X射線粉末衍射（XRPD）技術(shù)是重要的材料表征工具之一,。粉末衍射圖中的許多信息,，直接源于物相的原子排列。在D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件的支持下,，您將能簡單地實施常見的XRPD方法：鑒別晶相和非晶相,，并測定樣品純度對多相混合物的晶相和非晶相進行定量分析微觀結(jié)構(gòu)分析（微晶尺寸、微應(yīng)變,、無序…）熱處理或加工制造組件產(chǎn)生的大量殘余應(yīng)力織構(gòu)（擇優(yōu)取向）分析指標化,、從頭晶體結(jié)構(gòu)測定和晶體結(jié)構(gòu)精修，由于具有出色的適應(yīng)能力,，使用D8ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進行測量：從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物,。XRD可研究材料的結(jié)構(gòu)和物理特性,，是 重要的材料研究工具之一。深圳原位分析XRD衍射儀推薦咨詢

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波特蘭水泥熟料礦相定量分析引言水泥和熟料的物理化學性能，比如凝結(jié)性能和強度變化等,，不光是由化學組成所決定的,，而主要是由其礦物組成所決定的。傳統(tǒng)的熟料物相分析采用BOGUE計算方法或熟料顯微鏡分析方法,。這些方法的缺點是眾所周知的,。目前有效的熟料礦相定量分析方法是XRD與Rietveld分析方法的結(jié)合,?？梢源_定孰料中的C3S、C2S,、C3A,、C4AF等主要礦相的含量，還可以得到C3S,、C2S,、C3A等礦相多晶型含量以及游離鈣等微量相的含量。

納米多層薄膜物相隨深度變化引言掠入射X射線衍射（GID）是表征薄膜材料的有效手段,。通過控制不同的入射角度,，進而控制X射線在薄膜中的穿透深度，可以確定薄膜材料的結(jié)構(gòu)隨深度變化的信息,。實例45nmNiO/355nmSnO2/玻璃薄膜的GID測試由于具有出色的適應(yīng)能力,，使用D8ADVANCE，您就可對所有類型的樣品進行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物,。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶，都可簡單快捷,、不出錯地對配置進行更改,。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設(shè)計實現(xiàn)的：配置儀器時,，免工具,、免準直,，同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持,。不只如此——布魯克提供基于NIST標樣剛玉（SRM1976）的準直保證,。目前,，在峰位,、強度和分辨率方面,，市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE,。更換光學期間時,，無需工具，亦無需對光,，因此您可輕松快速地更改配置,。

對分布函數(shù)（PDF）分析是一種分析技術(shù),，它基于Bragg以及漫散射（“總散射”），提供無序材料的結(jié)構(gòu)信息,。其中,，您可以通過Bragg衍射峰，了解材料的平均晶體結(jié)構(gòu)的信息（即長程有序）,，通過漫散射,，表征其局部結(jié)構(gòu)（即短程有序）。就分析速度,、數(shù)據(jù)質(zhì)量以及對非晶,、弱晶型、納米晶或納米結(jié)構(gòu)材料的分析結(jié)果而言,，D8ADVANCE和TOPAS軟件市面上性能好的PDF分析解決方案：相鑒定結(jié)構(gòu)測定和精修納米粒度和形狀,。由于具有出色的適應(yīng)能力，使用D8ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,，都可簡單快捷,、不出錯地對配置進行更改。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設(shè)計實現(xiàn)的：配置儀器時,，免工具,、免準直，同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持,。這種X射線源可提供高亮度光束,，對mm大小的樣品研究，或使用μm大小光束進行微區(qū)X射線衍射研究的理想選擇,。浙江微觀應(yīng)變分析XRD衍射儀檢測

D8 DISCOVER系列是市面上準確,、功能強大和靈活的X射線衍射解決方案。深圳原位分析XRD衍射儀推薦咨詢

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