散度,,與布魯克大量組件,、光學器件和探測器完全兼容。
所有維度都非常好的數(shù)據(jù)質(zhì)量不論在何種應用場合,,它都是您的可選的探測器:高的計數(shù)率,、動態(tài)范圍和能量分辨率,峰位精度布魯克提供基于NIST標樣剛玉(SRM1976c)整個角度范圍內(nèi)的準直保證,,面向未來的多用途采用了開放式設計并具有不受約束的模塊化特性的同時,,將用戶友好性、操作便利性以及安全操作性發(fā)揮得淋漓盡致,,這就是布魯克DAVINCI設計,,布魯克獲得的TWIN-TWIN光路設計極大地簡化了D8ADVANCE的操作,使之適用于多種應用和樣品類型,。為便于用戶使用,,該系統(tǒng)可在4種不同的光束幾何之間進行自動切換。該系統(tǒng)無需人工干預,,即可在Bragg-Brentano粉末衍射幾何和不良形狀的樣品,、涂層和薄膜的平行光束幾何以及它們之間進行切換,且無需人工干預,,是在環(huán)境下和非環(huán)境下對包括粉末,、塊狀物體、纖維,、片材和薄膜(非晶,、多晶和外延)在內(nèi)的所有類型的樣品進行分析的理想選擇。
D8ADVANCEECO是市面上環(huán)保的X射線衍射儀,,其應用范圍,、數(shù)據(jù)質(zhì)量,、靈活性和可升級性毫不打折扣。D8ADVANCEECO是功能齊全的D8ADVANCE版本,,適用于所有X射線粉末衍射和散射應用,。與D8ADVANCE完全兼容,它具有面向未來的所有靈活性,。面對新應用,,您隨時都能對它輕松完成升級,從而適應未來實驗室可能出現(xiàn)的任何X射線衍射和散射應用需求:相鑒定定量相分析微觀結(jié)構(gòu)分析結(jié)構(gòu)測定和精修殘余應力織構(gòu)掠入射衍射(GID)X射線反射分析(XRR)小角X射線散射(SAXS)對分布函數(shù)(PDF)分析所有樣品臺都是DIFFRAC.DAVINCI概念的組成部分,,因此元件及其電動驅(qū)動裝置可在安裝時自動完成識別和配置,。
X射線衍射(XRD)和反射率是對薄層結(jié)構(gòu)樣品進行無損表征的重要方法。D8DISCOVER和DIFFRAC.SUITE軟件將有助于您使用常見的XRD方法輕松進行薄膜分析:掠入射衍射(GID):晶相表面靈敏識別及結(jié)構(gòu)性質(zhì)測定,,包括微晶尺寸和應變,。X射線反射率測量(XRR):用于提取從簡單的基底到高度復雜的超晶格結(jié)構(gòu)等多層樣品的厚度、材料密度和界面結(jié)構(gòu)信息,。高分辨率X射線衍射(HRXRD):用于分析外延生長結(jié)構(gòu):層厚度、應變,、弛豫,、鑲嵌、混合晶體的成分分析,。應力和織構(gòu)(擇優(yōu)取向)分析,。在DIFFRAC.LEPTOS中,使用sin2psi法,,用Cr輻射進行測量,,對鋼構(gòu)件的殘余應力進行分析。全新XRD衍射儀檢測
新結(jié)構(gòu)測定以及多晶篩選是藥物開發(fā)的關(guān)鍵步驟,,對此,,D8 DISCOVER具有高通量篩選功能。湖北進口XRD衍射儀哪里好
二氧化鋯多晶型分析引言二氧化鋯化學性質(zhì)不活潑,,且具有高熔點,、高電阻率、高折射率和低熱膨脹系數(shù)等獨特的物理化學性質(zhì),,使它成為重要的耐高溫材料,、陶瓷絕緣材料和陶瓷遮光劑。其結(jié)構(gòu)主要有三種晶型:單斜相,、四方相以及立方相,。不同晶體結(jié)構(gòu)對應的物理化學性質(zhì)有較大區(qū)別,X射線衍射是區(qū)分二氧化鋯晶型的主要手段之一,。同時利用先進的Rietveld方法可對二氧化鋯多晶型樣品進行快速定量分析,。實例二氧化鋯多晶型定性分析左插圖:微量的二氧化鋯單斜相右插圖:二氧化鋯四方相和立方相區(qū)分明顯湖北進口XRD衍射儀哪里好