薄膜和涂層分析采用的原理與XRPD相同，不過進一步提供了光束調(diào)節(jié)和角度控制功能,。典型示例包括但不限于相鑒定,、晶體質(zhì)量、殘余應力,、織構分析,、厚度測定以及組分與應變分析。在對薄膜和涂層進行分析時,，著重對厚度在nm和μm之間的層狀材料進行特性分析（從非晶和多晶涂層到外延生長薄膜）,。D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件可進行以下高質(zhì)量的薄膜分析：掠入射衍射X射線反射法高分辨率X射線衍射倒易空間掃描,。由于具有出色的適應能力，使用D8ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,，都可簡單快捷,、不出錯地對配置進行更改。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設計實現(xiàn)的：配置儀器時,，免工具,、免準直，同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持,。從過程開發(fā)到質(zhì)量控制,，D8 DISCOVER可以對亞毫米至300mm大小的樣品進行結構表征。取向

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嬰兒爽身粉中石棉的定量分析引言含有滑石粉成分的化妝品常見的有各種潤膚粉、美容粉,、爽身粉等,。因滑石粉具有阻隔紅外線的作用，能增強這類化妝品的防曬和抗紅外線的性能,。所以,，在日常生活中使用。由于石棉是滑石的伴生礦物,，滑石粉中可能含有石棉,。石棉纖維被人體吸入到肺會引起石棉肺惡性疾病，我國已明確把石棉列為化妝品禁用物質(zhì)，用于化妝品生產(chǎn)的滑石粉必須經(jīng)過檢測不含石棉成分方可使用,。判斷滑石中是否存在石棉通常采用偏光或電子顯微鏡和X射線衍射相結合的辦法,。而石棉的定量分析一直是石棉分析中的一個難點，主要采用X射線衍射法,。石棉定量采用基底修正法,，具體操作步驟請參考：?SN／T2549.2-2010：進出口化妝品中石棉的測定：第2部分：X射線衍射-偏光顯微鏡法?ISO22262-3_2016：QuantitativedeterminationofasbestosbyX-raydiffractionmethod?GB／T23263-2009：制品中石棉含量測定法

對分布函數(shù)分析對分布函數(shù)（PDF）分析是一種分析技術,，它基于Bragg衍射以及漫散射（“總散射”）,，提供無序材料的結構信息。其中,，您可以通過Bragg衍射峰,，了解材料的平均晶體結構的信息（即長程有序），通過漫散射,，表征其局部結構（即短程有序）,。就分析速度、數(shù)據(jù)質(zhì)量以及對非晶,、弱晶型,、納米晶或納米結構材料的分析結果而言，D8ADVANCE和TOPAS軟件是目前市面上性能較好的PDF分析解決方案：相鑒定結構測定和精修納米粒度和形狀,。配備了UMC樣品臺的DISCOVER,，優(yōu)勢在于對大型機械零件殘余應力和織構分析以及殘余奧氏體或高溫合金表征。

薄膜和涂層薄膜和涂層分析采用的原理與XRPD相同,，不過進一步提供了光束調(diào)節(jié)和角度控制功能,。典型示例包括但不限于相鑒別、晶體質(zhì)量,、殘余應力,、織構分析、厚度測定以及組分與應變分析,。在對薄膜和涂層進行分析時,，著重對厚度在nm和μm之間的層狀材料進行特性分析，從非晶和多晶涂層到外延生長薄膜等,。D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件可進行以下高質(zhì)量的薄膜分析：掠入射衍射X射線反射高分辨率X射線衍射倒易空間掃描,，由于具有出色的適應能力，使用D8ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,，都可簡單快捷,、不出錯地對配置進行更改。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設計實現(xiàn)的：配置儀器時，免工具,、免準直,，同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持。不僅如此——布魯克提供基于NIST標樣剛玉（SRM1976）的準直保證,。目前,，在峰位、強度和分辨率方面,，市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE,。D8測角儀巨有市場超前地精確度，為布魯克獨有的準直保證奠定了基礎,。北京XRD衍射儀檢測

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