蒙脫石散及雜質(zhì)的鑒定引言蒙脫石散常見的用于用于成人及兒童急,、慢性腹瀉的藥物。蒙脫石散的主要成分為層狀結(jié)構(gòu)的粘土礦物蒙脫石,。根據(jù)中國藥典,，蒙脫石散的鑒別和雜質(zhì)含量的分析的主要手段為XRD。不論在何種應用場合,，它都是值得您選擇的探測器：高的計數(shù)率,、動態(tài)范圍和能量分辨率。布魯克提供基于NIST標樣剛玉（SRM1976c）整個角度范圍內(nèi)的準直保證,。D8衍射儀系列平臺的D8ADVANCE,，是所有X射線粉末衍射和散射應用的理想之選，如：典型的X射線粉末衍射（XRD）對分布函數(shù)（PDF）分析小角X射線散射（SAXS）和廣角X射線散射（WAXS）利用布魯克樣品臺,，能精確地操縱樣品,。根據(jù)所需自由度和樣品尺寸選合適的卡口安裝式樣品臺和落地式樣品臺。合肥弛豫檢測分析

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薄膜和涂層薄膜和涂層分析采用的原理與XRPD相同,，不過進一步提供了光束調(diào)節(jié)和角度控制功能,。典型示例包括但不限于相鑒別、晶體質(zhì)量,、殘余應力,、織構(gòu)分析、厚度測定以及組分與應變分析,。在對薄膜和涂層進行分析時,，著重對厚度在nm和μm之間的層狀材料進行特性分析，從非晶和多晶涂層到外延生長薄膜等,。D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件可進行以下高質(zhì)量的薄膜分析：掠入射衍射X射線反射高分辨率X射線衍射倒易空間掃描,，由于具有出色的適應能力，使用D8ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,，都可簡單快捷,、不出錯地對配置進行更改。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設(shè)計實現(xiàn)的：配置儀器時,，免工具,、免準直,，同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持。不僅如此——布魯克提供基于NIST標樣剛玉（SRM1976）的準直保證,。目前,，在峰位、強度和分辨率方面,，市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE,。

D8DISCOVER是旗艦款多功能X射線衍射儀，帶有諸多前沿技術(shù)組件,。它專為在環(huán)境條件下和非環(huán)境條件下,，對從粉末、非晶和多晶材料到外延多層薄膜等各種材料進行結(jié)構(gòu)表征而設(shè)計,。應用范圍：1.定性相分析和定量相分析,、結(jié)構(gòu)測定和精修、微應變和微晶尺寸分析2.X射線反射法,、掠入射衍射（GID）,、面內(nèi)衍射、高分辨率XRD,、GISAXS,、GI應力分析、晶體取向分析3.殘余應力分析,、織構(gòu)和極圖,、微區(qū)X射線衍射、廣角X射線散射（WAXS）4.總散射分析：Bragg衍射,、對分布函數(shù)（PDF）,、小角X射線散射（SAXS）D8 DISCOVER系列包括DISCOVER和DISCOVER Plus版本，可通過使用的是標準D8測角儀還是ATLAS測角儀進行區(qū)分,。

BRAGG2D——監(jiān)控樣品制備的質(zhì)量樣品制備過程中的系統(tǒng)誤差,，是分析誤差的重要來源。使用BraggBrentano幾何的2D衍射圖像,，將樣品制備問題可視化，如粒徑或擇優(yōu)取向,。避免就統(tǒng)計而言沒有代表性的測量結(jié)果,。運營成本低不消耗水硅條帶探測器技術(shù)，無需使用探測器氣體近乎無限的光管使用壽命可重復使用的樣品支持器低功耗（650W）布魯克與水泥業(yè)密切合作,，不斷改進其分析解決方案,。在D2PHASER方面，我們針對水泥業(yè)提供了一個軟件包,，其中包括針對10多種原材料,、熟料和不同水泥類型制定的,、供工廠應用的測量和數(shù)據(jù)評估方法，可有效控制窯爐以及工廠的礦物學,。與水泥軟件包相結(jié)合的D2PHASER非常適合小規(guī)模運營,。對于每天需要測量大量樣品的大型工廠，請參見D8ENDEAVOR,。在DIFFRAC.LEPTOS中,，對多層樣品進行XRR分析，測定其薄膜厚度,、晶格失配和混合晶體濃度,。廣州點陣參數(shù)精確測量XRD衍射儀配件

新結(jié)構(gòu)測定以及多晶篩選是藥物開發(fā)的關(guān)鍵步驟，對此,，D8 DISCOVER具有高通量篩選功能,。合肥弛豫檢測分析

X射線衍射（XRD）和反射率是對薄層結(jié)構(gòu)樣品進行無損表征的重要方法。D8DISCOVER和DIFFRAC.SUITE軟件將有助于您使用常見的XRD方法輕松進行薄膜分析：掠入射衍射（GID）：晶相表面靈敏識別及結(jié)構(gòu)性質(zhì)測定,，包括微晶尺寸和應變,。X射線反射率測量（XRR）：用于提取從簡單的基底到高度復雜的超晶格結(jié)構(gòu)等多層樣品的厚度、材料密度和界面結(jié)構(gòu)信息,。高分辨率X射線衍射（HRXRD）：用于分析外延生長結(jié)構(gòu)：層厚度,、應變、弛豫,、鑲嵌,、混合晶體的成分分析。應力和織構(gòu)（擇優(yōu)取向）分析,。合肥弛豫檢測分析