X射線反射率測定引言X射線反射率（XRR：X-RayReflectivity）是一種表面表征技術(shù),，是利用X射線在不同物質(zhì)表面或界面的反射線之間的干涉現(xiàn)象分析薄膜或多層膜結(jié)構(gòu)的工具,。通過分析XRR圖譜(圖1)可以確定各層薄膜的密度、膜厚,、粗糙度等結(jié)構(gòu)參數(shù),。XRR的特點(diǎn)：1無損檢測2對樣品的結(jié)晶狀態(tài)沒有要求,，不論是單晶膜、多晶膜還是非晶膜均可以進(jìn)行測試3XRR適用于納米薄膜,，要求厚度小于500nm4晶面膜,，表面粗糙度一般不超過5nm5多層膜之間要求有密度差全能運(yùn)動(dòng)概念確保當(dāng)樣品在移動(dòng)時(shí)，感興趣區(qū)域始終在測角儀中心,，從φ旋轉(zhuǎn)到XYZ平移和ψ傾斜,，有5個(gè)自由度。廣東微觀應(yīng)變分析XRD衍射儀

D2PHASER所具備的數(shù)據(jù)質(zhì)量和數(shù)據(jù)采集速度遠(yuǎn)超目前人們對臺式XRD系統(tǒng)的認(rèn)知,。緊湊輕便的外形和易于使用的設(shè)計(jì),，十分便于移動(dòng)，您無需準(zhǔn)備復(fù)雜的基礎(chǔ)框架,、大而笨重的工作臺,，也無需供應(yīng)商前來安裝和調(diào)整，只需準(zhǔn)備標(biāo)準(zhǔn)的電源插座,，然后花費(fèi)幾分鐘的時(shí)間,，即可完成從拆包到獲得分析結(jié)果的過程。D2PHASERXE-T版D2PHASER配備了獨(dú)特的LYNXEYEXE-T探測器,，已然成為同類更好的選擇,！小于380eV的能量分辨率使其支持的數(shù)字單色器模式，可有效去除——不必要的輻射,，如樣品熒光,，Kβ輻射以及軔致輻射——背景散射，而不會明顯降低檢測速度,。江蘇實(shí)驗(yàn)室檢測XRD衍射儀定性相分析和定量相分析,、結(jié)構(gòu)測定和精修、微應(yīng)變和微晶尺寸分析,。

納米多層薄膜物相隨深度變化引言掠入射X射線衍射（GID）是表征薄膜材料的有效手段,。通過控制不同的入射角度，進(jìn)而控制X射線在薄膜中的穿透深度,，可以確定薄膜材料的結(jié)構(gòu)隨深度變化的信息,。實(shí)例45nmNiO/355nmSnO2/玻璃薄膜的GID測試由于具有出色的適應(yīng)能力，使用D8ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進(jìn)行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,，都可簡單快捷,、不出錯(cuò)地對配置進(jìn)行更改。這都是通過布魯克獨(dú)特的DAVINCI設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的：配置儀器時(shí),，免工具,、免準(zhǔn)直,，同時(shí)還受到自動(dòng)化的實(shí)時(shí)組件識別與驗(yàn)證的支持。不只如此——布魯克提供基于NIST標(biāo)樣剛玉（SRM1976）的準(zhǔn)直保證,。目前,，在峰位、強(qiáng)度和分辨率方面,，市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE,。

波特蘭水泥熟料礦相定量分析引言水泥和熟料的物理化學(xué)性能，比如凝結(jié)性能和強(qiáng)度變化等,，不光是由化學(xué)組成所決定的,，而主要是由其礦物組成所決定的。傳統(tǒng)的熟料物相分析采用BOGUE計(jì)算方法或熟料顯微鏡分析方法,。這些方法的缺點(diǎn)是眾所周知的,。目前有效的熟料礦相定量分析方法是XRD與Rietveld分析方法的結(jié)合?？梢源_定孰料中的C3S,、C2S、C3A,、C4AF等主要礦相的含量,，還可以得到C3S、C2S,、C3A等礦相多晶型含量以及游離鈣等微量相的含量,。在DIFFRAC.EVA中，進(jìn)行半定量分析,，以現(xiàn)實(shí)孔板上不同相的濃度,。

薄膜和涂層分析采用的原理與XRPD相同，不過進(jìn)一步提供了光束調(diào)節(jié)和角度控制功能,。典型示例包括但不限于相鑒定,、晶體質(zhì)量、殘余應(yīng)力,、織構(gòu)分析、厚度測定以及組分與應(yīng)變分析,。在對薄膜和涂層進(jìn)行分析時(shí),，著重對厚度在nm和μm之間的層狀材料進(jìn)行特性分析（從非晶和多晶涂層到外延生長薄膜）。D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件可進(jìn)行以下高質(zhì)量的薄膜分析：掠入射衍射X射線反射法高分辨率X射線衍射倒易空間掃描由于具有出色的適應(yīng)能力,，使用D8ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進(jìn)行測量：從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物,。支持全新技術(shù)進(jìn)行定制,，包括高性能X射線源,、定制版光學(xué)器件、定制版樣品臺和多模式探測器,。湖北點(diǎn)陣參數(shù)精確測量XRD衍射儀

在DIFFRAC.LEPTOS中,，對多層樣品的薄膜厚度、界面粗糙度和密度進(jìn)行XRR分析,。廣東微觀應(yīng)變分析XRD衍射儀

二氧化鋯多晶型分析引言二氧化鋯化學(xué)性質(zhì)不活潑,，且具有高熔點(diǎn)、高電阻率,、高折射率和低熱膨脹系數(shù)等獨(dú)特的物理化學(xué)性質(zhì),，使它成為重要的耐高溫材料、陶瓷絕緣材料和陶瓷遮光劑,。其結(jié)構(gòu)主要有三種晶型：單斜相,、四方相以及立方相。不同晶體結(jié)構(gòu)對應(yīng)的物理化學(xué)性質(zhì)有較大區(qū)別,，X射線衍射是區(qū)分二氧化鋯晶型的主要手段之一,。同時(shí)利用先進(jìn)的Rietveld方法可對二氧化鋯多晶型樣品進(jìn)行快速定量分析。實(shí)例二氧化鋯多晶型定性分析左插圖：微量的二氧化鋯單斜相右插圖：二氧化鋯四方相和立方相區(qū)分明顯廣東微觀應(yīng)變分析XRD衍射儀