對分布函數(shù)分析對分布函數(shù)（PDF）分析是一種分析技術(shù)，它基于Bragg衍射以及漫散射（“總散射”）,，提供無序材料的結(jié)構(gòu)信息,。其中,，您可以通過Bragg衍射峰，了解材料的平均晶體結(jié)構(gòu)的信息（即長程有序）,，通過漫散射，表征其局部結(jié)構(gòu)（即短程有序）,。就分析速度,、數(shù)據(jù)質(zhì)量以及對非晶,、弱晶型、納米晶或納米結(jié)構(gòu)材料的分析結(jié)果而言，D8ADVANCE和TOPAS軟件是目前市面上性能較好的PDF分析解決方案：相鑒定結(jié)構(gòu)測定和精修納米粒度和形狀,。D8 DISCOVER系列是市面上準確、功能強大和靈活的X射線衍射解決方案,。廣州XRD衍射儀推薦咨詢

材料研究樣品臺緊湊型UMC和緊湊型尤拉環(huán)plus樣品臺能夠精確地移動樣品，因此擴展了D8ADVANCEPlus的樣品處理能力。緊湊型UMC樣品臺可對2Kg的樣品進行電動移動：X軸25mm,、Y軸70mm和Z軸52mm,，可用于分析大型塊狀樣品或多個小樣品,；緊湊型尤拉環(huán)plus樣品臺的Phi旋轉(zhuǎn)角度不受限制,，Psi傾斜度在-5°到95°之間，可用于應力,、織構(gòu)和外延薄膜分析。另外,，它還具有真空多用途通孔，可通過小型薄膜樣品架或大型手動X-Y樣品臺,，將樣品固定在適當位置。二者均可用于溫控樣品臺,，進行非環(huán)境分析,。另外,，它們還可借助DIFFRAC.DAVINCI樣品臺卡口安裝系統(tǒng)，輕松更換樣品臺,。江西檢測XRD衍射儀在DIFFRAC.EVA中,，進行半定量分析,，以現(xiàn)實孔板上不同相的濃度。

X射線衍射（XRD）和反射率是對薄層結(jié)構(gòu)樣品進行無損表征的重要方法,。D8DISCOVER和DIFFRAC.SUITE軟件將有助于您使用常見的XRD方法輕松進行薄膜分析：掠入射衍射（GID）：晶相表面靈敏識別及結(jié)構(gòu)性質(zhì)測定,，包括微晶尺寸和應變。X射線反射率測量（XRR）：用于提取從簡單的基底到高度復雜的超晶格結(jié)構(gòu)等多層樣品的厚度,、材料密度和界面結(jié)構(gòu)信息,。高分辨率X射線衍射（HRXRD）：用于分析外延生長結(jié)構(gòu)：層厚度、應變,、弛豫,、鑲嵌、混合晶體的成分分析,。應力和織構(gòu)（擇優(yōu)取向）分析,。

D8ADVANCEECO可提供高亮度1kW線焦點X射線源，其能耗極低,，無需外設(shè)水冷,，對實驗室基礎(chǔ)設(shè)施亦無特殊要求。您只需準備家用壁式插座即可,。因此,，您將能簡單快捷地完成安裝和定位。D8ADVANCEECO將在分析性能不打折扣的前提下,，將擁有成本和立式XRD儀器的生態(tài)足跡降至,。插件分析：無需外設(shè)水冷：每年可節(jié)約高達1.700m3的自來水耗電減少50％左右需單相電源，由于具有出色的適應能力,，使用D8ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進行測量：從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物,。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,，都可簡單快捷、不出錯地對配置進行更改,。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設(shè)計實現(xiàn)的：配置儀器時,，免工具、免準直,，同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持,。布魯克提供基于NIST標樣剛玉（SRM1976）的準直保證。目前,，在峰位,、強度和分辨率方面，市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE,。D8測角儀巨有市場超前地精確度,，為布魯克獨有的準直保證奠定了基礎(chǔ)。

薄膜和涂層薄膜和涂層分析采用的原理與XRPD相同,，不過進一步提供了光束調(diào)節(jié)和角度控制功能,。典型示例包括但不限于相鑒別、晶體質(zhì)量,、殘余應力,、織構(gòu)分析、厚度測定以及組分與應變分析,。在對薄膜和涂層進行分析時,，著重對厚度在nm和μm之間的層狀材料進行特性分析，從非晶和多晶涂層到外延生長薄膜等,。D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件可進行以下高質(zhì)量的薄膜分析：掠入射衍射X射線反射高分辨率X射線衍射倒易空間掃描,，由于具有出色的適應能力，使用D8ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,，都可簡單快捷,、不出錯地對配置進行更改,。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設(shè)計實現(xiàn)的：配置儀器時，免工具,、免準直,，同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持。不僅如此——布魯克提供基于NIST標樣剛玉（SRM1976）的準直保證,。目前,，在峰位、強度和分辨率方面,，市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE,。在DIFFRAC.SAXS中，對EIGER2 R 500K通過2D模式手機的NIST SRM 8011 9nm金納米顆粒進行粒度分析,。布魯克XRD衍射儀

D8D對地質(zhì)構(gòu)造研究,，借助μXRD，哪怕是很小的包裹體定性相分析和結(jié)構(gòu)測定都不在話下,。廣州XRD衍射儀推薦咨詢

薄膜和涂層分析采用的原理與XRPD相同,，不過進一步提供了光束調(diào)節(jié)和角度控制功能。典型示例包括但不限于相鑒定,、晶體質(zhì)量,、殘余應力、織構(gòu)分析,、厚度測定以及組分與應變分析,。在對薄膜和涂層進行分析時，著重對厚度在nm和μm之間的層狀材料進行特性分析（從非晶和多晶涂層到外延生長薄膜）,。D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件可進行以下高質(zhì)量的薄膜分析：掠入射衍射X射線反射法高分辨率X射線衍射倒易空間掃描,。由于具有出色的適應能力，使用D8ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,，都可簡單快捷,、不出錯地對配置進行更改。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設(shè)計實現(xiàn)的：配置儀器時,，免工具,、免準直，同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持,。廣州XRD衍射儀推薦咨詢