殘余應(yīng)力分析：：在DIFFRAC.LEPTOS中，使用sin2psi法,，用Cr輻射進(jìn)行測量,，對鋼構(gòu)件的殘余應(yīng)力進(jìn)行分析。使用了2D檢測器的μXRD：使用DIFFRAC.EVA,測定小區(qū)域結(jié)構(gòu)特性,。通過積分2D圖像，進(jìn)行1D掃描,，來進(jìn)行定性相分析和微觀結(jié)構(gòu)分析,。定性相分析：候選材料鑒別（PMI）為常見，這是因?yàn)槠鋵υ咏Y(jié)構(gòu)十分靈敏,，而這無法通過元素分析技術(shù)實(shí)現(xiàn),。高通量篩選（HTS）:在DIFFRAC.EVA中，進(jìn)行半定量分析,，以現(xiàn)實(shí)孔板上不同相的濃度,。非環(huán)境XRD：在DIFFRAC.WIZARD中配置溫度曲線并將其與測量同步，然后可以在DIFFRAC.EVR中顯示結(jié)果,。小角X射線散射（SAXS）：在DIFFRAC.SAXS中,，對EIGER2R500K通過2D模式手機(jī)的NISTSRM80119nm金納米顆粒進(jìn)行粒度分析?？诎惭b式Eulerian托架可支持多種應(yīng)用,，如應(yīng)力、織構(gòu)和外延膜分析,，包括在非環(huán)境條件下,。湖北全新XRD衍射儀推薦咨詢

納米多層薄膜物相隨深度變化引言掠入射X射線衍射（GID）是表征薄膜材料的有效手段。通過控制不同的入射角度,，進(jìn)而控制X射線在薄膜中的穿透深度,，可以確定薄膜材料的結(jié)構(gòu)隨深度變化的信息,。實(shí)例45nmNiO/355nmSnO2/玻璃薄膜的GID測試由于具有出色的適應(yīng)能力，使用D8ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進(jìn)行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,，都可簡單快捷,、不出錯(cuò)地對配置進(jìn)行更改。這都是通過布魯克獨(dú)特的DAVINCI設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的：配置儀器時(shí),，免工具,、免準(zhǔn)直，同時(shí)還受到自動(dòng)化的實(shí)時(shí)組件識(shí)別與驗(yàn)證的支持,。不只如此——布魯克提供基于NIST標(biāo)樣剛玉（SRM1976）的準(zhǔn)直保證,。目前，在峰位,、強(qiáng)度和分辨率方面,，市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE。貴州布魯克XRD衍射儀D8測角儀巨有市場超前地精確度,，為布魯克獨(dú)有的準(zhǔn)直保證奠定了基礎(chǔ),。

那么,碳晶體的晶胞參數(shù)可直接用來表征其石墨化度。XRD法利用石墨的晶格常數(shù)計(jì)算石墨化度G[1]：式中：0.3440為完全非石墨化炭的(002)晶面間距,，nm,；0.3354為理想石墨晶體的(002)晶面間距，nm,。為實(shí)際石墨試樣（002）晶面間距,，nm。實(shí)例不同石墨的石墨化度為了準(zhǔn)確的確定值或(002)峰的峰位,，需要在樣品中加入內(nèi)標(biāo)以校準(zhǔn),。本文根據(jù)QJ2507-93[2]規(guī)范，用硅作為內(nèi)標(biāo)物,，加入待測石墨樣品中,，在瑪瑙研缽中混合研磨均勻。石墨及其復(fù)合材料具有高溫下不熔融,、導(dǎo)電導(dǎo)熱性能好以及化學(xué)穩(wěn)定性優(yōu)異等特點(diǎn),，應(yīng)用于冶金、化工,、航空航天等行業(yè),。特別是近年來鋰電池的快速發(fā)展，進(jìn)一步加大了石墨材料的需求。工業(yè)上常將碳原料經(jīng)過煅燒破碎,、焙燒,、高溫石墨化處理來獲取高性能人造石墨材料。石墨的質(zhì)量對電池的性能有很大影響,，石墨化度是一種從結(jié)構(gòu)上表征石墨質(zhì)量的方法之一,。

布魯克獨(dú)有的DBO功能為X射線衍射的數(shù)據(jù)質(zhì)量樹立了全新的重要基準(zhǔn)。馬達(dá)驅(qū)動(dòng)發(fā)散狹縫,、防散射屏和可變探測器窗口的自動(dòng)同步功能,，可為您提供的數(shù)據(jù)質(zhì)量——尤其是在低2?角度時(shí)。除此之外,，LYNXEYE全系列探測器均支持DBO：SSD160-2,，LYNXEYE-2和LYNXEYEXE-T。LYNXEYEXE-T是LYNXEYE系列探測器的旗艦產(chǎn)品,。它是目前市面上的一款可采集0D,、1D和2D數(shù)據(jù)的能量色散探測器，適用于所有波長（從Cr到Ag）,，具有準(zhǔn)確的計(jì)數(shù)率和角分辨率,，是所有X射線衍射和散射應(yīng)用的理想選擇。D8D在金屬樣品檢測中,，殘余奧氏體,、殘余應(yīng)力和織構(gòu)檢測是其中小部分，目的在于確保產(chǎn)品完成復(fù)合用戶需求,。

蒙脫石散及雜質(zhì)的鑒定引言蒙脫石散常見的用于用于成人及兒童急,、慢性腹瀉的藥物。蒙脫石散的主要成分為層狀結(jié)構(gòu)的粘土礦物蒙脫石,。根據(jù)中國藥典，蒙脫石散的鑒別和雜質(zhì)含量的分析的主要手段為XRD,。不論在何種應(yīng)用場合,，它都是您的推薦探測器：高的計(jì)數(shù)率、動(dòng)態(tài)范圍和能量分辨率,。布魯克提供基于NIST標(biāo)樣剛玉（SRM1976c）整個(gè)角度范圍內(nèi)的準(zhǔn)直保證,。D8衍射儀系列平臺(tái)的D8ADVANCE，是所有X射線粉末衍射和散射應(yīng)用的理想之選,，如：典型的X射線粉末衍射（XRD）對分布函數(shù)（PDF）分析小角X射線散射（SAXS）和廣角X射線散射（WAXS）全能運(yùn)動(dòng)概念確保當(dāng)樣品在移動(dòng)時(shí),，感興趣區(qū)域始終在測角儀中心，從φ旋轉(zhuǎn)到XYZ平移和ψ傾斜,，有5個(gè)自由度,。貴州布魯克XRD衍射儀

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D8DISCOVER特點(diǎn)：微焦源IμS配備了MONTEL光學(xué)器件的IμS微焦源可提供小X射線束,，非常適合小范圍或小樣品的研究,。1.毫米大小的光束：高亮度和很低背景2.綠色環(huán)保設(shè)計(jì)：低功耗、無耗水,、使用壽命延長3.MONTEL光學(xué)器件可優(yōu)化光束形狀和發(fā)散度4.與布魯克大量組件,、光學(xué)器件和探測器完全兼容。5.提供各種技術(shù)前列的全集成X射線源,，用于產(chǎn)生X射線,。6.工業(yè)級金屬陶瓷密封管，可實(shí)現(xiàn)線焦斑或點(diǎn)焦斑,。7.專業(yè)的TWIST-TUBE（旋轉(zhuǎn)光管）技術(shù),，可快速簡便地切換線焦斑和點(diǎn)焦斑。8.微焦斑X射線源（IμS）可提高極小焦斑面積上的X射線通量,，而功耗卻很低,。9.TURBOX射線源（TXS）旋轉(zhuǎn)陽極可為線焦斑、點(diǎn)焦斑和微焦斑等應(yīng)用提供比較高X射線通量,。10.性液態(tài)金屬靶METALJET技術(shù),，可提供無出其右的X射線光源亮度。11.高效TurboX射線源（TXS-HE）可為點(diǎn)焦斑和線焦斑應(yīng)用提供比較高X射線通量,，適用于D8DISCOVERPlus,。12.這些X射線源結(jié)合指定使用X射線光學(xué)元件，可高效捕獲X射線,，并將之轉(zhuǎn)化為針對您的應(yīng)用而優(yōu)化的X射線束,。湖北全新XRD衍射儀推薦咨詢