布魯克獨(dú)有的DBO功能為X射線(xiàn)衍射的數(shù)據(jù)質(zhì)量樹(shù)立了全新的重要基準(zhǔn),。馬達(dá)驅(qū)動(dòng)發(fā)散狹縫,、防散射屏和可變探測(cè)器窗口的自動(dòng)同步功能,，可為您提供的數(shù)據(jù)質(zhì)量——尤其是在低2?角度時(shí),。除此之外,，LYNXEYE全系列探測(cè)器均支持DBO：SSD160-2,，LYNXEYE-2和LYNXEYEXE-T,。LYNXEYEXE-T是LYNXEYE系列探測(cè)器的旗艦產(chǎn)品,。它是目前市面上的一款可采集0D、1D和2D數(shù)據(jù)的能量色散探測(cè)器,，適用于所有波長(zhǎng)（從Cr到Ag）,，具有準(zhǔn)確的計(jì)數(shù)率和角分辨率，是所有X射線(xiàn)衍射和散射應(yīng)用的理想選擇,。定性相分析和結(jié)構(gòu)測(cè)定 微米應(yīng)變和微晶尺寸分析 應(yīng)力和織構(gòu)分析 粒度和粒度分布測(cè)定 微米大小X射線(xiàn)束局部分析,。厚度

X射線(xiàn)粉末衍射（XRPD）技術(shù)是重要的材料表征工具之一,。粉末衍射圖中的許多信息，直接源于物相的原子排列,。在D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件的支持下,，您將能簡(jiǎn)單地實(shí)施常見(jiàn)的XRPD方法：鑒別晶相和非晶相，并測(cè)定樣品純度對(duì)多相混合物的晶相和非晶相進(jìn)行定量分析微觀(guān)結(jié)構(gòu)分析（微晶尺寸,、微應(yīng)變,、無(wú)序…）熱處理或加工制造組件產(chǎn)生的大量殘余應(yīng)力織構(gòu)（擇優(yōu)取向）分析指標(biāo)化、從頭晶體結(jié)構(gòu)測(cè)定和晶體結(jié)構(gòu)精修,，由于具有出色的適應(yīng)能力,，使用D8ADVANCE，您就可對(duì)所有類(lèi)型的樣品進(jìn)行測(cè)量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物,。南京應(yīng)力檢測(cè)分析D8 DISCOVER系列包括DISCOVER和DISCOVER Plus版本，可通過(guò)使用的是標(biāo)準(zhǔn)D8測(cè)角儀還是ATLAS測(cè)角儀進(jìn)行區(qū)分,。

D8ADVANCEECO是市面上環(huán)保的X射線(xiàn)衍射儀,，其應(yīng)用范圍、數(shù)據(jù)質(zhì)量,、靈活性和可升級(jí)性毫不打折扣,。D8ADVANCEECO是功能齊全的D8ADVANCE版本，適用于所有X射線(xiàn)粉末衍射和散射應(yīng)用,。與D8ADVANCE完全兼容,，它具有面向未來(lái)的所有靈活性。面對(duì)新應(yīng)用,，您隨時(shí)都能對(duì)它輕松完成升級(jí),，從而適應(yīng)未來(lái)實(shí)驗(yàn)室可能出現(xiàn)的任何X射線(xiàn)衍射和散射應(yīng)用需求：相鑒定定量相分析微觀(guān)結(jié)構(gòu)分析結(jié)構(gòu)測(cè)定和精修殘余應(yīng)力織構(gòu)掠入射衍射（GID）X射線(xiàn)反射分析（XRR）小角X射線(xiàn)散射（SAXS）對(duì)分布函數(shù)（PDF）分析

對(duì)分布函數(shù)分析對(duì)分布函數(shù)（PDF）分析是一種分析技術(shù)，它基于Bragg衍射以及漫散射（“總散射”）,，提供無(wú)序材料的結(jié)構(gòu)信息,。其中，您可以通過(guò)Bragg衍射峰,，了解材料的平均晶體結(jié)構(gòu)的信息（即長(zhǎng)程有序）,，通過(guò)漫散射，表征其局部結(jié)構(gòu)（即短程有序）,。就分析速度,、數(shù)據(jù)質(zhì)量以及對(duì)非晶、弱晶型,、納米晶或納米結(jié)構(gòu)材料的分析結(jié)果而言,，D8ADVANCE和TOPAS軟件是目前市面上性能較好的PDF分析解決方案：相鑒定結(jié)構(gòu)測(cè)定和精修納米粒度和形狀。無(wú)論面對(duì)何種應(yīng)用,，DIFFRAC.DAVINCI都會(huì)指引用戶(hù)選擇較好的儀器配置,。

超薄HfO2薄膜XRR測(cè)試引言隨著晶體管節(jié)點(diǎn)技術(shù)的發(fā)展,，薄膜厚度越來(lái)越薄。比如高-柵介電薄膜HfO2的厚度往往小于2nm,。在該技術(shù)節(jié)點(diǎn)的a20范圍內(nèi),。超薄膜的均勻性是制備Hf基柵氧化物的主要工藝難題之一。為了控制超薄HfO2薄膜的厚度和密度,，XRR是的測(cè)量技術(shù),。由于具有出色的適應(yīng)能力，使用D8ADVANCE,，您就可對(duì)所有類(lèi)型的樣品進(jìn)行測(cè)量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物。無(wú)論是新手用戶(hù)還是專(zhuān)業(yè)用戶(hù),，都可簡(jiǎn)單快捷,、不出錯(cuò)地對(duì)配置進(jìn)行更改。這都是通過(guò)布魯克獨(dú)特的DAVINCI設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的：配置儀器時(shí),，免工具,、免準(zhǔn)直，同時(shí)還受到自動(dòng)化的實(shí)時(shí)組件識(shí)別與驗(yàn)證的支持,。不止如此——布魯克提供基于NIST標(biāo)樣剛玉（SRM1976）的準(zhǔn)直保證,。目前，在峰位,、強(qiáng)度和分辨率方面,，市面上尚無(wú)其他粉末衍射儀的精度超過(guò)D8ADVANCE?？稍跀?shù)秒內(nèi),，輕松從先焦點(diǎn)切換到點(diǎn)焦點(diǎn)，從而擴(kuò)大應(yīng)用范圍,，同事縮短重新匹配的時(shí)間,。蘇州GaN檢測(cè)分析

UMCy樣品臺(tái)在樣品重量和大小方面具有獨(dú)特的承載能力,。厚度

D8ADVANCEPlus是D8ADVANCE的又一版本,，是面向多用途、多用戶(hù)實(shí)驗(yàn)室的X射線(xiàn)平臺(tái),。它可理想地滿(mǎn)足您對(duì)所有樣品類(lèi)型的需求,，包括粉末、塊狀材料,、纖維,、片材和薄膜（非晶、多晶和外延）：典型的X射線(xiàn)粉末衍射（XRD）對(duì)分布函數(shù)（PDF）分析小角X射線(xiàn)散射（SAXS）和廣角X射線(xiàn)散射（WAXS）X射線(xiàn)反射率（XRR)和高分辨XRD（搖擺曲線(xiàn),，倒易空間掃描）環(huán)境條件下和非環(huán)境條件下該系統(tǒng)的一大優(yōu)勢(shì)在于它能夠在多達(dá)6種不同的光束幾何之間進(jìn)行切換：從用于粉末的Bragg-Brentano聚焦幾何到用于外延薄膜的高分辨率平行光束Kα1幾何以及兩者之間的切換,。您只需按下按鈕,，整個(gè)軟件盡在掌握。厚度