D2PHASER—數(shù)據(jù)質(zhì)量D2PHASER所具備的數(shù)據(jù)質(zhì)量和數(shù)據(jù)采集速度遠超目前人們對臺式XRD系統(tǒng)的認知,。得益于出色的分辨率,、低角度和低背景,，該儀器是從相識別,、定量相分析到晶體結(jié)構(gòu)分析的所有粉末衍射應用的理想解決方案,。不僅如此——只有布魯克AXS才能在整個角度范圍內(nèi),，保證實現(xiàn)儀器對準（精度等于或優(yōu)于±0.02°2θ）,。加上遵循著嚴格的儀器驗證協(xié)議,，它可為所有應用提供準確數(shù)據(jù),。由于具有出色的適應能力，使用D8ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物。在DIFFRAC.LEPTOS中,，使用sin2psi法,，用Cr輻射進行測量，對鋼構(gòu)件的殘余應力進行分析,。實驗室檢測XRD衍射儀均價

所有維度都非常好的數(shù)據(jù)質(zhì)量不論在何種應用場合,，它都是您的可選的探測器：高的計數(shù)率、動態(tài)范圍和能量分辨率,，峰位精度布魯克提供基于NIST標樣剛玉（SRM1976c）整個角度范圍內(nèi)的準直保證,，面向未來的多用途采用了開放式設(shè)計并具有不受約束的模塊化特性的同時，將用戶友好性,、操作便利性以及安全操作性發(fā)揮得淋漓盡致,，這就是布魯克DAVINCI設(shè)計，布魯克獲得的TWIN-TWIN光路設(shè)計極大地簡化了D8ADVANCE的操作,，使之適用于多種應用和樣品類型,。為便于用戶使用，該系統(tǒng)可在4種不同的光束幾何之間進行自動切換,。該系統(tǒng)無需人工干預,，即可在Bragg-Brentano粉末衍射幾何和不良形狀的樣品、涂層和薄膜的平行光束幾何以及它們之間進行切換,，且無需人工干預,，是在環(huán)境下和非環(huán)境下對包括粉末、塊狀物體,、纖維,、片材和薄膜（非晶、多晶和外延）在內(nèi)的所有類型的樣品進行分析的理想選擇,。廣州BRUKERXRD衍射儀哪里好新結(jié)構(gòu)測定以及多晶篩選是藥物開發(fā)的關(guān)鍵步驟,，對此，D8 DISCOVER具有高通量篩選功能,。

納米多層薄膜物相隨深度變化引言掠入射X射線衍射（GID）是表征薄膜材料的有效手段,。通過控制不同的入射角度，進而控制X射線在薄膜中的穿透深度,，可以確定薄膜材料的結(jié)構(gòu)隨深度變化的信息,。實例45nmNiO/355nmSnO2/玻璃薄膜的GID測試由于具有出色的適應能力,，使用D8ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,，都可簡單快捷,、不出錯地對配置進行更改。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設(shè)計實現(xiàn)的：配置儀器時,，免工具,、免準直，同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持,。不只如此——布魯克提供基于NIST標樣剛玉（SRM1976）的準直保證,。目前，在峰位,、強度和分辨率方面,，市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE。

超薄HfO2薄膜XRR測試引言隨著晶體管節(jié)點技術(shù)的發(fā)展,，薄膜厚度越來越薄,。比如高-柵介電薄膜HfO2的厚度往往小于2nm。在該技術(shù)節(jié)點的a20范圍內(nèi),。超薄膜的均勻性是制備Hf基柵氧化物的主要工藝難題之一,。為了控制超薄HfO2薄膜的厚度和密度，XRR是的測量技術(shù),。由于具有出色的適應能力,，使用D8ADVANCE，您就可對所有類型的樣品進行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物,。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶，都可簡單快捷,、不出錯地對配置進行更改,。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設(shè)計實現(xiàn)的：配置儀器時，免工具,、免準直,，同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持。不止如此——布魯克提供基于NIST標樣剛玉（SRM1976）的準直保證,。目前,，在峰位、強度和分辨率方面,，市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE,。D8D和DIFFRAC.SUITE軟件將有助于您使用常見的XRD方法輕松進行薄膜分析：掠入射衍射、X射線反射率測量。

對于需要探索材料極限的工業(yè)金屬樣品,，通常需要進行殘余應力和織構(gòu)測量,。通過消除樣品表面的拉應力或引起壓應力，可延長其功能壽命,。這可通過熱處理或噴丸處理等物理工藝來完成,。構(gòu)成塊狀樣品的微晶的取向，決定了裂紋的生長方式,。而通過在材料中形成特定的織構(gòu),，可顯著增強其特性。這兩種技術(shù)在優(yōu)化制造法（例如增材制造）領(lǐng)域也占有一席之地,。由于具有出色的適應能力,，使用D8ADVANCE，您就可對所有類型的樣品進行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物,。在DIFFRAC.TEXTURE中，使用球諧函數(shù)和分量方法,，生成極圖,、取向分布函數(shù)（ODF）和體積定量分析。上海BRUKERXRD衍射儀配件

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D8DISCOVER是旗艦款多功能X射線衍射儀,，帶有諸多前沿技術(shù)組件。它專為在環(huán)境條件下和非環(huán)境條件下,，對從粉末,、非晶和多晶材料到外延多層薄膜等各種材料進行結(jié)構(gòu)表征而設(shè)計。應用范圍：1.定性相分析和定量相分析,、結(jié)構(gòu)測定和精修,、微應變和微晶尺寸分析2.X射線反射法、掠入射衍射（GID）,、面內(nèi)衍射,、高分辨率XRD、GISAXS,、GI應力分析,、晶體取向分析3.殘余應力分析,、織構(gòu)和極圖、微區(qū)X射線衍射,、廣角X射線散射（WAXS）4.總散射分析：Bragg衍射,、對分布函數(shù)（PDF）、小角X射線散射（SAXS）實驗室檢測XRD衍射儀均價