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重慶第三方檢測機構(gòu)XRD衍射儀

來源: 發(fā)布時間:2025-01-27

材料研究樣品臺緊湊型UMC和緊湊型尤拉環(huán)plus樣品臺能夠精確地移動樣品,,因此擴展了D8ADVANCEPlus的樣品處理能力。緊湊型UMC樣品臺可對2Kg的樣品進行電動移動:X軸25mm,、Y軸70mm和Z軸52mm,,可用于分析大型塊狀樣品或多個小樣品;緊湊型尤拉環(huán)plus樣品臺的Phi旋轉(zhuǎn)角度不受限制,,Psi傾斜度在-5°到95°之間,,可用于應(yīng)力、織構(gòu)和外延薄膜分析,。另外,,它還具有真空多用途通孔,可通過小型薄膜樣品架或大型手動X-Y樣品臺,,將樣品固定在適當(dāng)位置,。二者均可用于溫控樣品臺,,進行非環(huán)境分析。另外,,它們還可借助DIFFRAC.DAVINCI樣品臺卡口安裝系統(tǒng),,輕松更換樣品臺。D8 DISCOVER 特點:UMC樣品臺可對重達5 kg的樣品進行掃描,、大區(qū)域映射300mm的樣品,、高通量篩選支持三個孔板。重慶第三方檢測機構(gòu)XRD衍射儀

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薄膜和涂層分析采用的原理與XRPD相同,,不過進一步提供了光束調(diào)節(jié)和角度控制功能,。典型示例包括但不限于相鑒定、晶體質(zhì)量,、殘余應(yīng)力,、織構(gòu)分析、厚度測定以及組分與應(yīng)變分析,。在對薄膜和涂層進行分析時,,著重對厚度在nm和μm之間的層狀材料進行特性分析(從非晶和多晶涂層到外延生長薄膜)。D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件可進行以下高質(zhì)量的薄膜分析:掠入射衍射X射線反射法高分辨率X射線衍射倒易空間掃描由于具有出色的適應(yīng)能力,,使用D8ADVANCE,您就可對所有類型的樣品進行測量:從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物,。湖南物相定量分析XRD衍射儀哪里好安裝在標準陶瓷X射線管前面,可多達6種不同的光束幾何之間自動地進行電動切換,,無需認為干預(yù),。

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材料屬性D2PHASER是一款便攜的臺式XRD儀器,,主要用于研究和質(zhì)控。您可以使用TOPAS軟件提供的基本參數(shù)方法研究晶體結(jié)構(gòu),、研究快速可靠的SAXS測量的納米結(jié)構(gòu)或研究微觀結(jié)構(gòu)(微晶尺寸),。SAXS—分析SBA-15介觀催化劑(PDF)Er-Melilite的晶體結(jié)構(gòu)(PDF)陽極焦炭(LC值)分析(PDF)DIFFRAC.DQUANT:對殘余奧氏體進行合規(guī)量化(PDF)布魯克為礦物和采礦業(yè)提供了先進的解決方案,旨在以可靠的方式,,支持地質(zhì)學(xué)家和礦產(chǎn)勘探者隨時隨地開展礦床發(fā)現(xiàn)和分析工作,。配備了UMC樣品臺的DISCOVER,優(yōu)勢在于對大型機械零件殘余應(yīng)力和織構(gòu)分析以及殘余奧氏體或高溫合金表征,。

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所有維度都非常好的數(shù)據(jù)質(zhì)量不論在何種應(yīng)用場合,,它都是您的可選的探測器:高的計數(shù)率、動態(tài)范圍和能量分辨率,,峰位精度布魯克提供基于NIST標樣剛玉(SRM1976c)整個角度范圍內(nèi)的準直保證,,面向未來的多用途采用了開放式設(shè)計并具有不受約束的模塊化特性的同時,將用戶友好性,、操作便利性以及安全操作性發(fā)揮得淋漓盡致,,這就是布魯克DAVINCI設(shè)計,布魯克獲得的TWIN-TWIN光路設(shè)計極大地簡化了D8ADVANCE的操作,,使之適用于多種應(yīng)用和樣品類型,。為便于用戶使用,該系統(tǒng)可在4種不同的光束幾何之間進行自動切換,。該系統(tǒng)無需人工干預(yù),,即可在Bragg-Brentano粉末衍射幾何和不良形狀的樣品、涂層和薄膜的平行光束幾何以及它們之間進行切換,,且無需人工干預(yù),,是在環(huán)境下和非環(huán)境下對包括粉末、塊狀物體,、纖維,、片材和薄膜(非晶、多晶和外延)在內(nèi)的所有類型的樣品進行分析的理想選擇,。D8 DISCOVER配備了MONTEL光學(xué)器件的IμS微焦源可提供更大強度小X射線束,,非常適合小范圍或小樣品的研究。江蘇布魯克XRD衍射儀哪里好

該X射線源有6kW的功率,,其強度是標準陶瓷射線管5倍,,在線焦點和點焦點應(yīng)用中均具有出色的性能,。重慶第三方檢測機構(gòu)XRD衍射儀

D8DISCOVER是旗艦款多功能X射線衍射儀,帶有諸多前沿技術(shù)組件,。它專為在環(huán)境條件下和非環(huán)境條件下,,對從粉末、非晶和多晶材料到外延多層薄膜等各種材料進行結(jié)構(gòu)表征而設(shè)計,。應(yīng)用范圍:1.定性相分析和定量相分析,、結(jié)構(gòu)測定和精修、微應(yīng)變和微晶尺寸分析2.X射線反射法,、掠入射衍射(GID),、面內(nèi)衍射、高分辨率XRD,、GISAXS,、GI應(yīng)力分析、晶體取向分析3.殘余應(yīng)力分析,、織構(gòu)和極圖,、微區(qū)X射線衍射、廣角X射線散射(WAXS)4.總散射分析:Bragg衍射,、對分布函數(shù)(PDF),、小角X射線散射(SAXS)重慶第三方檢測機構(gòu)XRD衍射儀