LFM-5000光源頻閃分析儀提供了測試方向上的解決方案:頻閃效應(yīng)TLA(TemporalLightArtifacts)是由于光源的亮度及光譜分布隨時間波動引起的視覺上不舒服的效果,;它包括Flicker,指的是在靜態(tài)環(huán)境中,,由于亮度或者光譜隨時間波動導(dǎo)致視覺刺激不穩(wěn)定的感知(0~80Hz),。StroboscopicEffects,,由亮度或光譜分布隨時間波動的光刺激引起的運動知覺的變化,用于非靜態(tài)環(huán)境中的靜態(tài)觀察者(80Hz~2kHz),。PhantomArray,,由于光源隨時間波動,加上眼球轉(zhuǎn)動,,導(dǎo)致在視網(wǎng)膜上留下一系列的影響,,從而產(chǎn)生鬼影錯覺的效應(yīng)(80Hz~2kHz);等效應(yīng),。LFM-5000光源頻閃分析儀都能夠進行精確分析,。LFM-5000 光源頻閃分析儀可測量參數(shù)閃爍百分比(Percent Flicker)。惠州光源光源頻閃測試儀歡迎咨詢
LFM5000對LED光源頻閃的測量,。隨著LED燈具***被使用,,頻閃問題逐漸成為影響視覺舒適度乃至視覺健康的關(guān)鍵指標(biāo)。由于大多數(shù)LED是通過PWM方式調(diào)光,,其調(diào)制頻率往往從幾百Hz到幾十kHz之間,,容易產(chǎn)生不同程度的頻閃現(xiàn)象。LFM5000頻閃測試儀根據(jù)當(dāng)今國際上新的測試標(biāo)準(zhǔn)而進行設(shè)計,,采用高速功率計對光信號進行采樣,,通過全新的軟件進行數(shù)據(jù)分析和處理,能夠滿足研發(fā)到生產(chǎn),,不同類型的測試需求,。系統(tǒng)配置的探測器響應(yīng)近似CIE1931V(λ)曲線,配合高速數(shù)據(jù)采集系統(tǒng),,實現(xiàn)對光度量的快速測量,。獨有的信號處理算法使得系統(tǒng)具有極強的抗干擾能力,能夠快速而精細的找出被測光源的頻閃頻率等一系列指標(biāo),。該系統(tǒng)緊湊,,牢固,方便使用,。系統(tǒng)經(jīng)過多重驗證,,測量結(jié)果真實可靠。軟件界面操作簡單,,能夠通過一次點擊測量所有相關(guān)參數(shù),,能夠方便和翊明光學(xué)其他光測量系統(tǒng)或其他產(chǎn)品進行系統(tǒng)集成。紹興快速光度探頭光源頻閃測試儀廠家LFM-5000 光源頻閃分析儀采樣與傳輸同時進行,,在一定條件下實現(xiàn)無限采樣,。
LFM5000光源頻閃測試系統(tǒng)滿足▲IEEEPAR1789《IEEEStd1789TM-2015》▲IEC-Pst短期閃爍指數(shù)、NEMA77-2017規(guī)定了短期閃變指數(shù)(Pst)▲CACEC(加州能效),、▲ASSIST,、ASSIST規(guī)定了Mp的計算方法▲CIESVM閃爍百分比PF、-閃爍指數(shù)FI,、-光輸出周期性頻率f,、-短期閃變指數(shù)Pst、-頻閃效應(yīng)可視化參數(shù)SVM,、-ASSIST閃爍感知度Mp,;主要測試參數(shù)1、基本測量頻率,、最大值,、最小值、平均值、閃爍指數(shù),、閃爍百分比,、調(diào)制深度、頻閃深度,、光度圖,、光度圖放大、頻譜圖2,、IEEE1789頻率,、最大值、最小值,、平均值,、閃爍指數(shù)、閃爍百分比,、調(diào)制深度、頻閃深度,、調(diào)制深度危害判圖3,、IECPst頻率、最大值,、最小值,、平均值、閃爍指數(shù),、閃爍百分比,、調(diào)制深度、頻閃深度,、光度圖,、光度圖放大、頻譜圖Pst,、Pst評價4,、CACEC頻率、最大值,、PAM,、PAM(40Hz)、PAM(90Hz),、PAM(200Hz),、PAM(400Hz)、PAM(1000Hz)光度圖,、光度圖放大,、頻譜圖5、CACEC閃爍指數(shù)、閃爍百分比,、MP,、DP、d,、a,、fb、MP評價,、光度圖,、光度圖放大、頻譜圖6,、CIESVM頻率,、最大值、最小值,、平均值,、閃爍指數(shù)、閃爍百分比,、SVM,、SVM評價、光度圖,、光度圖放大,、頻譜圖
LFM-5000光源頻閃分析儀滿足美國能源之星規(guī)定了閃爍flicker的測量要求:1、電源和測量儀表,,需滿足LM-79-08要求,;2、帶存儲功能多通道示波器,,必要時可加衰減探頭,。采樣率大于2kHz,采樣時間大于100ms,;3,、光度探頭,V校正,,且相應(yīng)時間需滿足要求(demand),;4、對于***值測光:測量***值需要積分球,;對于相對值測光:確保探測器能夠測量相對光輸出,,且只接受來自待測光源的光。LFM-5000光源頻閃分析儀滿足《舞臺LED燈具通用技術(shù)要求GB/T32486-2016》光輸出穩(wěn)定性要求,,在暗室中將燈具和照度計分別固定在適當(dāng)?shù)奈恢貌⒈3植蛔?,滿功率工作30min后,,用照度計每隔15min測量照度值,共測量8次,,各測量值與平均值之差的***值與平均值之比,,應(yīng)符合燈具在正常使用環(huán)境中,要求光輸出穩(wěn)定時,,其波動不應(yīng)大于5%,。LFM-5000 光源頻閃分析儀配備Class A快速光度探頭,采樣速度高達100kHz,。
LFM-5000光源頻閃分析儀可測量的參數(shù)包括閃爍頻率,;閃爍百分比(PercentFlicker);閃爍指數(shù)(FlickerIndex);調(diào)制深度(ModulationDepth)(符合CACEC法規(guī)),;SVM(符合CIETC預(yù)案),;Mp(符合ASSIST推薦);IEC-Pst(符合IEC標(biāo)準(zhǔn)),;依據(jù)IEEEStd1789標(biāo)準(zhǔn),對頻閃危害進行分級,。閃爍指數(shù)、閃爍百分比及歸一化計算后的NM,Pst,SVM均能明顯表征出光源輸出的波動情況,。但各參數(shù)分析的頻率和角度不同以及各自的閾值采用了不同的模型和計算方式,,會有判定結(jié)果不一致的情況。相對而言,,閃爍百分比和閃爍指數(shù)的限制要求要比Pst和SVM的更為嚴(yán)苛,而且前國際和國內(nèi)還沒一個統(tǒng)一的標(biāo)準(zhǔn)所以我們可以同時綜合地考慮這幾個參數(shù),。LFM-5000 光源頻閃分析儀滿足(EU) 2021 341 生態(tài)設(shè)計法規(guī)對頻閃要求測試,。湖州照明光源檢測設(shè)備光源頻閃測試儀穩(wěn)定可靠
LFM-5000 光源頻閃分析儀尺寸大小:長×寬×高(250mm×258mm×115mm),?;葜莨庠垂庠搭l閃測試儀歡迎咨詢
是專業(yè)制造頻閃分析儀,分布光度計,,積分球光譜分析系統(tǒng),,數(shù)字功率計公司,目前儀器儀表行業(yè)內(nèi)有較大成績的制造商,在國內(nèi)有多家銷售和生產(chǎn)型代理商,。在頻閃分析儀,,分布光度計,積分球光譜分析系統(tǒng),,數(shù)字功率計行業(yè)內(nèi)聞名,,如今還提供計算機軟件、自動化控制系統(tǒng),、光電測量儀器,、分析儀器,、電子器件、光學(xué)元件的技術(shù)開發(fā),、技術(shù)咨詢,、銷售、技術(shù)服務(wù),;計算機軟件,、自動化控制系統(tǒng)、光電檢測儀器,、分析儀器的制造,;貨物及技術(shù)的進出口業(yè)務(wù);其他無需報經(jīng)審批的一切合法項目(依法須經(jīng)批準(zhǔn)的項目,,經(jīng)相關(guān)部門批準(zhǔn)后方可開展經(jīng)營活動)等,。等領(lǐng)域內(nèi)的業(yè)務(wù)。儀器儀表目前國內(nèi)很多高階產(chǎn)品仍主要依賴于進口,,就進來的新品來看,,國外產(chǎn)品多為高精尖產(chǎn)品,國內(nèi)雖然也有新技術(shù)和新產(chǎn)品的出現(xiàn),,但是主要仍出現(xiàn)在溫濕度等低端產(chǎn)品,。所以替代進口空間大,前景廣闊,。其次,,我國的新型工業(yè)化進程,帶動了各個工業(yè)領(lǐng)域?qū)ψ詣踊男枨?,從而也帶來了儀器儀表產(chǎn)業(yè)的繁榮,。我國對于各大行業(yè)落實節(jié)能減排指標(biāo)、關(guān)停落后產(chǎn)能等一系列強制性措施都在一定程度上擴大了儀器儀表行業(yè)的市場規(guī)模,。經(jīng)濟的快速發(fā)展推動了我國儀器儀表市場的持續(xù)增長,,很多第三方檢測機構(gòu)都面臨著實驗室擴增、新建實驗室和老舊儀器淘汰問題,。通過靈活應(yīng)對現(xiàn)金流的問題,,做到平衡資金和發(fā)展以取得更高的企業(yè)競爭優(yōu)勢?;葜莨庠垂庠搭l閃測試儀歡迎咨詢
杭州翊明科技有限公司是我國頻閃分析儀,,分布光度計,積分球光譜分析系統(tǒng),,數(shù)字功率計專業(yè)化較早的有限責(zé)任公司(自然)之一,,公司始建于2019-07-01,在全國各個地區(qū)建立了良好的商貿(mào)渠道和技術(shù)協(xié)作關(guān)系,。翊明科技致力于構(gòu)建儀器儀表自主創(chuàng)新的競爭力,,將憑借高精尖的系列產(chǎn)品與解決方案,,加速推進全國儀器儀表產(chǎn)品競爭力的發(fā)展。