薄膜和涂層分析采用的原理與XRPD相同,，不過(guò)進(jìn)一步提供了光束調(diào)節(jié)和角度控制功能,。典型示例包括但不限于相鑒定、晶體質(zhì)量,、殘余應(yīng)力,、織構(gòu)分析、厚度測(cè)定以及組分與應(yīng)變分析,。在對(duì)薄膜和涂層進(jìn)行分析時(shí),，著重對(duì)厚度在nm和μm之間的層狀材料進(jìn)行特性分析（從非晶和多晶涂層到外延生長(zhǎng)薄膜）。D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件可進(jìn)行以下高質(zhì)量的薄膜分析：掠入射衍射X射線(xiàn)反射法高分辨率X射線(xiàn)衍射倒易空間掃描由于具有出色的適應(yīng)能力,，使用D8ADVANCE,，您就可對(duì)所有類(lèi)型的樣品進(jìn)行測(cè)量：從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物,。對(duì)較大300 mm的樣品進(jìn)行掃描,、安裝和掃描重量不超過(guò)5kg的樣品,、自動(dòng)化接口。江蘇布魯克XRD衍射儀哪里好

材料屬性D2PHASER是一款便攜的臺(tái)式XRD儀器,，主要用于研究和質(zhì)控,。您可以使用TOPAS軟件提供的基本參數(shù)方法研究晶體結(jié)構(gòu)、研究快速可靠的SAXS測(cè)量的納米結(jié)構(gòu)或研究微觀結(jié)構(gòu)（微晶尺寸）,。SAXS—分析SBA-15介觀催化劑（PDF）Er-Melilite的晶體結(jié)構(gòu)（PDF）陽(yáng)極焦炭（LC值）分析（PDF）DIFFRAC.DQUANT：對(duì)殘余奧氏體進(jìn)行合規(guī)量化（PDF）布魯克為礦物和采礦業(yè)提供了先進(jìn)的解決方案,，旨在以可靠的方式，支持地質(zhì)學(xué)家和礦產(chǎn)勘探者隨時(shí)隨地開(kāi)展礦床發(fā)現(xiàn)和分析工作,。廣州BRUKERXRD衍射儀樣品臺(tái)的卡口座允許在測(cè)角儀上快速準(zhǔn)確地更換整個(gè)樣品臺(tái),，較大限度地提高實(shí)驗(yàn)靈活性。

X射線(xiàn)衍射（XRD）和反射率是對(duì)薄層結(jié)構(gòu)樣品進(jìn)行無(wú)損表征的重要方法,。D8DISCOVER和DIFFRAC.SUITE軟件將有助于您使用常見(jiàn)的XRD方法輕松進(jìn)行薄膜分析：掠入射衍射（GID）：晶相表面靈敏識(shí)別及結(jié)構(gòu)性質(zhì)測(cè)定,，包括微晶尺寸和應(yīng)變。X射線(xiàn)反射率測(cè)量（XRR）：用于提取從簡(jiǎn)單的基底到高度復(fù)雜的超晶格結(jié)構(gòu)等多層樣品的厚度,、材料密度和界面結(jié)構(gòu)信息,。高分辨率X射線(xiàn)衍射（HRXRD）：用于分析外延生長(zhǎng)結(jié)構(gòu)：層厚度、應(yīng)變,、弛豫,、鑲嵌、混合晶體的成分分析,。應(yīng)力和織構(gòu)（擇優(yōu)取向）分析,。

對(duì)分布函數(shù)分析對(duì)分布函數(shù)（PDF）分析是一種分析技術(shù)，它基于Bragg衍射以及漫散射（“總散射”）,，提供無(wú)序材料的結(jié)構(gòu)信息。其中,，您可以通過(guò)Bragg衍射峰，了解材料的平均晶體結(jié)構(gòu)的信息（即長(zhǎng)程有序）,，通過(guò)漫散射，表征其局部結(jié)構(gòu)（即短程有序）,。就分析速度,、數(shù)據(jù)質(zhì)量以及對(duì)非晶,、弱晶型、納米晶或納米結(jié)構(gòu)材料的分析結(jié)果而言,，D8ADVANCE和TOPAS軟件是目前市面上性能較好的PDF分析解決方案：相鑒定結(jié)構(gòu)測(cè)定和精修納米粒度和形狀,。無(wú)論面對(duì)何種應(yīng)用，DIFFRAC.DAVINCI都會(huì)指引用戶(hù)選擇較好的儀器配置,。

那么,碳晶體的晶胞參數(shù)可直接用來(lái)表征其石墨化度,。XRD法利用石墨的晶格常數(shù)計(jì)算石墨化度G[1]：式中：0.3440為完全非石墨化炭的(002)晶面間距，nm,；0.3354為理想石墨晶體的(002)晶面間距,，nm。為實(shí)際石墨試樣（002）晶面間距,，nm,。實(shí)例不同石墨的石墨化度為了準(zhǔn)確的確定值或(002)峰的峰位，需要在樣品中加入內(nèi)標(biāo)以校準(zhǔn),。本文根據(jù)QJ2507-93[2]規(guī)范,，用硅作為內(nèi)標(biāo)物，加入待測(cè)石墨樣品中,，在瑪瑙研缽中混合研磨均勻,。石墨及其復(fù)合材料具有高溫下不熔融、導(dǎo)電導(dǎo)熱性能好以及化學(xué)穩(wěn)定性?xún)?yōu)異等特點(diǎn),，應(yīng)用于冶金,、化工、航空航天等行業(yè),。特別是近年來(lái)鋰電池的快速發(fā)展,，進(jìn)一步加大了石墨材料的需求。工業(yè)上常將碳原料經(jīng)過(guò)煅燒破碎,、焙燒,、高溫石墨化處理來(lái)獲取高性能人造石墨材料。石墨的質(zhì)量對(duì)電池的性能有很大影響,，石墨化度是一種從結(jié)構(gòu)上表征石墨質(zhì)量的方法之一,。在DIFFRAC.LEPTOS中，使用sin2psi法,，用Cr輻射進(jìn)行測(cè)量,，對(duì)鋼構(gòu)件的殘余應(yīng)力進(jìn)行分析,。福建實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)XRD衍射儀

支持全新技術(shù)進(jìn)行定制,，包括高性能X射線(xiàn)源、定制版光學(xué)器件,、定制版樣品臺(tái)和多模式探測(cè)器,。江蘇布魯克XRD衍射儀哪里好

材料研究樣品臺(tái)緊湊型UMC和緊湊型尤拉環(huán)plus樣品臺(tái)能夠精確地移動(dòng)樣品，因此擴(kuò)展了D8ADVANCEPlus的樣品處理能力,。緊湊型UMC樣品臺(tái)可對(duì)2Kg的樣品進(jìn)行電動(dòng)移動(dòng)：X軸25mm,、Y軸70mm和Z軸52mm,，可用于分析大型塊狀樣品或多個(gè)小樣品；緊湊型尤拉環(huán)plus樣品臺(tái)的Phi旋轉(zhuǎn)角度不受限制,，Psi傾斜度在-5°到95°之間,，可用于應(yīng)力、織構(gòu)和外延薄膜分析,。另外,，它還具有真空多用途通孔，可通過(guò)小型薄膜樣品架或大型手動(dòng)X-Y樣品臺(tái),，將樣品固定在適當(dāng)位置,。二者均可用于溫控樣品臺(tái)，進(jìn)行非環(huán)境分析,。另外,，它們還可借助DIFFRAC.DAVINCI樣品臺(tái)卡口安裝系統(tǒng)，輕松更換樣品臺(tái),。江蘇布魯克XRD衍射儀哪里好