材料屬性D2PHASER是一款便攜的臺式XRD儀器,，主要用于研究和質控,。您可以使用TOPAS軟件提供的基本參數(shù)方法研究晶體結構,、研究快速可靠的SAXS測量的納米結構或研究微觀結構（微晶尺寸）。SAXS—分析SBA-15介觀催化劑（PDF）Er-Melilite的晶體結構（PDF）陽極焦炭（LC值）分析（PDF）DIFFRAC.DQUANT：對殘余奧氏體進行合規(guī)量化（PDF）布魯克為礦物和采礦業(yè)提供了先進的解決方案,，旨在以可靠的方式,，支持地質學家和礦產勘探者隨時隨地開展礦床發(fā)現(xiàn)和分析工作。從微米到納米厚度的涂層或外延膜的樣品都受益,，用于評估晶體質量,、薄膜厚度、成分外延排列和應變松弛技術,。遼寧XRD衍射儀推薦咨詢

殘余應力分析：：在DIFFRAC.LEPTOS中,，使用sin2psi法，用Cr輻射進行測量,，對鋼構件的殘余應力進行分析,。使用了2D檢測器的μXRD：使用DIFFRAC.EVA,測定小區(qū)域結構特性,。通過積分2D圖像，進行1D掃描,，來進行定性相分析和微觀結構分析,。定性相分析：候選材料鑒別（PMI）為常見，這是因為其對原子結構十分靈敏,，而這無法通過元素分析技術實現(xiàn),。高通量篩選（HTS）:在DIFFRAC.EVA中，進行半定量分析,，以現(xiàn)實孔板上不同相的濃度,。非環(huán)境XRD：在DIFFRAC.WIZARD中配置溫度曲線并將其與測量同步，然后可以在DIFFRAC.EVR中顯示結果,。小角X射線散射（SAXS）：在DIFFRAC.SAXS中,，對EIGER2R500K通過2D模式手機的NISTSRM80119nm金納米顆粒進行粒度分析。云南檢測實驗室XRD衍射儀UMC樣品臺通常用于分析大塊樣品,、掃描測量應用和涂層分析,，也能測量多個小樣品或用于執(zhí)行非環(huán)境實驗。

對分布函數(shù)（PDF）分析是一種分析技術,，它基于Bragg以及漫散射（“總散射”）,，提供無序材料的結構信息。其中,，您可以通過Bragg衍射峰,，了解材料的平均晶體結構的信息（即長程有序），通過漫散射,，表征其局部結構（即短程有序）,。就分析速度、數(shù)據(jù)質量以及對非晶,、弱晶型,、納米晶或納米結構材料的分析結果而言，D8ADVANCE和TOPAS軟件市面上性能好的PDF分析解決方案：相鑒定結構測定和精修納米粒度和形狀,。由于具有出色的適應能力,，使用D8ADVANCE，您就可對所有類型的樣品進行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物,。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶，都可簡單快捷,、不出錯地對配置進行更改,。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設計實現(xiàn)的：配置儀器時，免工具,、免準直,，同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持,。

獲得的TRIO光路簡化了D8ADVANCE的操作，使之適用于多種應用和樣品類型,。為便于用戶使用,，該系統(tǒng)提供了自動化電動切換功能，可在多達6種不同的光束幾何之間進行自動切換,。系統(tǒng)無需人工干預,，即可在三個光路之間切換：用于粉末分析的Bragg-Brentano聚焦幾何用于毛細管、GID和XRR的平行光束Kα1,2幾何用于外延薄膜的高分辨率平行光束Kα1幾何它非常適合在環(huán)境條件或非環(huán)境條件下對所有樣品類型進行分析,，其中包括粉末,、塊狀材料、纖維,、片材和薄膜（非晶,、多晶和外延）?？偵⑸浞治觯築ragg衍射,、對分布函數(shù)（PDF）、小角X射線散射（SAXS）,。

藥物制劑生產過程中除需添加各種輔料外,，往往還需要經(jīng)過溶解、研磨,、干燥(溫度),、壓片等工藝過程，在此過程中API的晶型有可能發(fā)生改變,，進而可能影響到藥物的療效,。國內外FDA規(guī)定多晶型藥物在研制、生產,、貯存過程中必須保證其晶型的一致性,，固體制劑中使用的晶型物質應該與API晶型一致。因此藥物制劑中的晶型分析是非常重要的,。由于輔料的存在對藥物制劑中API的晶型分析增加了干擾,，特別是API含量非常少的制劑樣品，檢測更加困難,。XRPD是API晶型分析的有效手段之一，配合高性能的先進檢測器,，為制劑中微量API的晶型檢測提供了有利工具,。LYNXEYE XE-T主要用于0D、1D和2D數(shù)據(jù)采集,，具有始終有效的出色能量鑒別能力,，同時不會損失二級單色器信號,。第三方檢測機構XRD衍射儀推薦咨詢

根據(jù)應用需求，調節(jié)探測器的位置和方向,，包括0°/ 90°免工具切換以及探測器位置可連續(xù)變化,、支持自動對光。遼寧XRD衍射儀推薦咨詢

D8ADVANCEPlus是D8ADVANCE的又一版本,，是面向多用途,、多用戶實驗室的X射線平臺。它可理想地滿足您對所有樣品類型的需求,，包括粉末,、塊狀材料、纖維,、片材和薄膜（非晶,、多晶和外延）：典型的X射線粉末衍射（XRD）對分布函數(shù)（PDF）分析小角X射線散射（SAXS）和廣角X射線散射（WAXS）X射線反射率（XRR)和高分辨XRD（搖擺曲線，倒易空間掃描）環(huán)境條件下和非環(huán)境條件下該系統(tǒng)的一大優(yōu)勢在于它能夠在多達6種不同的光束幾何之間進行切換：從用于粉末的Bragg-Brentano聚焦幾何到用于外延薄膜的高分辨率平行光束Kα1幾何以及兩者之間的切換,。您只需按下按鈕,，整個軟件盡在掌握。遼寧XRD衍射儀推薦咨詢