材料研究樣品臺緊湊型UMC和緊湊型尤拉環(huán)plus樣品臺能夠精確地移動樣品，因此擴展了D8ADVANCEPlus的樣品處理能力,。緊湊型UMC樣品臺可對2Kg的樣品進行電動移動：X軸25mm,、Y軸70mm和Z軸52mm，可用于分析大型塊狀樣品或多個小樣品,；緊湊型尤拉環(huán)plus樣品臺的Phi旋轉(zhuǎn)角度不受限制,，Psi傾斜度在-5°到95°之間，可用于應(yīng)力,、織構(gòu)和外延薄膜分析,。另外，它還具有真空多用途通孔,，可通過小型薄膜樣品架或大型手動X-Y樣品臺,，將樣品固定在適當(dāng)位置,。二者均可用于溫控樣品臺，進行非環(huán)境分析,。另外,，它們還可借助DIFFRAC.DAVINCI樣品臺卡口安裝系統(tǒng)，輕松更換樣品臺,。這種X射線源可提供高亮度光束,，對mm大小的樣品研究，或使用μm大小光束進行微區(qū)X射線衍射研究的理想選擇,。江西購買XRD衍射儀配件

RuO2薄膜掠入射XRD-GID引言薄膜材料就是厚度介于一個納米到幾個微米之間的單層或者多層材料,。由于厚度比較薄，薄膜材通常依附于一定的襯底材料之上,。常規(guī)的XRD測試,，X射線的穿透深度一般在幾個微米到幾十個微米，這遠遠大于薄膜的厚度,，導(dǎo)致薄膜的信號會受到襯底的影響（圖1）。另外,，如果衍射簡單較高,，那么X射線只能輻射到部分樣品，無法利用整個樣品的體積,，衍射信號弱,。薄膜掠入射衍射（GID：GrazingIncidenceX-RayDiffraction）很好的解絕了以上問題。所謂掠入射是指使X射線以非常小小的入射角（＜5°）照射到薄膜上,，小的入射角大大減小了在薄膜中的穿透深度，同時增加衍射顆粒的數(shù)目和x射線在薄膜中的光程,。這里有兩點說明：GID需要硬件配置,；常規(guī)GID只適合多晶薄膜和非晶薄膜，不適合單晶外延膜,。XRD衍射儀D8 DISCOVER 特點：UMC樣品臺可對重達5 kg的樣品進行掃描、大區(qū)域映射300mm的樣品,、高通量篩選支持三個孔板,。

LYNXEYEXE-T具有優(yōu)于380eV的能量分辨率，著實出色,，是市面上性能的熒光過濾器探測器系統(tǒng),。借助它，您可在零強度損失下對由銅輻射激發(fā)的鐵熒光進行100％過濾,，而且無需金屬濾波片,，因此數(shù)據(jù)也不會存在偽影,，如殘余K?和吸收邊。同樣,，也無需用到會消除強度的二級單色器,。布魯克提供獨有的LYNXEYEXE-T探測器保證：交貨時保證無壞道！LYNXEYEXE-T是LYNXEYE系列探測器的旗艦產(chǎn)品,。它是目前市面上一款可采集0D,、1D和2D數(shù)據(jù)的能量色散探測器，適用于所有波長（從Cr到Ag）,，具有準(zhǔn)確的計數(shù)率和角分辨率,，是所有X射線衍射和散射應(yīng)用的理想選擇。

X射線衍射（XRD）和反射率是對薄層結(jié)構(gòu)樣品進行無損表征的重要方法,。D8DISCOVER和DIFFRAC.SUITE軟件將有助于您使用常見的XRD方法輕松進行薄膜分析：掠入射衍射（GID）：晶相表面靈敏識別及結(jié)構(gòu)性質(zhì)測定,，包括微晶尺寸和應(yīng)變。X射線反射率測量（XRR）：用于提取從簡單的基底到高度復(fù)雜的超晶格結(jié)構(gòu)等多層樣品的厚度,、材料密度和界面結(jié)構(gòu)信息,。高分辨率X射線衍射（HRXRD）：用于分析外延生長結(jié)構(gòu)：層厚度、應(yīng)變,、弛豫,、鑲嵌、混合晶體的成分分析,。應(yīng)力和織構(gòu)（擇優(yōu)取向）分析,。在DIFFRAC.WIZARD中配置溫度曲線并將其與測量同不，然后可以在DIFFRAC.EVA中顯示結(jié)果,。

D8ADVANCEECO可提供高亮度1kW線焦點X射線源,，其能耗極低，無需外設(shè)水冷,，對實驗室基礎(chǔ)設(shè)施亦無特殊要求,。您只需準(zhǔn)備家用壁式插座即可。因此,，您將能簡單快捷地完成安裝和定位,。D8ADVANCEECO將在分析性能不打折扣的前提下，將擁有成本和立式XRD儀器的生態(tài)足跡降至,。插件分析：無需外設(shè)水冷：每年可節(jié)約高達1.700m3的自來水耗電減少50％左右需單相電源,，由于具有出色的適應(yīng)能力，使用D8ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,，都可簡單快捷,、不出錯地對配置進行更改,。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設(shè)計實現(xiàn)的：配置儀器時，免工具,、免準(zhǔn)直,，同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持。布魯克提供基于NIST標(biāo)樣剛玉（SRM1976）的準(zhǔn)直保證,。目前,，在峰位、強度和分辨率方面,，市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE,。全能運動概念確保當(dāng)樣品在移動時，感興趣區(qū)域始終在測角儀中心,，從φ旋轉(zhuǎn)到XYZ平移和ψ傾斜,，有5個自由度。XRD衍射儀

安裝在標(biāo)準(zhǔn)陶瓷X射線管前面,，可多達6種不同的光束幾何之間自動地進行電動切換,，無需認(rèn)為干預(yù)。江西購買XRD衍射儀配件

那么,碳晶體的晶胞參數(shù)可直接用來表征其石墨化度,。XRD法利用石墨的晶格常數(shù)計算石墨化度G[1]：式中：0.3440為完全非石墨化炭的(002)晶面間距,，nm；0.3354為理想石墨晶體的(002)晶面間距,，nm。為實際石墨試樣（002）晶面間距,，nm,。實例不同石墨的石墨化度為了準(zhǔn)確的確定值或(002)峰的峰位，需要在樣品中加入內(nèi)標(biāo)以校準(zhǔn),。本文根據(jù)QJ2507-93[2]規(guī)范,，用硅作為內(nèi)標(biāo)物，加入待測石墨樣品中,，在瑪瑙研缽中混合研磨均勻,。石墨及其復(fù)合材料具有高溫下不熔融、導(dǎo)電導(dǎo)熱性能好以及化學(xué)穩(wěn)定性優(yōu)異等特點,，應(yīng)用于冶金,、化工、航空航天等行業(yè),。特別是近年來鋰電池的快速發(fā)展,，進一步加大了石墨材料的需求。工業(yè)上常將碳原料經(jīng)過煅燒破碎,、焙燒,、高溫石墨化處理來獲取高性能人造石墨材料,。石墨的質(zhì)量對電池的性能有很大影響，石墨化度是一種從結(jié)構(gòu)上表征石墨質(zhì)量的方法之一,。江西購買XRD衍射儀配件