UHT系列黑體是高溫,，腔式黑體,，溫度范圍1550℃。黑體的特點在于發(fā)射腔的25mm的較大孔徑,。黑體發(fā)射體是使用底端封閉圓筒腔體的概念設計的,。可以在0.2μm至超過200μm（可至500μm）的超寬光譜范圍內中提供高發(fā)射率,。這種超寬譜帶使得可以將UHT黑體作為UV,、可見光、紅外波段和THz波段的標準輻射源,。UHT黑體可以直接從內部鍵盤控制,，也可以使用標準USB端口從PC遠程控制,。

主要特性

25mm的較大孔徑；

提供從0.2到超過200的高發(fā)射率,；

可以內部鍵盤控制,，也可以使用USB端口從PC遠程控制。 INFRAMET LAFT 熱成像光電測試系 統助力科研,，精細測量技術參數無憂,。福建明策光電測試系統

MTB系列黑體是精密的面源黑體，旨在模擬中溫目標,。使用一個薄的面加熱元件來控制散熱器溫度,。黑體散熱器的***溫度可以調節(jié)在約50攝氏度到550攝氏度之間。發(fā)射器面積可以從50x50mm到500x500mm,，具體取決于型號,。應用MTB黑體可用于一系列可能的應用：1、在中溫范圍內測量熱像儀的精度（已知溫度的面源）,。2,、監(jiān)控系統SWIR成像儀3、用于測試SWIR/MWIRFPAs的系統

至高溫度：典型的至高溫度為550℃,。如果不需要這樣的溫度,，則最高溫度可以降低到350℃，并且提供更好的熱均勻性,。 重慶光電測試系統性能特點LS-SAL 短波紅外光源,，精確測試，引導航天工業(yè)新高度,。

Inframet生產的離軸反射式平行光管采用垂直結構,，平行光管的焦平面位于反射鏡垂直方向的上方。這種類型的平行光管實現了測試系統的簡單化結構設計（只需較小,、較窄的光學平臺）,。而且，垂直結構的平行光管更為先進之處在于系統用于熱像儀的測試時,，垂直結構的黑體溫度的均勻性要優(yōu)于使用相同模塊的水平結構,。

Inframet使用三個等級的離軸反射鏡面：?SR（標準分辨率）-制造精度PV不低于λ/2在λ=630nm。?HR（高分辨率）-制造精度PV不低于λ/6在λ=630nm（典型λ/10）,。?UR（超高分辨率）-制造精度PV不低于λ/10在λ=630nm,。?SQ（極高分辨率）-制造精度PV不低于λ/14在λ=630nm。

FAPA是一個準通用系統,，用于擴展控制/測試紅外FPA傳感器,，專門為進行此類圖像傳感器開發(fā)研究的科學機構使用而優(yōu)化。它主要用于測試完整的紅外FPA傳感器(帶有讀出電子器件的探測器陣列)和熱成像儀中心，但也可以測量原始紅外FPA傳感器的一些關鍵參數(與ROIC集成之前),。此外,，FAPA還可以選擇用于測試完整的熱成像儀。這樣,，FAPA就可以成為評估紅外FPA傳感器生命周期中任何階段的寶貴工具:原始紅外FPA紅外傳感器、紅外FPA傳感器,、熱成像儀**,、熱成像儀。

FAPA是一個模塊化系統,，由一系列模塊組成,，可以配置為創(chuàng)建一系列不同的子系統，用于測量不同參數組,。然而,，FAPA的所有模塊基本上可以分為三類(塊):1.放射性測量工具，2.傳感器控制/圖像處理工具,，3.圖像采集/計算工具,。 光電系統，助力制藥行業(yè),，提升藥品質量,。

NVS夜視設備多功能測試系統是一個模塊化的測試系統，可測試長程夜視瞄準設備,，同時支持測試短程夜視鏡及雙目夜視鏡,。因此NVS測試系統是一個多功能測試系統。NVS測試系統采用模塊化設計,，包括一組可切換的透射式光管,、可移動的光源和一組靶標等模塊。NVS測試系統的測試過程是基于MIL系列標準的建議,。NVS測量系統投影一個標準靶標的圖像到水平固定的被測夜視儀,。通過調節(jié)兩個旋鈕，操作者可以控制透射到被測量夜視儀光的強度和靶標的類型,。被測量器件生成一個畸變的標準靶標的圖像,。通過人眼觀察或者借助測量工具如亮度計來評估這個畸變的圖像，得到被測量器件的重要參數,。光電測試技術,，提升家具制造精度與美觀度。河南進口光電測試系統

光電測量,，保障樂器制造音準與品質,。福建明策光電測試系統

Inframet MTB面源黑體有優(yōu)異的溫度分辨率，時間穩(wěn)定性,，很高的溫度均勻性和優(yōu)異的溫度精度,。 所有這些功能使MTB系列黑體作為國家標準實驗室或工業(yè)實驗室溫度標準的理想選擇,。

主要特性

高分辨率的溫度調節(jié)（0.01oC，優(yōu)于市場上其他的黑體,，通常這些黑體分辨率為0.1oC）,；非常好的時間穩(wěn)定性（0.1oC，優(yōu)于市場上提供的其他黑體,，通常為0.5oC）,；良好的溫度均勻性（1oC@125oC，市場上其他黑體通常為3oC@300x300mm）,；所有的MTB黑體都由PC使用先進的溫度穩(wěn)定算法進行控制,。 福建明策光電測試系統