所有維度都非常好的數(shù)據(jù)質(zhì)量不論在何種應(yīng)用場合，它都是您的可選的探測器：高的計數(shù)率、動態(tài)范圍和能量分辨率,，峰位精度布魯克提供基于NIST標(biāo)樣剛玉（SRM1976c）整個角度范圍內(nèi)的準(zhǔn)直保證,，面向未來的多用途采用了開放式設(shè)計并具有不受約束的模塊化特性的同時，將用戶友好性,、操作便利性以及安全操作性發(fā)揮得淋漓盡致,，這就是布魯克DAVINCI設(shè)計，布魯克獲得的TWIN-TWIN光路設(shè)計極大地簡化了D8ADVANCE的操作,，使之適用于多種應(yīng)用和樣品類型,。為便于用戶使用，該系統(tǒng)可在4種不同的光束幾何之間進(jìn)行自動切換,。該系統(tǒng)無需人工干預(yù),，即可在Bragg-Brentano粉末衍射幾何和不良形狀的樣品、涂層和薄膜的平行光束幾何以及它們之間進(jìn)行切換,，且無需人工干預(yù),，是在環(huán)境下和非環(huán)境下對包括粉末、塊狀物體,、纖維,、片材和薄膜（非晶、多晶和外延）在內(nèi)的所有類型的樣品進(jìn)行分析的理想選擇,。這種X射線源可提供高亮度光束,，對mm大小的樣品研究，或使用μm大小光束進(jìn)行微區(qū)X射線衍射研究的理想選擇,。微觀應(yīng)變分析XRD衍射儀

D8ADVANCEPlus是D8ADVANCE的又一版本,，是面向多用途、多用戶實驗室的X射線平臺,。它可理想地滿足您對所有樣品類型的需求,，包括粉末、塊狀材料,、纖維,、片材和薄膜（非晶、多晶和外延）：典型的X射線粉末衍射（XRD）對分布函數(shù)（PDF）分析小角X射線散射（SAXS）和廣角X射線散射（WAXS）X射線反射率（XRR)和高分辨XRD（搖擺曲線,，倒易空間掃描）環(huán)境條件下和非環(huán)境條件下該系統(tǒng)的一大優(yōu)勢在于它能夠在多達(dá)6種不同的光束幾何之間進(jìn)行切換：從用于粉末的Bragg-Brentano聚焦幾何到用于外延薄膜的高分辨率平行光束Kα1幾何以及兩者之間的切換,。您只需按下按鈕，整個軟件盡在掌握,。廣東物相定量分析XRD衍射儀檢測MONTEL光學(xué)器件可優(yōu)化光束形狀和發(fā)散度,，與布魯克大量組件、光學(xué)器件和探測器完全兼容,。

D8DISCOVER特點：微焦源IμS配備了MONTEL光學(xué)器件的IμS微焦源可提供小X射線束,，非常適合小范圍或小樣品的研究,。1.毫米大小的光束：高亮度和很低背景2.綠色環(huán)保設(shè)計：低功耗、無耗水,、使用壽命延長3.MONTEL光學(xué)器件可優(yōu)化光束形狀和發(fā)散度4.與布魯克大量組件,、光學(xué)器件和探測器完全兼容。5.提供各種技術(shù)前列的全集成X射線源,，用于產(chǎn)生X射線,。6.工業(yè)級金屬陶瓷密封管,，可實現(xiàn)線焦斑或點焦斑,。7.專業(yè)的TWIST-TUBE（旋轉(zhuǎn)光管）技術(shù)，可快速簡便地切換線焦斑和點焦斑,。8.微焦斑X射線源（IμS）可提高極小焦斑面積上的X射線通量,，而功耗卻很低。9.TURBOX射線源（TXS）旋轉(zhuǎn)陽極可為線焦斑,、點焦斑和微焦斑等應(yīng)用提供比較高X射線通量,。10.性液態(tài)金屬靶METALJET技術(shù)，可提供無出其右的X射線光源亮度,。11.高效TurboX射線源（TXS-HE）可為點焦斑和線焦斑應(yīng)用提供比較高X射線通量,，適用于D8DISCOVERPlus。12.這些X射線源結(jié)合指定使用X射線光學(xué)元件,，可高效捕獲X射線,，并將之轉(zhuǎn)化為針對您的應(yīng)用而優(yōu)化的X射線束。

超薄HfO2薄膜XRR測試引言隨著晶體管節(jié)點技術(shù)的發(fā)展,，薄膜厚度越來越薄,。比如高-柵介電薄膜HfO2的厚度往往小于2nm。在該技術(shù)節(jié)點的a20范圍內(nèi),。超薄膜的均勻性是制備Hf基柵氧化物的主要工藝難題之一,。為了控制超薄HfO2薄膜的厚度和密度，XRR是的測量技術(shù),。由于具有出色的適應(yīng)能力,，使用D8ADVANCE，您就可對所有類型的樣品進(jìn)行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物,。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶，都可簡單快捷,、不出錯地對配置進(jìn)行更改,。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設(shè)計實現(xiàn)的：配置儀器時，免工具,、免準(zhǔn)直,，同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持,。不止如此——布魯克提供基于NIST標(biāo)樣剛玉（SRM1976）的準(zhǔn)直保證。目前,，在峰位,、強(qiáng)度和分辨率方面，市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE,。無論面對何種應(yīng)用,，DIFFRAC.DAVINCI都會指引用戶選擇較好的儀器配置。

LYNXEYEXE-T具有優(yōu)于380eV的能量分辨率,，著實出色,，是市面上性能的熒光過濾器探測器系統(tǒng)。借助它,，您可在零強(qiáng)度損失下對由銅輻射激發(fā)的鐵熒光進(jìn)行100％過濾,，而且無需金屬濾波片，因此數(shù)據(jù)也不會存在偽影,，如殘余K?和吸收邊,。同樣，也無需用到會消除強(qiáng)度的二級單色器,。布魯克提供獨有的LYNXEYEXE-T探測器保證：交貨時保證無壞道,！LYNXEYEXE-T是LYNXEYE系列探測器的旗艦產(chǎn)品。它是目前市面上一款可采集0D,、1D和2D數(shù)據(jù)的能量色散探測器,，適用于所有波長（從Cr到Ag），具有準(zhǔn)確的計數(shù)率和角分辨率,，是所有X射線衍射和散射應(yīng)用的理想選擇,。LYNXEYE XE-T主要用于0D、1D和2D數(shù)據(jù)采集,，具有始終有效的出色能量鑒別能力,，同時不會損失二級單色器信號。上海微觀應(yīng)變分析XRD衍射儀推薦咨詢

UMC樣品臺通常用于分析大塊樣品,、掃描測量應(yīng)用和涂層分析,，也能測量多個小樣品或用于執(zhí)行非環(huán)境實驗。微觀應(yīng)變分析XRD衍射儀

對于需要探索材料極限的工業(yè)金屬樣品,，通常需要進(jìn)行殘余應(yīng)力和織構(gòu)測量,。通過消除樣品表面的拉應(yīng)力或引起壓應(yīng)力，可延長其功能壽命,。這可通過熱處理或噴丸處理等物理工藝來完成,。構(gòu)成塊狀樣品的微晶的取向，決定了裂紋的生長方式,。而通過在材料中形成特定的織構(gòu),，可顯著增強(qiáng)其特性,。這兩種技術(shù)在優(yōu)化制造法（例如增材制造）領(lǐng)域也占有一席之地。由于具有出色的適應(yīng)能力,，使用D8ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進(jìn)行測量：從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物,。微觀應(yīng)變分析XRD衍射儀