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ICT測(cè)試治具中的探針如何選用,？通常ICT測(cè)試治具的探針有很多的規(guī)格,，針主要是由三個(gè)部份組成：一是針管，主要是以銅合金為材料外面鍍金;二是彈簧,，主要琴鋼線(xiàn)和彈簧鋼外面鍍金;三是針頭，主要是工具鋼(SK)鍍鎳或者鍍金,，以上三個(gè)部分組裝成一種探針。選用ICT測(cè)試治具探針主要是根據(jù)線(xiàn)路板的中心距和被測(cè)點(diǎn)的開(kāi)關(guān)而定，PCB板上所要測(cè)試的點(diǎn)與點(diǎn)之間越近,，選用探針的外徑也就越細(xì)，國(guó)產(chǎn)的探針質(zhì)量普通還可以的,。一般超過(guò)0.31含0.31毫米的國(guó)產(chǎn)探針都過(guò)關(guān),，測(cè)試次數(shù)都可以保證在20萬(wàn)次到15萬(wàn)次左右，雖然盡快產(chǎn)品說(shuō)是100萬(wàn)次,，實(shí)際使用的效果也就在這個(gè)水平稍高一些而已,，國(guó)產(chǎn)和進(jìn)口產(chǎn)品很大的區(qū)別是在電鍍層的耐磨...

ICT測(cè)試治具的板材是采用什么材料制作而成的，相信還是有很多人不知道的,，ICT測(cè)試治具中所選用的板材一般有壓克力(有機(jī)玻璃),、環(huán)氧樹(shù)脂板等。一般的測(cè)試治具探細(xì)孔大于1毫米,，這類(lèi)治具主要板材是有機(jī)玻璃,，主要是由于有機(jī)玻璃的價(jià)格低，同時(shí)相對(duì)較軟的鉆孔時(shí)有脹縮探針套管與孔的結(jié)合緊密,，透明的治具,，一旦出現(xiàn)問(wèn)題容易檢查。但是普通的有機(jī)玻璃在鉆孔的時(shí)候容易發(fā)生溶化和斷鉆頭的情況,，特點(diǎn)是鉆孔孔徑小于0.8毫米的,，一般鉆孔孔徑小于1毫米時(shí)都采用環(huán)氧樹(shù)脂板材，環(huán)氧樹(shù)脂板材鉆孔不容易斷鉆頭其韌性及剛性都好,，環(huán)氧樹(shù)脂板沒(méi)有脹縮所以如果鉆孔孔徑不精確會(huì)造成探針套管與孔之間很松動(dòng)產(chǎn)生晃動(dòng),。環(huán)氧樹(shù)脂板不透明如果治具具出現(xiàn)...

關(guān)于PCBA制作ICT治具的注意事項(xiàng)，測(cè)試點(diǎn)：1,、被測(cè)點(diǎn)應(yīng)離板邊或折邊至少0.100＂,。2、盡量避免將被測(cè)點(diǎn)置于SMT零件上,，因?yàn)榭山佑|錫面太小,，而且容易壓傷零件。3,、盡量避免使用過(guò)長(zhǎng)零件腳(大于0.170＂(4.3mm))或過(guò)大的孔徑(大于1.5mm)為被測(cè)點(diǎn),，需特殊處理。定位孔：1,、待測(cè)PCB須有2個(gè)或以上的定位孔,，且孔內(nèi)不能沾錫，其位置較好在PCB之對(duì)角。2,、定位孔選擇以對(duì)角線(xiàn),，距離較遠(yuǎn)之2孔為定位孔。3,、被測(cè)點(diǎn)至定位孔位置公差應(yīng)為+/-0.002＂,。4、定位孔(ToolingHole)直徑較好為0.125＂(3.175mm),，公差在＂+0.002＂/-0.001＂,。ICT測(cè)試治具的保養(yǎng)...

ICT的測(cè)量總誤差由以下三項(xiàng)構(gòu)成：1，機(jī)器本身的測(cè)量誤差,；2,，通道及接觸誤差；3,，被測(cè)對(duì)象的誤差,。根據(jù)在工程實(shí)踐中的經(jīng)驗(yàn)，對(duì)于性能良好的ICT,，且針床制作及保養(yǎng)良好的條件下,，ICT的測(cè)試容許誤差的上下限可以設(shè)定為：1，精密電阻（1%的標(biāo)稱(chēng)誤差）設(shè)為3%至5%,；一般電阻（5%的標(biāo)稱(chēng)誤差）設(shè)為7%至10%,；2，精密電容（5%的標(biāo)稱(chēng)誤差）設(shè)為10%-15%,；3,，一般電容（20%的標(biāo)稱(chēng)誤差）設(shè)為25%-30%；電感可在標(biāo)稱(chēng)誤差的基礎(chǔ)上再加3%至10%,；4,，二極管一般設(shè)定為30%-50%；5,，三極管的飽和壓降一般只須比較上限,，實(shí)際上由標(biāo)準(zhǔn)值決定，上限誤差設(shè)為1%即可,。下限可設(shè)為0,。因?yàn)?即表示不做比較判...

關(guān)于PCBA制作ICT治具的注意事項(xiàng),，附A,、測(cè)試點(diǎn)位置考慮順序（每一銅箔不論形狀如，至少需要一個(gè)可測(cè)試點(diǎn)）：1,、ACI插件零件腳優(yōu)先考慮為測(cè)試點(diǎn),。2、銅箔露銅部份(測(cè)試PAD)，較好能上錫,。3,、立式零件插件腳。4,、ThroughHole不可有Mask,。附B、測(cè)試點(diǎn)直徑：1,、1mm以上,，以一般探針可達(dá)到較佳測(cè)試效果。2,、1mm以下,，則須用較精密探針增加制造成本。3,、點(diǎn)與點(diǎn)間的間距較好大于2mm(中心點(diǎn)對(duì)中心點(diǎn)),。附C、雙面PCB的要求（以能做成單面測(cè)試為考慮重點(diǎn)）：1,、SMD面走線(xiàn)較少須有1throughhole貫穿至dip面作為測(cè)試點(diǎn),，由dip面進(jìn)行測(cè)試。2,、若throughhole須mask...

ICT測(cè)試治具是ICT測(cè)試儀的一種針床,，在線(xiàn)測(cè)試通常是生產(chǎn)中首先道測(cè)試工序，能及時(shí)反應(yīng)生產(chǎn)制造狀況,，利于工藝改進(jìn)和提升,。ICT測(cè)試治具測(cè)試過(guò)的故障板,因故障定位準(zhǔn)，維修方便,，可大幅提高生產(chǎn)效率和減少維修成本,。因其測(cè)試項(xiàng)目具體，是現(xiàn)代化大生產(chǎn)品質(zhì)保證的重要測(cè)試手段之一,。ICT測(cè)試治具的制做原理就是,，根據(jù)電路板的機(jī)械尺寸圖，把電路板上面的DIP腳,，測(cè)試點(diǎn)的位置打孔,，然后插針，把電路板中的網(wǎng)絡(luò)（NET）就是PCB走線(xiàn),，全部引出來(lái),，達(dá)到外部來(lái)用儀器測(cè)試其內(nèi)部是電路結(jié)構(gòu)是否正確的目的。ICT測(cè)驗(yàn)治具中所選用的板材一般有壓克力(有機(jī)玻璃),、環(huán)氧樹(shù)脂板等,。無(wú)錫ICT測(cè)試治具銷(xiāo)售公司測(cè)試治具探針的選擇：測(cè)試治...

不管是故障位置、零件標(biāo)準(zhǔn)值、測(cè)試值等提供給維修人員參考,，可以**地降低產(chǎn)品對(duì)技術(shù)的依賴(lài)度,。ICT測(cè)試治具能夠?qū)⑸厦嫠墓收弦杂”頇C(jī)印出測(cè)試結(jié)果，不管是故障位置,、零件標(biāo)準(zhǔn)值,、測(cè)試值等提供給維修人員參考，可以**地降低產(chǎn)品對(duì)技術(shù)的依賴(lài)度,。ICT測(cè)試治具能夠?qū)y(cè)試不良資訊統(tǒng)計(jì),，自動(dòng)化測(cè)試治具，生產(chǎn)管理人員加以分析,，模組測(cè)試治具,，可以找出各種不良的產(chǎn)生原因，包括人為的因素在內(nèi),，使之各個(gè)解決,、完善、指正,，藉以提升電路板制造及品質(zhì)能力,。ICT治具關(guān)鍵控制點(diǎn)：板厚、高度,、定位孔高度直徑,、探針位置、銑讓位,、擋柱等都需符合設(shè)計(jì)規(guī)范,。重慶ICT自動(dòng)化測(cè)試儀器品牌ICT測(cè)試治具使用什么板材？ICT測(cè)驗(yàn)治具中所選用的...

ICT測(cè)試治具的針應(yīng)該如何保養(yǎng),？1,、對(duì)測(cè)試針采用防塵套許多冶具廠(chǎng)提供防塵套以用來(lái)預(yù)防空污物掉落在測(cè)試針頭與針管上。特別是空置或未使用的冶具,。在真空的冶具里,，灰塵會(huì)沉落在測(cè)試板的周?chē)?dāng)使用真空儀時(shí)會(huì)直接吸入不求上進(jìn)測(cè)試針中。2,、污漬清潔不建議用溶劑清潔測(cè)試針或使用溶劑浸泡來(lái)進(jìn)行污漬清潔,。因?yàn)槿軇┛赡軙?huì)洗去及攜帶微粒進(jìn)入測(cè)試針管和侵害測(cè)試針內(nèi)壁的接觸面，不將會(huì)很大引起阻抗的過(guò)速上升,。保持測(cè)試針在清潔的狀態(tài)下是有效的方法來(lái)大地減低失敗率,。3、針頭再有一些狀況不是只用刷子清潔就可以,，因此用其他種類(lèi)的溶劑或清潔化劑將會(huì)是后的替代方法,。建議方法是只要清潔針頭,，就是從冶具上移除測(cè)試針,，捆在一起只用針頭泡在...

關(guān)于PCBA制作ICT治具的注意事項(xiàng),，附A、測(cè)試點(diǎn)位置考慮順序（每一銅箔不論形狀如,，至少需要一個(gè)可測(cè)試點(diǎn)）：1,、ACI插件零件腳優(yōu)先考慮為測(cè)試點(diǎn)。2,、銅箔露銅部份(測(cè)試PAD),，較好能上錫。3,、立式零件插件腳,。4、ThroughHole不可有Mask,。附B,、測(cè)試點(diǎn)直徑：1、1mm以上,，以一般探針可達(dá)到較佳測(cè)試效果,。2、1mm以下,，則須用較精密探針增加制造成本,。3、點(diǎn)與點(diǎn)間的間距較好大于2mm(中心點(diǎn)對(duì)中心點(diǎn)),。附C,、雙面PCB的要求（以能做成單面測(cè)試為考慮重點(diǎn)）：1、SMD面走線(xiàn)較少須有1throughhole貫穿至dip面作為測(cè)試點(diǎn),，由dip面進(jìn)行測(cè)試,。2、若throughhole須mask...

ICT測(cè)試原理：1）電阻測(cè)試：電阻是測(cè)試其阻值,。其工作原理很簡(jiǎn)單,，就是在電阻的測(cè)試針上加一個(gè)電流，然后測(cè)試這個(gè)電阻兩端的電壓,，利用歐姆定律：R=U/I算出該電阻的阻值,。2)電容測(cè)試：測(cè)試電容是測(cè)量其容量。小電容的測(cè)試方法與電阻類(lèi)似,，不過(guò)是用交流信號(hào),，利用XC=U/I同時(shí)，XC=1/(ωC)而得C=I/(Uω)=I/(2πfU)F是測(cè)試頻率,，U,、I是測(cè)試信號(hào)的電壓和電流有效值,。大容量的電容測(cè)試用DC方法，即用直流電壓加在電容兩端,，充電流隨時(shí)間或指數(shù)減少的規(guī)律,，在測(cè)試時(shí)加一定的延時(shí)時(shí)間就可測(cè)出其容量。ICT測(cè)試治具的天板：固定于ICT機(jī)臺(tái)氣缸上壓合治具和被測(cè)試PCBA,。濟(jì)南在線(xiàn)ICT自動(dòng)化測(cè)試治具...

制作ICT測(cè)試治具的使用工具有哪些呢,？使用工具及材料制作測(cè)試治具的主要工具有：電腦、鐵錘,、繞線(xiàn)設(shè)備,、螺絲刀、剪刀,、針套,、測(cè)試針、纖維板,、導(dǎo)電膠,、氣缸、銅柱等,。它的制作流程：調(diào)取資料,、選點(diǎn)、轉(zhuǎn)換為鉆孔文件,、鉆孔,、安裝針套、繞線(xiàn),、插針,、檢驗(yàn)、保存,、發(fā)放使用,。測(cè)試治具可以根據(jù)客戶(hù)提供之PCBA文件分析確定ICT夾具是否采用單面或者雙面。配天板方便交換機(jī)種使用可調(diào)培林座,，容易保養(yǎng)使用壓克力&電木&frp材質(zhì)(或指定)直接gerber文件處理,，生成鉆孔件，保證鉆孔精度,。測(cè)試程式自動(dòng)生成,，避免手工輸入出錯(cuò)之可能，出貨前我們還采用藍(lán)膠對(duì)ICT夾具測(cè)試針效驗(yàn)確保測(cè)試過(guò)程中之精度,。ICT技術(shù)增加ICT測(cè)試點(diǎn),，并...

如何做ICT測(cè)試治具的預(yù)防性保養(yǎng)計(jì)劃：ICT測(cè)試是工廠(chǎng)測(cè)試過(guò)程中的道測(cè)試工序，對(duì)于工廠(chǎng)產(chǎn)品質(zhì)量的提高有很大的影響,，ict測(cè)試治具在實(shí)際的使用中,，用量也是很大的,，如何對(duì)ict測(cè)試治具進(jìn)行保養(yǎng)來(lái)有效的減少工廠(chǎng)的測(cè)試成本呢？下面來(lái)為大家介紹ict測(cè)試治具如何進(jìn)行預(yù)防性保養(yǎng)計(jì)劃,。1,、被測(cè)板應(yīng)準(zhǔn)確對(duì)準(zhǔn)定位銷(xiāo)后輕置于測(cè)試針床上，嚴(yán)禁在測(cè)試針床上拖帶被測(cè)板,；2,、被測(cè)板元件管腳長(zhǎng)度小于2mm,；3,、測(cè)試針床上壓板壓桿和測(cè)試針床定位銷(xiāo)一有松動(dòng)應(yīng)立即旋緊；4,、每日測(cè)試完畢后用銅刷輕輕全部測(cè)試探針針尖（不建議經(jīng)常刷,，這樣容易損壞探針鍍金層）；5,、每日測(cè)試完畢后用吹塵頭吹去針床上雜物,，并用毛刷刷凈針床；6,、嚴(yán)禁將（加過(guò)...

ICT技術(shù)參數(shù)：1)較大測(cè)試點(diǎn)數(shù)表示設(shè)備較多能設(shè)多少個(gè)測(cè)試點(diǎn),。一般電阻、電容等元件只有兩條引腳,，每個(gè)元件只用兩個(gè)測(cè)試點(diǎn)就夠了,。ICT有多個(gè)引腳，每條引腳都需要設(shè)一個(gè)測(cè)試點(diǎn),。元件越多,，電路板越復(fù)雜，需要測(cè)試點(diǎn)越多,。因此,，測(cè)試儀需要足夠多的測(cè)試點(diǎn)數(shù)。目前ICT的較大測(cè)試點(diǎn)數(shù)可達(dá)2048點(diǎn),，已足夠用了,。2)可測(cè)試的元器件種類(lèi)早期的ICT只可以測(cè)試開(kāi)、短路,，電阻,、電容、電感,、二極管等較少種類(lèi)的元器件,，經(jīng)不斷改進(jìn)，現(xiàn)在ICT已可以測(cè)試三極管,、穩(wěn)壓管,、光耦,、IC等多種元器件。ICT測(cè)試治具檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：治具螺絲鎖定是否牢固,無(wú)凸凹/松動(dòng)滑牙現(xiàn)象,。嘉興壓床式治具品牌ICT技術(shù)：ICT(In-CircuitTes...

ICT設(shè)備測(cè)試的基本知識(shí)：電腦部分就是一臺(tái)普通的PC機(jī),，用其windows操作系統(tǒng)完成與測(cè)試軟件的接口和在顯示器上顯示、打印,、統(tǒng)計(jì)等功能,。測(cè)試電路分控制電路和開(kāi)關(guān)電路?？刂齐娐肥强刂茖?duì)相應(yīng)的元器件測(cè)試其參數(shù),。電阻測(cè)試其阻值，電容測(cè)試其容量,，電感測(cè)其電感量等,。開(kāi)關(guān)電路是接通需測(cè)試的相應(yīng)元器件，由繼電器或CMOS半體開(kāi)關(guān)組成,。電容插反可以通過(guò)圖像識(shí)別或者ICT檢測(cè)出來(lái)：對(duì)于有極性的電容,，比如電解電容、鉭電容等,，是不允許插反的,，插反上電，很快就會(huì)失效,，甚至炸裂,。ICT治具驗(yàn)收審核標(biāo)準(zhǔn)：天板同底版結(jié)合是否穩(wěn)定壓棒分布是否合理，是否有可能壓到PCBA上零件線(xiàn)材,。無(wú)錫ICT治具價(jià)格ICT測(cè)試治具中文慣用名...

功能測(cè)試治具和ICT測(cè)試治具的區(qū)別,，應(yīng)用場(chǎng)景不同，功能測(cè)試治具主要應(yīng)用于模擬,、數(shù)字,、存儲(chǔ)器、RF和電源電路等的測(cè)試,，主要包括電壓,、電流、功率,、功率因素,、頻率、占空比,、亮度與顏色,、字符識(shí)別、聲音識(shí)別,、溫度測(cè)量,、壓力測(cè)量,、運(yùn)動(dòng)控制、FLASH和EEPROM燒錄等測(cè)試項(xiàng)目,。而ICT測(cè)試治具它主要用于檢查在線(xiàn)的單個(gè)元器件以及各電路網(wǎng)絡(luò)的開(kāi),、短路情況，成批量的板子,，附加值高且定型的板子,，以及模擬器件功能和數(shù)字器件邏輯功能等的測(cè)試。制作原理不同,，功能測(cè)試治具的主要考慮工件的定位,、緊固以及如何實(shí)現(xiàn)功能測(cè)試；而ICT測(cè)試治具根據(jù)電路板的機(jī)械尺寸圖,，把電路板上面的DIP腳,，測(cè)試點(diǎn)的位置打孔,，然后插針,，把電路板中...

ICT測(cè)試不良及常見(jiàn)故障的分析方法：A、如果測(cè)試值與標(biāo)準(zhǔn)值比較只是發(fā)生了較大的偏移,，而不是量測(cè)值為無(wú)窮大的情況,，則可能存在的原因有以下幾個(gè)方面：（1）錯(cuò)件；（2）有內(nèi)阻的被動(dòng)組件的影響,；（3）測(cè)試點(diǎn)有問(wèn)題,。B、如果量測(cè)值與標(biāo)準(zhǔn)值比較只是發(fā)生了很小的偏移,，這種情況多為零件誤差引起的,，但是為了準(zhǔn)確起見(jiàn)，較好是通過(guò)比較的方法看是否真的是由于誤差的原因而造成的量測(cè)值偏移,，如果由于誤差的原因造成的話(huà),，需由工程人員作相應(yīng)的程序調(diào)整。ICT測(cè)試治具能夠?qū)ΧO管,、三極管,、光藕、變壓器,、繼電器,、運(yùn)算放大器、電源模塊等進(jìn)行功能測(cè)試,。濟(jì)南ict在線(xiàn)測(cè)試治具品牌對(duì)測(cè)試治具的季節(jié)性保養(yǎng)有什么要注意的,？季節(jié)結(jié)束保養(yǎng)：(長(zhǎng)...

ICT測(cè)試治具的板材是采用什么材料制作而成的，相信還是有很多人不知道的,，ICT測(cè)試治具中所選用的板材一般有壓克力(有機(jī)玻璃),、環(huán)氧樹(shù)脂板等,。一般的測(cè)試治具探細(xì)孔大于1毫米，這類(lèi)治具主要板材是有機(jī)玻璃,，主要是由于有機(jī)玻璃的價(jià)格低,，同時(shí)相對(duì)較軟的鉆孔時(shí)有脹縮探針套管與孔的結(jié)合緊密，透明的治具,，一旦出現(xiàn)問(wèn)題容易檢查,。但是普通的有機(jī)玻璃在鉆孔的時(shí)候容易發(fā)生溶化和斷鉆頭的情況，特點(diǎn)是鉆孔孔徑小于0.8毫米的,，一般鉆孔孔徑小于1毫米時(shí)都采用環(huán)氧樹(shù)脂板材,，環(huán)氧樹(shù)脂板材鉆孔不容易斷鉆頭其韌性及剛性都好，環(huán)氧樹(shù)脂板沒(méi)有脹縮所以如果鉆孔孔徑不精確會(huì)造成探針套管與孔之間很松動(dòng)產(chǎn)生晃動(dòng),。環(huán)氧樹(shù)脂板不透明如果治具具出現(xiàn)...

各種ICT測(cè)試治具的制作流程：1,、要根據(jù)情況選用適當(dāng)??的材料。2,、才能大幅度的降低成本,。3、重復(fù)使用的底座也可大幅度的降低成本,并且使治具制作標(biāo)準(zhǔn)化方便制作,提高治具的質(zhì)量,。4,、測(cè)試架中測(cè)試針及相關(guān)材料的選用對(duì)測(cè)試治具的好壞及成本是非常重要的。ICT測(cè)試治具使用的板材分析：測(cè)試夾具中所選用的板材一般有壓克力（有機(jī)玻璃）,、環(huán)氧樹(shù)脂板等,。普通的探細(xì)孔徑大于1.00毫米的治具，其板材以有機(jī)玻璃居多,，有機(jī)玻璃價(jià)格便宜,，同時(shí)有機(jī)玻璃相對(duì)較軟鉆孔時(shí)有脹縮探針套管與孔的結(jié)合緊密，由于有機(jī)玻璃是透明的夾具,，出現(xiàn)問(wèn)題檢查十分容易,。但是普通的有機(jī)玻璃在鉆孔時(shí)容易發(fā)生溶化和斷鉆頭，特別是鉆孔孔徑小于0.8毫米時(shí)問(wèn)...

ICT測(cè)試治具的應(yīng)用：從目前應(yīng)用情況來(lái)看,，采用兩種或以上技術(shù)相結(jié)合的測(cè)試策略正成為發(fā)展趨勢(shì),。因?yàn)槊恳环N技術(shù)都補(bǔ)償另一技術(shù)的缺點(diǎn)：從將AXI技術(shù)和ICT技術(shù)結(jié)合起來(lái)測(cè)試的情況來(lái)看，一方面,，X射線(xiàn)主要集中在焊點(diǎn)的質(zhì)量,。它可確認(rèn)元件是否存在，但不能確認(rèn)元件是否正確,，方向和數(shù)值是否正確,。另一方面，測(cè)試治具可決定元件的方向和數(shù)值但不能決定焊接點(diǎn)是否可接受，特別是焊點(diǎn)在封裝體底部的元件,，如BGA,、CSP等。隨著AXI技術(shù)的發(fā)展,，目前AXI系統(tǒng)和ICT系統(tǒng)可以“互相對(duì)話(huà)”,，這種被稱(chēng)為“AwareTest”的技術(shù)能消除兩者之間的重復(fù)測(cè)試部分。通過(guò)減小ICT/AXI多余的測(cè)試覆蓋面可有效減小ICT的接點(diǎn)數(shù)量,。這...

ICT測(cè)試治具的探針主要有哪幾種?選用探針主要是根據(jù)ict測(cè)試治具線(xiàn)路板的中心距和被測(cè)點(diǎn)的形狀而定,，PCB板上所要測(cè)試的點(diǎn)與點(diǎn)之間越近，選用探針的外徑也就越細(xì),。目前國(guó)產(chǎn)的探針質(zhì)量普通的都可以,，其實(shí)不少所謂的探針都是國(guó)產(chǎn)貼牌而已。通常ICT測(cè)試治具的探針有很多的規(guī)格,，針主要是由三個(gè)部份組成：一是針管,，主要是以銅合金為材料外面鍍金;二是彈簧，主要琴鋼線(xiàn)和彈簧鋼外面鍍金;三是針頭,，主要是工具鋼(SK)鍍鎳或者鍍金,，以上三個(gè)部分組裝成一種探針。ICT測(cè)試治具的針板：用于固定測(cè)試針,。針頭是鍍金的,。上海在線(xiàn)測(cè)試治具價(jià)格ICT測(cè)試治具能夠全檢出的零件有哪些?ICT測(cè)試治具能夠在短短的數(shù)秒鐘內(nèi)，全檢出組裝電路...

ICT測(cè)試治具的應(yīng)力測(cè)試為什么很重要,？ICT測(cè)試治具在現(xiàn)在電子廠(chǎng)里作為首先的一道檢測(cè)環(huán)節(jié)發(fā)揮著很重要的作用，那么ICT測(cè)試治具為什么能夠如此的重要呢,？他有那些作用呢,？ICT測(cè)試治具能夠在短短的數(shù)秒鐘內(nèi)，全檢出組裝電路板上零件：電阻,、電容,、電感、電晶體,、FET,、LED,普通二極體、穩(wěn)壓二極體,、光藕器,、IC等零件是否在我們?cè)O(shè)計(jì)的規(guī)格內(nèi)運(yùn)作。.ICT能夠?qū)⑸鲜龉收匣虿涣假Y訊以印表機(jī)印出測(cè)試結(jié)果,，包括故障位置,、零件標(biāo)準(zhǔn)值、測(cè)試值，以供維修人員參考,?？梢杂行Ы档腿藛T對(duì)產(chǎn)品技術(shù)依賴(lài)度等。ICT治具的優(yōu)點(diǎn)：ICT對(duì)錯(cuò)誤檢查準(zhǔn)確穩(wěn)定,，避免人員對(duì)故障的錯(cuò)誤猜測(cè),。天津壓床式治具銷(xiāo)售公司目前有四種定位狀況，具體的如...

如何對(duì)ICT測(cè)試儀的測(cè)試針進(jìn)行保養(yǎng)呢,？測(cè)試針主要是用于PCB板測(cè)試時(shí)又分為彈簧針和通用針,，彈簧針在使用時(shí)，需要根據(jù)所測(cè)試的PCB板的布線(xiàn)情況制作測(cè)試模具,，且一般情況下,，一個(gè)模具只能測(cè)試一種PCB板；通用針在使用時(shí),，只需有足夠的點(diǎn)數(shù)即可,，故現(xiàn)在很多廠(chǎng)家都在使用通用針；彈簧針根據(jù)使用情況又分為PCB板探針,、ICT探針,、BGA探針，PCB板探針主要用于PCB板測(cè)試,，ICT探針主要用于插件后的在線(xiàn)測(cè)試,，BGA探針主要用于BGA封裝測(cè)試及芯片測(cè)試。尺寸按照pad間距定義：50mil75mil100mil125mil這是主要常用的尺寸,。測(cè)試針頂部外形：尖針開(kāi)花針圓頭針平凸,。按照功能分：開(kāi)關(guān)針RF針氣針普通...

ICT治具相對(duì)來(lái)說(shuō)有哪些優(yōu)勢(shì)?1、測(cè)試時(shí)間短：一般一片組裝300個(gè)零件的電路板,，使用ICT治具測(cè)試,，只需要3~4秒的時(shí)間即可完成。2,、現(xiàn)場(chǎng)技術(shù)依存性低：只要稍加訓(xùn)練,，一般人員即可輕松操作及維護(hù)。3,、重測(cè)性?xún)?yōu)良：由計(jì)算機(jī)程控,，精確量測(cè)，所以不會(huì)造成誤判,、漏測(cè),，增加生產(chǎn)線(xiàn)的情況和困擾。4,、產(chǎn)品修理的成本大幅降低：一般作業(yè)人員即可負(fù)責(zé)產(chǎn)品維修的工作,，有效的降低成本,，對(duì)應(yīng)產(chǎn)品壽命期短的趨勢(shì)，是有效的利器,。有利于提高產(chǎn)品的質(zhì)量和測(cè)試效率,。ict檢測(cè)自動(dòng)在線(xiàn)測(cè)試儀，是現(xiàn)代電子企業(yè)必備的測(cè)試設(shè)備,。濟(jì)南ICT自動(dòng)化測(cè)試治具生產(chǎn)廠(chǎng)家ICT測(cè)試治具的探針主要有哪幾種?選用探針主要是根據(jù)ict測(cè)試治具線(xiàn)路板的中心距...

ICT測(cè)試治具在使用中要注意的事項(xiàng)有哪些,？測(cè)試治具是一種可以測(cè)試故障的，它的線(xiàn)測(cè)試通常是生產(chǎn)中初道重要的測(cè)試工序,，它的使用簡(jiǎn)單,，作用大能夠夠在很多的行業(yè)中使用。測(cè)試治具在使用中的事項(xiàng)：測(cè)試治具制作好后存放治具制作房,，且放置在治具的鐵架上,，并作好型號(hào)標(biāo)識(shí)。當(dāng)治具出現(xiàn)斷針和老化時(shí)可換針維護(hù)繼續(xù)使用,。當(dāng)治具出現(xiàn)損壞無(wú)法修復(fù)使用和客戶(hù)變更不再使用的,，可申請(qǐng)報(bào)廢重新制作。治具領(lǐng)用由電測(cè)房負(fù)責(zé)人登記領(lǐng)用,，用完后歸還于治具房并做好交接ICT測(cè)試治具有單面雙面之分,，通用天板方便交換機(jī)種，使用可調(diào)培林座,，容易保養(yǎng),，使用壓克力電木FR-4材質(zhì)(或指定)，直接gerber文件處理生成鉆孔文件,，保證鉆孔精度,。ICT測(cè)...

ICT測(cè)試治具使用什么板材？ICT測(cè)驗(yàn)治具中所選用的板材一般有壓克力(有機(jī)玻璃),、環(huán)氧樹(shù)脂板等,。一般的測(cè)驗(yàn)治具探針大于1毫米，這類(lèi)治具首要板材是有機(jī)玻璃,，首要是因?yàn)橛袡C(jī)玻璃的價(jià)格低，一起相對(duì)較軟的鉆孔時(shí)有脹縮探針套管與孔的結(jié)合緊密,，透明的治具,，一旦出現(xiàn)問(wèn)題容易查看。但是一般的有機(jī)玻璃在鉆孔的時(shí)分容易發(fā)生溶化和斷鉆頭的情況,，特點(diǎn)是鉆孔孔徑小于0.8毫米的,，一般鉆孔孔徑小于1毫米時(shí)都選用環(huán)氧樹(shù)脂板材，環(huán)氧樹(shù)脂板材鉆孔不容易斷鉆頭其耐性及剛性都好,，環(huán)氧樹(shù)脂板沒(méi)有脹縮所以假如鉆孔孔徑不精確會(huì)形成探針套管與孔之間很松動(dòng)發(fā)生晃動(dòng),。環(huán)氧樹(shù)脂板不透明假如治具具出現(xiàn)問(wèn)題比較難查看，別的有機(jī)玻璃溫差變形比環(huán)氧樹(shù)脂...

ICT在線(xiàn)測(cè)試儀測(cè)試是怎樣讀取時(shí)間的?1.往單元A寫(xiě)入數(shù)據(jù)"0"，往單元B寫(xiě)入數(shù)據(jù)"1",，堅(jiān)持READ為使能狀態(tài)并讀取單元A值,。2.地址轉(zhuǎn)換到單元B，實(shí)質(zhì)上就是ICT在線(xiàn)測(cè)試儀丈量?jī)?nèi)存數(shù)據(jù)的堅(jiān)持時(shí)間,，轉(zhuǎn)換時(shí)間就是從地址轉(zhuǎn)換開(kāi)始到數(shù)據(jù)變換之間的時(shí)間,。3.建立時(shí)間--輸入數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換必需提前鎖定輸入時(shí)鐘的時(shí)間。4.堅(jiān)持時(shí)間--鎖定輸入時(shí)鐘之后輸入數(shù)據(jù)必需堅(jiān)持的時(shí)間,。5.暫停時(shí)間--內(nèi)存單元能保持它狀態(tài)的時(shí)間,。6.刷新時(shí)間--刷新內(nèi)存的很大允許時(shí)間。7.寫(xiě)入恢復(fù)時(shí)間--寫(xiě)操作之后的能讀取某一內(nèi)存單元所必須等待的時(shí)間,。ICT治具的測(cè)量總誤差由機(jī)器本身的測(cè)量誤差,；通道及接觸誤差；被測(cè)對(duì)象的誤差三項(xiàng)構(gòu)成的,。嘉...

ICT設(shè)備測(cè)試的基本知識(shí)：電腦部分就是一臺(tái)普通的PC機(jī),，用其windows操作系統(tǒng)完成與測(cè)試軟件的接口和在顯示器上顯示、打印,、統(tǒng)計(jì)等功能,。測(cè)試電路分控制電路和開(kāi)關(guān)電路?？刂齐娐肥强刂茖?duì)相應(yīng)的元器件測(cè)試其參數(shù),。電阻測(cè)試其阻值，電容測(cè)試其容量,，電感測(cè)其電感量等,。開(kāi)關(guān)電路是接通需測(cè)試的相應(yīng)元器件，由繼電器或CMOS半體開(kāi)關(guān)組成,。電容插反可以通過(guò)圖像識(shí)別或者ICT檢測(cè)出來(lái)：對(duì)于有極性的電容,，比如電解電容、鉭電容等,，是不允許插反的,，插反上電，很快就會(huì)失效,，甚至炸裂,。ICT治具的優(yōu)點(diǎn)：ICT在線(xiàn)測(cè)試儀的檢查速度非常快,，如1000個(gè)元件左右的線(xiàn)路板約7秒便可完成,。長(zhǎng)沙在線(xiàn)檢測(cè)儀器銷(xiāo)售公司測(cè)試治具的使用注意：...

關(guān)于PCBA制作ICT治具的注意事項(xiàng)，一,、測(cè)試點(diǎn)的選取:1,、盡量避免治具雙面下針,，較好將被測(cè)點(diǎn)放在同一面。2,、被測(cè)點(diǎn)選取優(yōu)先順序：測(cè)試點(diǎn)Testpoint–DIP元件腳–VIA過(guò)孔–SMT貼片腳二,、測(cè)試點(diǎn)：1、兩被測(cè)點(diǎn)或被測(cè)點(diǎn)與預(yù)鉆孔之中心距較好不小于0.050＂(1.27mm),。以大于0.100＂(2.54mm)為佳,，其次是0.075＂(1.905mm)。2,、被測(cè)點(diǎn)應(yīng)離其附近零件(位于同一面者)至少0.100＂,，如為高于3m/m零件，則應(yīng)至少間距0.120＂,。3,、被測(cè)點(diǎn)應(yīng)平均分布于PCB表面，避免局部密度過(guò)高,。4,、被測(cè)點(diǎn)直徑較好能不小于0.035＂(0.9mm)，如在上針板,，則較好不小于0....

應(yīng)用擴(kuò)展：除了ICT測(cè)試過(guò)程外,，類(lèi)似活動(dòng)包括四點(diǎn)彎曲測(cè)試、電路板子卡或連接器插入過(guò)程,、分板過(guò)程,、散熱器連接、對(duì)電路板的不適當(dāng)支撐等都會(huì)引起電路板過(guò)應(yīng)力失效,，這些也可以通過(guò)Sherlock的ICT測(cè)試模塊進(jìn)行仿真,。ICT技術(shù)參數(shù)：1)測(cè)試速度測(cè)試一塊電路板的較少時(shí)間。測(cè)試速度與電路板的復(fù)雜程度有關(guān),。2)測(cè)試范圍電阻的測(cè)試范圍：一般0.05Ω～40MΩ,；電容的測(cè)試范圍：一般1pF～40000μF電感的測(cè)試范圍：一般1μH～40H5)測(cè)試電壓、電流,、頻率測(cè)試電壓一般為0～10V測(cè)試電流一般為1μA～80mA頻率一般為1Hz～100KHz6)電路板尺寸較大的電路板尺寸一般為460×350mm,。ict設(shè)...

ICT測(cè)試治具測(cè)試是如何讀取時(shí)間的?ICT測(cè)試治具是一種具有檢測(cè)功能的產(chǎn)品，能減少維修人員與目視人員的數(shù)量,，降低技術(shù)要求,，材料與資源的節(jié)省，很大降低生產(chǎn)成本?，F(xiàn)在我們來(lái)介紹下ICT測(cè)試治具測(cè)試是如何讀取時(shí)間的?詳細(xì)內(nèi)容如下：ICT測(cè)試治具可以直接對(duì)在線(xiàn)器件電氣性能來(lái)進(jìn)行測(cè)試，在測(cè)試的過(guò)程中可以發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的不良器件,。從內(nèi)存單元讀取數(shù)據(jù)所需的時(shí)間,，就是ICT測(cè)試治具的存儲(chǔ)器讀取時(shí)間,，方法是這樣的：1、往單元A寫(xiě)入數(shù)據(jù)"0",，單元B寫(xiě)入數(shù)據(jù)"1",，堅(jiān)持READ為使能狀態(tài)并讀取單元A值。2,、地址轉(zhuǎn)換到單元B,，實(shí)質(zhì)上就是ICT測(cè)試治具丈量?jī)?nèi)存數(shù)據(jù)的堅(jiān)持時(shí)間。3,、轉(zhuǎn)換時(shí)間就是從地址轉(zhuǎn)換開(kāi)始到數(shù)據(jù)變換之間的時(shí)...