材料屬性D2PHASER是一款便攜的臺式XRD儀器，主要用于研究和質控,。您可以使用TOPAS軟件提供的基本參數(shù)方法研究晶體結構,、研究快速可靠的SAXS測量的納米結構或研究微觀結構（微晶尺寸）。SAXS—分析SBA-15介觀催化劑（PDF）Er-Melilite的晶體結構（PDF）陽極焦炭（LC值）分析（PDF）DIFFRAC.DQUANT：對殘余奧氏體進行合規(guī)量化（PDF）布魯克為礦物和采礦業(yè)提供了先進的解決方案,，旨在以可靠的方式,，支持地質學家和礦產(chǎn)勘探者隨時隨地開展礦床發(fā)現(xiàn)和分析工作。使用DIFFRAC.EVA,測定小區(qū)域結構特性,。通過積分2D圖像,，進行1D掃描，來進行定性相分析和微觀結構分析,。上海石棉檢測分析

制劑中微量API的晶型檢測引言藥物制劑生產(chǎn)過程中除需添加各種輔料外,，往往還需要經(jīng)過溶解、研磨,、干燥(溫度),、壓片等工藝過程，在此過程中API的晶型有可能發(fā)生改變,，進而可能影響到藥物的療效,。國內外FDA規(guī)定多晶型藥物在研制,、生產(chǎn)、貯存過程中必須保證其晶型的一致性,，固體制劑中使用的晶型物質應該與API晶型一致,。因此藥物制劑中的晶型分析是非常重要的。由于輔料的存在對藥物制劑中API的晶型分析增加了干擾,，特別是API含量非常少的制劑樣品,，檢測更加困難。XRPD是API晶型分析的有效手段之一,，配合高性能的先進檢測器,，為制劑中微量API的晶型檢測提供了有利工具。深圳微觀應變分析XRD衍射儀配件全能運動概念確保當樣品在移動時,，感興趣區(qū)域始終在測角儀中心,，從φ旋轉到XYZ平移和ψ傾斜，有5個自由度,。

蒙脫石散及雜質的鑒定引言蒙脫石散常見的用于用于成人及兒童急,、慢性腹瀉的藥物。蒙脫石散的主要成分為層狀結構的粘土礦物蒙脫石,。根據(jù)中國藥典,，蒙脫石散的鑒別和雜質含量的分析的主要手段為XRD。不論在何種應用場合,，它都是您的推薦探測器：高的計數(shù)率,、動態(tài)范圍和能量分辨率。布魯克提供基于NIST標樣剛玉（SRM1976c）整個角度范圍內的準直保證,。D8衍射儀系列平臺的D8ADVANCE,，是所有X射線粉末衍射和散射應用的理想之選，如：典型的X射線粉末衍射（XRD）對分布函數(shù)（PDF）分析小角X射線散射（SAXS）和廣角X射線散射（WAXS）

X射線反射率測定引言X射線反射率（XRR：X-RayReflectivity）是一種表面表征技術,，是利用X射線在不同物質表面或界面的反射線之間的干涉現(xiàn)象分析薄膜或多層膜結構的工具,。通過分析XRR圖譜(圖1)可以確定各層薄膜的密度、膜厚,、粗糙度等結構參數(shù),。XRR的特點：1無損檢測2對樣品的結晶狀態(tài)沒有要求，不論是單晶膜,、多晶膜還是非晶膜均可以進行測試3XRR適用于納米薄膜,，要求厚度小于500nm4晶面膜，表面粗糙度一般不超過5nm5多層膜之間要求有密度差專為在環(huán)境條件下和非環(huán)境條件下,，對從粉末,、非晶和多晶材料到外延多層薄膜等各種材料進行結構表征而設計。

EIGER2R具有多模式功能（0D-1D-2D、快照和掃描模式）,，覆蓋了從粉末研究到材料研究的多種測量方法。EIGER2并非傳統(tǒng)意義上的萬金油,，而是所有分析應用領域的專業(yè)用戶,。其可實現(xiàn)無吸收測量的動態(tài)范圍、用于超快粉末測量和快速倒易空間掃描的1D大尺寸以及超過500k像素的2D大覆蓋范圍,，都為多模式探測器樹立了新標準。EIGER2采用了DECTRIS公司研發(fā)的光束探測器技術,，整合了布魯克的軟件和硬件,，可為您帶來無縫易用的解決方案,。由于具有出色的適應能力,，使用D8ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物。無論面對何種應用,，DIFFRAC.DAVINCI都會指引用戶選擇較好的儀器配置。杭州D8 QUEST檢測分析

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