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合肥掠入射檢測(cè)分析

來源: 發(fā)布時(shí)間:2025-05-14

X射線衍射(XRD)和反射率是對(duì)薄層結(jié)構(gòu)樣品進(jìn)行無損表征的重要方法,。D8DISCOVER和DIFFRAC.SUITE軟件將有助于您使用常見的XRD方法輕松進(jìn)行薄膜分析:掠入射衍射(GID):晶相表面靈敏識(shí)別及結(jié)構(gòu)性質(zhì)測(cè)定,,包括微晶尺寸和應(yīng)變,。X射線反射率測(cè)量(XRR):用于提取從簡(jiǎn)單的基底到高度復(fù)雜的超晶格結(jié)構(gòu)等多層樣品的厚度,、材料密度和界面結(jié)構(gòu)信息,。高分辨率X射線衍射(HRXRD):用于分析外延生長結(jié)構(gòu):層厚度,、應(yīng)變,、弛豫、鑲嵌,、混合晶體的成分分析,。應(yīng)力和織構(gòu)(擇優(yōu)取向)分析??稍跀?shù)秒內(nèi),,輕松從先焦點(diǎn)切換到點(diǎn)焦點(diǎn),從而擴(kuò)大應(yīng)用范圍,,同事縮短重新匹配的時(shí)間,。合肥掠入射檢測(cè)分析

合肥掠入射檢測(cè)分析,XRD衍射儀

EIGER2R具有多模式功能(0D-1D-2D、快照和掃描模式),,覆蓋了從粉末研究到材料研究的多種測(cè)量方法,。EIGER2并非傳統(tǒng)意義上的萬金油,而是所有分析應(yīng)用領(lǐng)域的專業(yè)用戶,。其可實(shí)現(xiàn)無吸收測(cè)量的動(dòng)態(tài)范圍,、用于超快粉末測(cè)量和快速倒易空間掃描的1D大尺寸以及超過500k像素的2D大覆蓋范圍,都為多模式探測(cè)器樹立了新標(biāo)準(zhǔn),。EIGER2采用了DECTRIS公司研發(fā)的光束探測(cè)器技術(shù),,整合了布魯克的軟件和硬件,,可為您帶來無縫易用的解決方案。由于具有出色的適應(yīng)能力,,使用D8ADVANCE,,您就可對(duì)所有類型的樣品進(jìn)行測(cè)量:從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物,。湖南進(jìn)口XRD衍射儀檢測(cè)LYNXEYE XE-T主要用于0D,、1D和2D數(shù)據(jù)采集,具有始終有效的出色能量鑒別能力,,同時(shí)不會(huì)損失二級(jí)單色器信號(hào),。

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對(duì)分布函數(shù)(PDF)分析是一種分析技術(shù),它基于Bragg以及漫散射(“總散射”),,提供無序材料的結(jié)構(gòu)信息,。其中,您可以通過Bragg衍射峰,,了解材料的平均晶體結(jié)構(gòu)的信息(即長程有序),,通過漫散射,表征其局部結(jié)構(gòu)(即短程有序),。就分析速度,、數(shù)據(jù)質(zhì)量以及對(duì)非晶、弱晶型,、納米晶或納米結(jié)構(gòu)材料的分析結(jié)果而言,,D8ADVANCE和TOPAS軟件市面上性能好的PDF分析解決方案:相鑒定結(jié)構(gòu)測(cè)定和精修納米粒度和形狀。由于具有出色的適應(yīng)能力,,使用D8ADVANCE,,您就可對(duì)所有類型的樣品進(jìn)行測(cè)量:從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物,。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,,都可簡(jiǎn)單快捷、不出錯(cuò)地對(duì)配置進(jìn)行更改,。這都是通過布魯克獨(dú)特的DAVINCI設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的:配置儀器時(shí),,免工具、免準(zhǔn)直,,同時(shí)還受到自動(dòng)化的實(shí)時(shí)組件識(shí)別與驗(yàn)證的支持,。

藥用滑石粉中石棉的測(cè)定引言滑石粉主要成分是滑石(含水的硅酸鎂)?;塾糜卺t(yī)藥,、食品行業(yè)的添加劑。在滑石成礦過程中,,常伴生有其他礦石,,如角閃石和蛇紋石等石棉成分,。石棉為物質(zhì)。而根據(jù)中國藥典,,藥用滑石粉中,,石棉應(yīng)“不得檢出”。在2θ=10.5±0.1°處的XRD特征峰為角閃石特征峰,,在2θ=12.1±0.1°和2θ=24.3±0.1°處的XRD特征峰為蛇紋石特征峰,。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,都可簡(jiǎn)單快捷,、不出錯(cuò)地對(duì)配置進(jìn)行更改,。這都是通過布魯克獨(dú)特的DAVINCI設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的:配置儀器時(shí),免工具,、免準(zhǔn)直,,同時(shí)還受到自動(dòng)化的實(shí)時(shí)組件識(shí)別與驗(yàn)證的支持。不僅如此——布魯克提供基于NIST標(biāo)樣剛玉(SRM1976)的準(zhǔn)直保證,。目前,,在峰位、強(qiáng)度和分辨率方面,,市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE,。在DIFFRAC.TEXTURE中,,使用球諧函數(shù)和分量方法,,生成極圖、取向分布函數(shù)(ODF)和體積定量分析,。

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D8DISCOVER特點(diǎn):微焦源IμS配備了MONTEL光學(xué)器件的IμS微焦源可提供小X射線束,,非常適合小范圍或小樣品的研究。1.毫米大小的光束:高亮度和很低背景2.綠色環(huán)保設(shè)計(jì):低功耗,、無耗水,、使用壽命延長3.MONTEL光學(xué)器件可優(yōu)化光束形狀和發(fā)散度4.與布魯克大量組件、光學(xué)器件和探測(cè)器完全兼容,。5.提供各種技術(shù)前列的全集成X射線源,,用于產(chǎn)生X射線。6.工業(yè)級(jí)金屬陶瓷密封管,,可實(shí)現(xiàn)線焦斑或點(diǎn)焦斑,。7.專業(yè)的TWIST-TUBE(旋轉(zhuǎn)光管)技術(shù),可快速簡(jiǎn)便地切換線焦斑和點(diǎn)焦斑,。8.微焦斑X射線源(IμS)可提高極小焦斑面積上的X射線通量,,而功耗卻很低。9.TURBOX射線源(TXS)旋轉(zhuǎn)陽極可為線焦斑,、點(diǎn)焦斑和微焦斑等應(yīng)用提供比較高X射線通量,。10.性液態(tài)金屬靶METALJET技術(shù),,可提供無出其右的X射線光源亮度。11.高效TurboX射線源(TXS-HE)可為點(diǎn)焦斑和線焦斑應(yīng)用提供比較高X射線通量,,適用于D8DISCOVERPlus,。12.這些X射線源結(jié)合指定使用X射線光學(xué)元件,可高效捕獲X射線,,并將之轉(zhuǎn)化為針對(duì)您的應(yīng)用而優(yōu)化的X射線束,。更換光學(xué)期間時(shí),無需工具,,亦無需對(duì)光,,因此您可輕松快速地更改配置。湖南進(jìn)口XRD衍射儀檢測(cè)

使用D8D,,您將能在原位循環(huán)條件下測(cè)試電池材料,,直截了當(dāng)?shù)孬@取不斷變化的儲(chǔ)能材料和晶體結(jié)構(gòu)和相位信息。合肥掠入射檢測(cè)分析

制劑中微量API的晶型檢測(cè)引言藥物制劑生產(chǎn)過程中除需添加各種輔料外,,往往還需要經(jīng)過溶解,、研磨、干燥(溫度),、壓片等工藝過程,,在此過程中API的晶型有可能發(fā)生改變,進(jìn)而可能影響到藥物的療效,。國內(nèi)外FDA規(guī)定多晶型藥物在研制,、生產(chǎn)、貯存過程中必須保證其晶型的一致性,,固體制劑中使用的晶型物質(zhì)應(yīng)該與API晶型一致,。因此藥物制劑中的晶型分析是非常重要的。由于輔料的存在對(duì)藥物制劑中API的晶型分析增加了干擾,,特別是API含量非常少的制劑樣品,,檢測(cè)更加困難。XRPD是API晶型分析的有效手段之一,,配合高性能的先進(jìn)檢測(cè)器,,為制劑中微量API的晶型檢測(cè)提供了有利工具。合肥掠入射檢測(cè)分析

標(biāo)簽: 顯微CT XRD衍射儀