D8ADVANCEECO可提供高亮度1kW線焦點(diǎn)X射線源，其能耗極低,，無需外設(shè)水冷,，對實(shí)驗(yàn)室基礎(chǔ)設(shè)施亦無特殊要求。您只需準(zhǔn)備家用壁式插座即可,。因此,，您將能簡單快捷地完成安裝和定位,。D8ADVANCEECO將在分析性能不打折扣的前提下，將擁有成本和立式XRD儀器的生態(tài)足跡降至,。插件分析：無需外設(shè)水冷：每年可節(jié)約高達(dá)1.700m3的自來水耗電減少50％左右需單相電源,，由于具有出色的適應(yīng)能力，使用D8ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進(jìn)行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,，都可簡單快捷,、不出錯(cuò)地對配置進(jìn)行更改。這都是通過布魯克獨(dú)特的DAVINCI設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的：配置儀器時(shí),，免工具,、免準(zhǔn)直，同時(shí)還受到自動化的實(shí)時(shí)組件識別與驗(yàn)證的支持,。布魯克提供基于NIST標(biāo)樣剛玉（SRM1976）的準(zhǔn)直保證,。目前，在峰位,、強(qiáng)度和分辨率方面,，市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE。定性相分析和定量相分析,、結(jié)構(gòu)測定和精修,、微應(yīng)變和微晶尺寸分析。湖南原位分析XRD衍射儀配件

BRAGG2D——監(jiān)控樣品制備的質(zhì)量樣品制備過程中的系統(tǒng)誤差,，是分析誤差的重要來源,。使用BraggBrentano幾何的2D衍射圖像，將樣品制備問題可視化,，如粒徑或擇優(yōu)取向,。避免就統(tǒng)計(jì)而言沒有代表性的測量結(jié)果。運(yùn)營成本低不消耗水硅條帶探測器技術(shù),，無需使用探測器氣體近乎無限的光管使用壽命可重復(fù)使用的樣品支持器低功耗（650W）布魯克與水泥業(yè)密切合作,，不斷改進(jìn)其分析解決方案。在D2PHASER方面,，我們針對水泥業(yè)提供了一個(gè)軟件包,，其中包括針對10多種原材料、熟料和不同水泥類型制定的,、供工廠應(yīng)用的測量和數(shù)據(jù)評估方法，可有效控制窯爐以及工廠的礦物學(xué),。與水泥軟件包相結(jié)合的D2PHASER非常適合小規(guī)模運(yùn)營,。對于每天需要測量大量樣品的大型工廠,，請參見D8ENDEAVOR。南京粉末衍射檢測分析D8 DISCOVER系列包括DISCOVER和DISCOVER Plus版本,，可通過使用的是標(biāo)準(zhǔn)D8測角儀還是ATLAS測角儀進(jìn)行區(qū)分,。

D8ADVANCEPlus是D8ADVANCE的又一版本，是面向多用途,、多用戶實(shí)驗(yàn)室的X射線平臺,。它可理想地滿足您對所有樣品類型的需求，包括粉末,、塊狀材料,、纖維、片材和薄膜（非晶,、多晶和外延）：典型的X射線粉末衍射（XRD）對分布函數(shù)（PDF）分析小角X射線散射（SAXS）和廣角X射線散射（WAXS）X射線反射率（XRR)和高分辨XRD（搖擺曲線,，倒易空間掃描）環(huán)境條件下和非環(huán)境條件下該系統(tǒng)的一大優(yōu)勢在于它能夠在多達(dá)6種不同的光束幾何之間進(jìn)行切換：從用于粉末的Bragg-Brentano聚焦幾何到用于外延薄膜的高分辨率平行光束Kα1幾何以及兩者之間的切換。您只需按下按鈕,，整個(gè)軟件盡在掌握,。

制劑中微量API的晶型檢測引言藥物制劑生產(chǎn)過程中除需添加各種輔料外，往往還需要經(jīng)過溶解,、研磨,、干燥(溫度)、壓片等工藝過程,，在此過程中API的晶型有可能發(fā)生改變,，進(jìn)而可能影響到藥物的療效。國內(nèi)外FDA規(guī)定多晶型藥物在研制,、生產(chǎn),、貯存過程中必須保證其晶型的一致性，固體制劑中使用的晶型物質(zhì)應(yīng)該與API晶型一致,。因此藥物制劑中的晶型分析是非常重要的,。由于輔料的存在對藥物制劑中API的晶型分析增加了干擾，特別是API含量非常少的制劑樣品,，檢測更加困難,。XRPD是API晶型分析的有效手段之一，配合高性能的先進(jìn)檢測器,，為制劑中微量API的晶型檢測提供了有利工具,。殘余應(yīng)力分析、織構(gòu)和極圖,、微區(qū)X射線衍射,、廣角X射線散射（WAXS）。

由于具有出色的適應(yīng)能力,，*使用D8ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進(jìn)行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,，都可簡單快捷,、不出錯(cuò)地對配置進(jìn)行更改。這都是通過布魯克獨(dú)特的DAVINCI設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的：配置儀器時(shí),，免工具,、免準(zhǔn)直，同時(shí)還受到自動化的實(shí)時(shí)組件識別與驗(yàn)證的支持,。不僅如此——布魯克***提供基于NIST標(biāo)樣剛玉（SRM1976）的準(zhǔn)直保證,。目前，在峰位,、強(qiáng)度和分辨率方面,，市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE。使用DIFFRAC.EVA,測定小區(qū)域結(jié)構(gòu)特性,。通過積分2D圖像,，進(jìn)行1D掃描，來進(jìn)行定性相分析和微觀結(jié)構(gòu)分析,。上海D8 ADVANCE檢測分析

在DIFFRAC.LEPTOS中,，對多層樣品進(jìn)行XRR分析，測定其薄膜厚度,、晶格失配和混合晶體濃度,。湖南原位分析XRD衍射儀配件

藥物：從藥物發(fā)現(xiàn)到藥物生產(chǎn)，D8D為藥品的整個(gè)生命周期提供支持,，其中包括結(jié)構(gòu)測定,、候選材料鑒別、配方定量和非環(huán)境穩(wěn)定性測試,。地質(zhì)學(xué)：D8D是地質(zhì)構(gòu)造研究的理想之選,。借助μXRD，哪怕是對小的包裹體進(jìn)行定性相分析和結(jié)構(gòu)測定也不在話下,。金屬：在常見的金屬樣品檢測技術(shù)中,。殘余奧氏體、殘余應(yīng)力和織構(gòu)檢測不過是其中的一小部分,，檢測目的在于確保終產(chǎn)品復(fù)合終用戶的需求,。薄膜計(jì)量：從微米厚度的涂層到納米厚度的外延膜的樣品都受益于用于評估晶體質(zhì)量、薄膜厚度,、成分外延排列和應(yīng)變松弛的一系列技術(shù),。湖南原位分析XRD衍射儀配件