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1)式中[i]k[/i]為溫度系數(shù)(2)AD590使用電壓范圍是DC4-30V,,在此電壓范圍內(nèi),,環(huán)境溫度在-55-150[i]℃[/i]變化時(shí)輸出電流與溫度具有良好的線性關(guān)系。MC1403的基準(zhǔn)電壓源,,輸出為,,調(diào)整可變電阻W1使I2=[i]m[/i]A,,則(3)DAQ模擬輸入端ACH1(AI2)的輸入電壓即為(4)我們設(shè)置模擬輸入為RSE模式,,單極性,則其輸入電壓范圍為0to10V,,同時(shí)設(shè)置其內(nèi)部放大系數(shù)為10,,則其輸入電壓范圍變?yōu)?tomV。(5)U為LabVIEW程序中讀取到的模擬輸入量,,由式(5)可推出:(6)由于溫度傳感器,,放大器,基準(zhǔn)電壓源和電阻都會存在一定的偏差,,因此我們使用一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)溫度計(jì)來定標(biāo),,將式(6)調(diào)整為:(7)由于模擬輸入的模數(shù)轉(zhuǎn)換的分辯率為12-bit,則可以從式(7)推出溫度的小分辯值:△t=△U=(10/4095)≈,,符合系統(tǒng)要求,。反應(yīng)室的溫度測控反應(yīng)室內(nèi)部裝有加熱棒和溫度傳感器(熱敏電阻),它們接到溫度測控電路,,由計(jì)算機(jī)控制實(shí)現(xiàn)精確控溫,。溫度測控電路如圖3所示。電路中,,RL為加熱棒,;Rt為負(fù)溫度系數(shù)熱敏電阻;MOC3021為光耦,;Z0409MF為可控硅,;DateAcquisiTIonBoard(DAQ)是數(shù)據(jù)采集卡Lab-PC-1200,AO,、AI和GND分別是它的模擬輸出端,、模擬輸入端和接地端。使用測控系統(tǒng)的注意事項(xiàng)有哪些,?壓力試驗(yàn)機(jī)測控系統(tǒng)廠家
43)圖像處理之對比度增強(qiáng)(44)YUV彩色圖象處理之圖象取反實(shí)驗(yàn)(七)FPGA/EDA實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目A,、基本實(shí)驗(yàn):(1)七人表決器;(2)四位加法器,;(3)BCD碼加法器,;(4)格雷碼變換器;(5)四位并行乘法器,;(6)觸發(fā)器,;(7)用ABEL語言設(shè)計(jì)74LS160功能模塊計(jì)數(shù)器;(8)多模加減計(jì)數(shù)器,;(9)可控脈沖發(fā)生器,;(10)簡易數(shù)碼鎖;(11)英語字母顯示實(shí)驗(yàn),;(12)八位乘法器,;(13)序列檢測器,;(14)可變模16位加法計(jì)數(shù)器;(15)正負(fù)脈沖數(shù)控調(diào)制發(fā)生器,;(16)秒表等等,。B、模塊實(shí)驗(yàn):(1)A/D0809模數(shù)轉(zhuǎn)換器實(shí)驗(yàn),;(2)D/A0832數(shù)模轉(zhuǎn)換器實(shí)驗(yàn),;(3)步進(jìn)電機(jī)控制實(shí)驗(yàn);(4)直流電機(jī)轉(zhuǎn)速控制(5)16*16LED點(diǎn)陣顯示實(shí)驗(yàn),;(6)VGA接口彩條信號實(shí)驗(yàn),;(7)4*4鍵盤擴(kuò)展實(shí)驗(yàn);(8)128*64LCD液晶顯示實(shí)驗(yàn),;(9)電子音樂演奏實(shí)驗(yàn),;(10)RS232串口發(fā)送實(shí)驗(yàn)(SEND);(11)RS232串口接收實(shí)驗(yàn)(RECEIVE),;(12)PS/2鍵盤接口邏輯設(shè)計(jì),;(13)單片機(jī)總線接口實(shí)驗(yàn);(14)異步串口通訊(UART),;(15)串行A/D轉(zhuǎn)換實(shí)驗(yàn)TLC549,;(16)串行D/A轉(zhuǎn)換實(shí)驗(yàn)TLC5620;(17)波形發(fā)生器實(shí)驗(yàn),;(18)存儲器讀寫實(shí)驗(yàn)等等,;C、模擬可編程實(shí)驗(yàn):(1)IspPAC10增益的設(shè)定與調(diào)整,;,。壓力試驗(yàn)機(jī)測控系統(tǒng)廠家測控系統(tǒng)分為哪幾種類型?
位置檢測模組10包括如上述的隨動調(diào)高傳感器結(jié)構(gòu)101和與隨動調(diào)高傳感器結(jié)構(gòu)101相連的信號檢測組件102,,工件位置控制模塊包括與信號檢測組件102電連接的主控組件201及與主控組件201電連接且與激光切割頭本體1傳動連接的驅(qū)動組件202,;信號檢測組件102用于檢測隨動調(diào)高傳感器結(jié)構(gòu)101產(chǎn)生的感應(yīng)信號并將感應(yīng)信號傳輸至主控組件201,主控組件201利用感應(yīng)信號獲得位置反饋值,,主控組件201根據(jù)位置反饋值控制驅(qū)動組件202帶動激光切割頭本體1移動,,使激光切割頭本體1的出射端與被加工工件之間的距離向預(yù)設(shè)值回歸,。測控系統(tǒng)還包括連接于信號檢測組件102和主控組件201之間的spi信號差分傳輸電路組件30,,spi信號差分傳輸電路組件30用于將感應(yīng)信號傳輸給主控組件201。通過位置檢測模組10和工件位置控制模塊中各部件的協(xié)同作用即可實(shí)現(xiàn)自動修復(fù)激光切割頭本體1的出射端與被加工工件表面間的距離與預(yù)設(shè)值的偏差的目的,,而冷卻組件3可以提高感應(yīng)組件2的檢測可靠性,,從而提高測控系統(tǒng)的精細(xì)度,提高激光切割設(shè)備的加工質(zhì)量,。以上所述為本發(fā)明的較佳實(shí)施例而已,,并不用以限制本發(fā)明,,凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進(jìn)等,,均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi),。
六、實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目新型傳感器綜合實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目:光纖壓力傳感器壓力測量實(shí)驗(yàn)靜態(tài)扭矩測量實(shí)驗(yàn)超聲位移測量實(shí)驗(yàn)PSD位移傳感器測量實(shí)驗(yàn)CCD傳感器測徑實(shí)驗(yàn)圓光柵角位移測量實(shí)驗(yàn)長光柵線位移測量實(shí)驗(yàn)開關(guān)量檢測實(shí)驗(yàn)水箱液位測量實(shí)驗(yàn)計(jì)算機(jī)控制實(shí)驗(yàn)(二)MCS-51單片機(jī)實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目軟件部分實(shí)驗(yàn):1.清零程序田2.拆字程序3.拼字程序4.?dāng)?shù)據(jù)區(qū)傳送子程序5.?dāng)?shù)據(jù)排序?qū)嶒?yàn)6.查找相同數(shù)據(jù)個(gè)數(shù)7.無符號雙字節(jié)快速乘法子程序8.多分支程序9.多分支程序10.電腦時(shí)鐘實(shí)驗(yàn)硬件部分實(shí)驗(yàn):,,P1口輸出實(shí)驗(yàn)4.工業(yè)順序控制實(shí)驗(yàn)A,、B、C口輸出方波實(shí)驗(yàn)PA口控制PB口8.簡單I/O擴(kuò)展實(shí)驗(yàn)9.并行ADC0809轉(zhuǎn)換實(shí)驗(yàn)10.并行DAC0832轉(zhuǎn)換實(shí)驗(yàn)14.紅外線遙控收發(fā)實(shí)驗(yàn)15.串行A/DTLC549轉(zhuǎn)換實(shí)驗(yàn)16.串行10位D/ATLC5615轉(zhuǎn)換實(shí)驗(yàn)I2C日歷時(shí)鐘實(shí)驗(yàn)I2C總線存儲器讀寫實(shí)驗(yàn)20.串行存儲芯片93C46讀寫實(shí)驗(yàn)F/V轉(zhuǎn)換實(shí)驗(yàn)V/F轉(zhuǎn)換實(shí)驗(yàn)12位并行模數(shù)轉(zhuǎn)換實(shí)驗(yàn)12位并行數(shù)模轉(zhuǎn)換實(shí)驗(yàn)(三)嵌入式單片機(jī)(C8051F020)實(shí)驗(yàn)1.數(shù)字I/O叉開關(guān)設(shè)置實(shí)驗(yàn)3.配置內(nèi)部和外部振蕩器實(shí)驗(yàn)4.片內(nèi)模數(shù)轉(zhuǎn)換(ADC)實(shí)驗(yàn)/O輸入,、輸出實(shí)驗(yàn)6.片內(nèi)數(shù)模轉(zhuǎn)換(DAC)實(shí)驗(yàn)7.定時(shí)器實(shí)驗(yàn)9.外部中斷實(shí)驗(yàn)11.計(jì)數(shù)器實(shí)驗(yàn),。測控系統(tǒng)的組成關(guān)鍵是什么?
其中a與b為百分系數(shù)(12)如占空比大于或等于1,,則表明溫度還沒有接近設(shè)定溫度,,需全程加熱,數(shù)據(jù)采集卡的模擬輸出端AO輸出全為高電平(電壓5V),。如占空比小于1,,數(shù)據(jù)采集卡的模擬輸出端AO輸出方波中的高電平的時(shí)間與方波周期之比和占空比相等。根據(jù)加熱棒的加熱能力,,反應(yīng)室的散熱情況,,可適當(dāng)調(diào)整百分系數(shù)a和b,使得當(dāng)溫度達(dá)到設(shè)定溫度時(shí),,反應(yīng)室吸收的熱量與散發(fā)的熱量相等,,從而反應(yīng)室溫度處于一個(gè)動態(tài)的平衡。在數(shù)據(jù)采集卡的模擬輸出端AO輸出的一個(gè)方波周期內(nèi),,輸出為高電平時(shí),,光耦導(dǎo)通,R2上有分壓,,觸發(fā)可控硅導(dǎo)通,,加熱棒工作,使反應(yīng)室溫度升高,。AO端輸出為低電平時(shí),,光耦不導(dǎo)通,可控硅也不導(dǎo)通,,加熱棒不工作,。以上過程循環(huán)進(jìn)行,使反應(yīng)室緩慢逼近設(shè)定溫度,,避免了由于熱慣性太大而造成的溫度波動,。該控溫系統(tǒng)可使反應(yīng)室溫度穩(wěn)定在室溫到70°C的任意溫度,溫度波動小于°C,保證了實(shí)驗(yàn)所需的溫度條件,??販爻绦蚴窃贚abVIEW平臺上編寫的,界面生動直觀,,操作方便,。鉬轉(zhuǎn)換室溫度測控系統(tǒng)基本與反應(yīng)室的相同,該系統(tǒng)可以使鉬轉(zhuǎn)換室溫度穩(wěn)定在室溫到370°C之間的任意溫度,,溫度波動小于1°C,,滿足系統(tǒng)的要求。溫濕度自動測控系統(tǒng)有哪些,?山東測控系統(tǒng)廠家
自動測控系統(tǒng)多久記錄一次,?壓力試驗(yàn)機(jī)測控系統(tǒng)廠家
儀器儀表行業(yè)飛速發(fā)展一是因?yàn)槲覈慕?jīng)濟(jì)高速穩(wěn)定發(fā)展的運(yùn)行;按照過去的經(jīng)驗(yàn),如果GDP的增長在10%以上時(shí),,儀表行業(yè)的增長率則在26%~30%之間,。二是因?yàn)槲覈暧^調(diào)控對儀表行業(yè)的影響有一個(gè)滯后期,儀表往往在工程的后期才交付使用,,因此,,因宏觀調(diào)控政策而減少的收入對儀表行業(yè)的影響不會太大。隨著網(wǎng)絡(luò)消費(fèi)的不斷遞增,,而互聯(lián)網(wǎng)的的商業(yè)價(jià)值不斷被挖掘出來,,呈爆發(fā)式增長,傳統(tǒng)的營銷模式將逐步被取代,。有限責(zé)任公司(自然)企業(yè)要抓住機(jī)遇,,融入到互聯(lián)網(wǎng)發(fā)展的行業(yè)中,為行業(yè)的發(fā)展提高競爭力,。工業(yè)領(lǐng)域轉(zhuǎn)型升級,、提升發(fā)展質(zhì)量等有利于儀器儀表行業(yè)的發(fā)展;**安全,、社會安全,、產(chǎn)業(yè)和信息安全等需要自主、試驗(yàn)機(jī)伺服測控系統(tǒng),,計(jì)量檢測儀器儀表,,基坑軸力伺服監(jiān)測系統(tǒng),智能張拉壓漿設(shè)備控制系統(tǒng)裝備,,成為全社會共識,;中國生產(chǎn)型正面臨百年未有之大變局,行業(yè)行家認(rèn)為,,中美貿(mào)易戰(zhàn)不會有終點(diǎn),,中美關(guān)系時(shí)好時(shí)壞將成為常態(tài),儀器儀表行業(yè)無法排除大局勢的影響,,且不要把問題聚焦在關(guān)稅上,。中國經(jīng)濟(jì)的高速發(fā)展得益于WTO框架下的全球化分工;現(xiàn)在中國制造的競爭力在于工業(yè)門類齊全、供應(yīng)鏈完整,、供應(yīng)鏈的高度專業(yè)和細(xì)分,。壓力試驗(yàn)機(jī)測控系統(tǒng)廠家