納米多層薄膜物相隨深度變化引言掠入射X射線衍射(GID)是表征薄膜材料的有效手段,。通過控制不同的入射角度,進而控制X射線在薄膜中的穿透深度,,可以確定薄膜材料的結構隨深度變化的信息,。實例45nmNiO/355nmSnO2/玻璃薄膜的GID測試由于具有出色的適應能力,使用D8ADVANCE,,您就可對所有類型的樣品進行測量:從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,,都可簡單快捷,、不出錯地對配置進行更改。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設計實現(xiàn)的:配置儀器時,,免工具,、免準直,同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持,。不只如此——布魯克提供基于NIST標樣剛玉(SRM1976)的準直保證,。目前,在峰位,、強度和分辨率方面,,市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE。新結構測定以及多晶篩選是藥物開發(fā)的關鍵步驟,,對此,,D8 DISCOVER具有高通量篩選功能。深圳微觀應變分析XRD衍射儀配件
D8ADVANCEPlus是D8ADVANCE的又一版本,,是面向多用途,、多用戶實驗室的X射線平臺。它可理想地滿足您對所有樣品類型的需求,,包括粉末,、塊狀材料、纖維,、片材和薄膜(非晶,、多晶和外延):典型的X射線粉末衍射(XRD)對分布函數(shù)(PDF)分析小角X射線散射(SAXS)和廣角X射線散射(WAXS)X射線反射率(XRR)和高分辨XRD(搖擺曲線,倒易空間掃描)環(huán)境條件下和非環(huán)境條件下該系統(tǒng)的一大優(yōu)勢在于它能夠在多達6種不同的光束幾何之間進行切換:從用于粉末的Bragg-Brentano聚焦幾何到用于外延薄膜的高分辨率平行光束Kα1幾何以及兩者之間的切換,。您只需按下按鈕,,整個軟件盡在掌握。天津XRD衍射儀推薦咨詢該X射線源有6kW的功率,,其強度是標準陶瓷射線管5倍,,在線焦點和點焦點應用中均具有出色的性能。
薄膜和涂層分析采用的原理與XRPD相同,不過進一步提供了光束調節(jié)和角度控制功能,。典型示例包括但不限于相鑒定,、晶體質量、殘余應力,、織構分析,、厚度測定以及組分與應變分析。在對薄膜和涂層進行分析時,,著重對厚度在nm和μm之間的層狀材料進行特性分析(從非晶和多晶涂層到外延生長薄膜),。D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件可進行以下高質量的薄膜分析:掠入射衍射X射線反射法高分辨率X射線衍射倒易空間掃描。由于具有出色的適應能力,,使用D8ADVANCE,,您就可對所有類型的樣品進行測量:從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物,。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,,都可簡單快捷、不出錯地對配置進行更改,。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設計實現(xiàn)的:配置儀器時,,免工具、免準直,,同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持,。
基于的D8衍射儀系列平臺的D8ADVANCE,是所有X射線粉末衍射和散射應用的理想之選,,如:典型的X射線粉末衍射(XRD)對分布函數(shù)(PDF)分析小角X射線散射(SAXS)和廣角X射線散射(WAXS)由于具有出色的適應能力,,使用D8ADVANCE,您就可對所有類型的樣品進行測量:從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物,。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,都可簡單快捷,、不出錯地對配置進行更改,。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設計實現(xiàn)的:配置儀器時,免工具,、免準直,同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持,。不止如此——布魯克提供基于NIST標樣剛玉(SRM1976)的準直保證,。目前,在峰位,、強度和分辨率方面,,市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE。涉及高通量篩選(HTS)和大區(qū)域掃描分析時,D8 DISCOVER是較好解決方案,。
獲得的TRIO光路簡化了D8ADVANCE的操作,,使之適用于多種應用和樣品類型。為便于用戶使用,,該系統(tǒng)提供了自動化電動切換功能,,可在多達6種不同的光束幾何之間進行自動切換。系統(tǒng)無需人工干預,,即可在三個光路之間切換:用于粉末分析的Bragg-Brentano聚焦幾何用于毛細管,、GID和XRR的平行光束Kα1,2幾何用于外延薄膜的高分辨率平行光束Kα1幾何它非常適合在環(huán)境條件或非環(huán)境條件下對所有樣品類型進行分析,其中包括粉末,、塊狀材料,、纖維、片材和薄膜(非晶,、多晶和外延),。憑借RapidRSM技術,能在 短的時間內,,測量大面積倒易空間,。在DIFFRAC.LEPTOS中,進行倒易點陣轉換和分析,。江西進口XRD衍射儀檢測
UMC樣品臺通常用于分析大塊樣品,、掃描測量應用和涂層分析,也能測量多個小樣品或用于執(zhí)行非環(huán)境實驗,。深圳微觀應變分析XRD衍射儀配件
材料屬性D2PHASER是一款便攜的臺式XRD儀器,,主要用于研究和質控。您可以使用TOPAS軟件提供的基本參數(shù)方法研究晶體結構,、研究快速可靠的SAXS測量的納米結構或研究微觀結構(微晶尺寸),。SAXS—分析SBA-15介觀催化劑(PDF)Er-Melilite的晶體結構(PDF)陽極焦炭(LC值)分析(PDF)DIFFRAC.DQUANT:對殘余奧氏體進行合規(guī)量化(PDF)布魯克為礦物和采礦業(yè)提供了先進的解決方案,旨在以可靠的方式,,支持地質學家和礦產(chǎn)勘探者隨時隨地開展礦床發(fā)現(xiàn)和分析工作,。深圳微觀應變分析XRD衍射儀配件