不論您的預算如何,D8ADVANCEECO系列都能通過儀器配置為您帶來好的性能,。由于降低了對水和電力等資源的需求,,其運營成本降低,。出色的儀器質(zhì)量為可靠性提供了保證,同時布魯克還為之提供組件質(zhì)量保證,。無外部供水成本1kW高效發(fā)生器降低電力成本,,無外部冷卻器耗電延長了X射線管的使用壽命X射線管質(zhì)量保證:D8ADVANCEECO可用的所有高亮度X射線源均享有3年保修測角儀質(zhì)量保證:測角儀采用免維護的堅固設計,可為您帶來機械強度和較長的使用壽命,,因此能夠為您提供好的數(shù)據(jù)質(zhì)量。其中,,布魯克提供10年保修,。儀器準直保證探測器質(zhì)量保證涉及高通量篩選(HTS)和大區(qū)域掃描分析時,D8 DISCOVER是較好解決方案,。廣東XRD衍射儀哪里好
薄膜和涂層分析采用的原理與XRPD相同,,不過進一步提供了光束調(diào)節(jié)和角度控制功能。典型示例包括但不限于相鑒定,、晶體質(zhì)量,、殘余應力、織構(gòu)分析,、厚度測定以及組分與應變分析,。在對薄膜和涂層進行分析時,著重對厚度在nm和μm之間的層狀材料進行特性分析(從非晶和多晶涂層到外延生長薄膜),。D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件可進行以下高質(zhì)量的薄膜分析:掠入射衍射X射線反射法高分辨率X射線衍射倒易空間掃描由于具有出色的適應能力,,使用D8ADVANCE,您就可對所有類型的樣品進行測量:從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物,。杭州共格檢測分析孔板和沉積樣品在反射和透射中的高通量篩選。
薄膜和涂層薄膜和涂層分析采用的原理與XRPD相同,,不過進一步提供了光束調(diào)節(jié)和角度控制功能,。典型示例包括但不限于相鑒別、晶體質(zhì)量,、殘余應力,、織構(gòu)分析、厚度測定以及組分與應變分析,。在對薄膜和涂層進行分析時,,著重對厚度在nm和μm之間的層狀材料進行特性分析,從非晶和多晶涂層到外延生長薄膜等,。D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件可進行以下高質(zhì)量的薄膜分析:掠入射衍射X射線反射高分辨率X射線衍射倒易空間掃描,,由于具有出色的適應能力,使用D8ADVANCE,,您就可對所有類型的樣品進行測量:從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物,。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,都可簡單快捷,、不出錯地對配置進行更改,。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設計實現(xiàn)的:配置儀器時,免工具,、免準直,,同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持。不僅如此——布魯克提供基于NIST標樣剛玉(SRM1976)的準直保證,。目前,,在峰位、強度和分辨率方面,,市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE,。
D2PHASER—數(shù)據(jù)質(zhì)量D2PHASER所具備的數(shù)據(jù)質(zhì)量和數(shù)據(jù)采集速度遠超目前人們對臺式XRD系統(tǒng)的認知。得益于出色的分辨率,、低角度和低背景,,該儀器是從相識別、定量相分析到晶體結(jié)構(gòu)分析的所有粉末衍射應用的理想解決方案,。不僅如此——只有布魯克AXS才能在整個角度范圍內(nèi),,保證實現(xiàn)儀器對準(精度等于或優(yōu)于±0.02°2θ)。加上遵循著嚴格的儀器驗證協(xié)議,,它可為所有應用提供準確數(shù)據(jù),。由于具有出色的適應能力,使用D8ADVANCE,,您就可對所有類型的樣品進行測量:從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物。對較大300 mm的樣品進行掃描,、安裝和掃描重量不超過5kg的樣品,、自動化接口。
XRD檢測聚合物結(jié)晶度測定引言聚合物的結(jié)晶度是與其物理性質(zhì)有很大關系的結(jié)構(gòu)參數(shù),。有時,,可以通過評估結(jié)晶度來確定剛度不足,裂紋,,發(fā)白和其他缺陷的原因,。通常,測量結(jié)晶度的方法包括密度,,熱分析,,NMR、IR以及XRD方法,。這里將給出通過X射線衍射技術(shù)加全譜擬合法測定結(jié)晶度的方法的說明以及實例,。結(jié)晶度對于含有非晶態(tài)的聚合物,,其散射信號來源于兩部分:晶態(tài)的衍射峰和非晶態(tài)漫散峰。那么結(jié)晶度DOC則定義為晶態(tài)衍射峰面積與總散射信號面積的比值:定性相分析和結(jié)構(gòu)測定 微米應變和微晶尺寸分析 應力和織構(gòu)分析 粒度和粒度分布測定 微米大小X射線束局部分析,。廣東XRD衍射儀哪里好
D8D在金屬樣品檢測中,,殘余奧氏體、殘余應力和織構(gòu)檢測是其中小部分,,目的在于確保產(chǎn)品完成復合用戶需求,。廣東XRD衍射儀哪里好
D8DISCOVER是旗艦款多功能X射線衍射儀,帶有諸多前沿技術(shù)組件,。它專為在環(huán)境條件下和非環(huán)境條件下,,對從粉末、非晶和多晶材料到外延多層薄膜等各種材料進行結(jié)構(gòu)表征而設計,。應用范圍:1.定性相分析和定量相分析、結(jié)構(gòu)測定和精修,、微應變和微晶尺寸分析2.X射線反射法,、掠入射衍射(GID)、面內(nèi)衍射,、高分辨率XRD,、GISAXS、GI應力分析,、晶體取向分析3.殘余應力分析,、織構(gòu)和極圖、微區(qū)X射線衍射,、廣角X射線散射(WAXS)4.總散射分析:Bragg衍射,、對分布函數(shù)(PDF)、小角X射線散射(SAXS)廣東XRD衍射儀哪里好