經(jīng)過三十年的發(fā)展,，目前科學(xué)家在AFM 基礎(chǔ)上實(shí)現(xiàn)了多種測量和表征材料不同性能的應(yīng)用模式,。利用原子力顯微鏡,，人們實(shí)現(xiàn)了對化學(xué)反應(yīng)前后化學(xué)鍵變化的成像，研究了化學(xué)鍵的角對稱性質(zhì)以及分子的側(cè)向剛度,。Ternes 等測量了在材料表面移動(dòng)單個(gè)原子所需要施加的作用力,。各種不同的應(yīng)用模式可以獲得被測樣品表面納米尺度力、熱,、聲,、電,、磁等各個(gè)方面的性能?；贏FM 的定量化納米力學(xué)測試方法主要有力—距離曲線測試,、掃描探針聲學(xué)顯微術(shù)和基于輕敲模式的動(dòng)態(tài)多頻技術(shù)。納米壓痕技術(shù)作為一種常見測試方法,，可實(shí)時(shí)監(jiān)測材料在微觀層面的力學(xué)性能,。四川高校納米力學(xué)測試

納米壓痕試驗(yàn)舉例，試驗(yàn)材料取單晶鋁,，試驗(yàn)在美國 MTS 公司生產(chǎn)的 Nano Indenter XP 型納米硬度儀以及美國 Digital Instruments 公司生產(chǎn)的原子力顯微鏡 (AFM) 上進(jìn)行,。首先將試樣放到納米硬度儀上進(jìn)行壓痕試驗(yàn)，根據(jù)設(shè)置的較大載荷或者壓痕深度的不同,，試驗(yàn)時(shí)間從數(shù)十分鐘到若干小時(shí)不等，中間過程不需人工干預(yù),。試驗(yàn)結(jié)束后,，納米壓痕儀自動(dòng)計(jì)算出試樣的納米硬度值和相關(guān)重要性能指標(biāo)。本試驗(yàn)中對單晶鋁(110) 面進(jìn)行檢測,，設(shè)置壓痕深度為1.5 μ m,，共測量三點(diǎn)，較終結(jié)果取三點(diǎn)的平均值,。四川高校納米力學(xué)測試在進(jìn)行納米力學(xué)測試時(shí),，需要選擇合適的測試方法和參數(shù)，以確保測試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性,。

樣品制備,，納米力學(xué)測試納米纖維的拉伸測試前需要復(fù)雜的樣品制備過程，因此FT-NMT03納米力學(xué)測試具備微納操作的功能,，納米力學(xué)測試?yán)昧鞲形㈣嚮蛘呶⒘鞲衅骺梢詫胃{米纖維進(jìn)行五個(gè)自由度的拾取-放置操作（閉環(huán)）,。可以使用聚焦離子束（FIB）沉積或電子束誘導(dǎo)沉積（EBID）對樣品進(jìn)行固定,。納米力學(xué)測試這種結(jié)合了電-機(jī)械測量和納米加工的技術(shù)為大多數(shù)納米力學(xué)測試應(yīng)用提供了完美的解決方案,。SEM/FIB集成，得益于FT-NMT03納米力學(xué)測試系統(tǒng)的緊湊尺寸（71×100×35mm）,，該系統(tǒng)可以與市面上絕大多數(shù)的全尺寸SEM/FIB結(jié)合使用,，在樣品臺上安裝和拆卸該系統(tǒng)十分簡便，只需幾分鐘,。此外,，由于FT-NMT03納米力學(xué)測試的獨(dú)特設(shè)計(jì)（無基座、開放式）,，納米力學(xué)測試體系統(tǒng)可以和電子背向散射衍射儀（EBSD）和掃描透射電子顯微鏡（STEM）技術(shù)兼容,。

原位納米片取樣和力學(xué)測試技術(shù),，原位納米片取樣和力學(xué)測試技術(shù)是一種新興的納米尺度力學(xué)測試方法，其基本原理是利用優(yōu)化的離子束打造方法,，在含有待測塑料表面的納米區(qū)域內(nèi)制備出超薄的平面固體材料,，再對其進(jìn)行拉伸、扭曲等力學(xué)測試,。相比于傳統(tǒng)的拉伸試驗(yàn)等方法,，原位納米片取樣技術(shù)具有更優(yōu)的尺寸控制和納米量級精度，可以為納米尺度力學(xué)測試提供更加準(zhǔn)確的數(shù)據(jù),?？傊患{米力學(xué)測量技術(shù)的研究及應(yīng)用是未來納米材料科學(xué)發(fā)展的重要方向之一,，將為納米材料的設(shè)計(jì),、開發(fā)以及工業(yè)應(yīng)用等領(lǐng)域的發(fā)展做出積極貢獻(xiàn)。納米力學(xué)測試的結(jié)果對于預(yù)測納米材料在實(shí)際應(yīng)用中的表現(xiàn)具有重要參考價(jià)值,。

除了采用彎曲振動(dòng)模式進(jìn)行測量外,，Reinstadtler 等給出了探針扭轉(zhuǎn)振動(dòng)模式測量側(cè)向接觸剛度的理論基礎(chǔ)。通過同時(shí)測量探針微懸臂的彎曲振動(dòng)和扭轉(zhuǎn)振動(dòng),，Hurley 和Turner提出了一種同時(shí)測量各向同性材料楊氏模量,、剪切模量和泊松比的方法。Killgore 等提出了利用軟探針的高階模態(tài)進(jìn)行AFAM 定量化測試的方法,，可以使探針施加在樣品上的力減小到10 nN,，極大地?cái)U(kuò)展了這一方法的應(yīng)用范圍。Killgore 和Hurley提出了一種新的脈沖接觸共振的方法,，將接觸共振與脈沖力模式相結(jié)合,，不只能測量探針的接觸共振頻率和品質(zhì)因子，還可以測量針尖樣品之間黏附力的大小,。利用納米力學(xué)測試,，可以對納米材料的彈性形變和塑性形變進(jìn)行精細(xì)分析。深圳材料科學(xué)納米力學(xué)測試廠家

納米力學(xué)測試還可以揭示納米材料的表面特性和表面反應(yīng)動(dòng)力學(xué),。四川高校納米力學(xué)測試

譜學(xué)技術(shù)微納米材料的化學(xué)成分分析主要依賴于各種譜學(xué)技術(shù),包括紫外-可見光譜紅外光譜,、x射線熒光光譜、拉曼光譜,、俄歇電子能譜,、x射線光電子能譜等。另有一類譜儀是基于材料受激發(fā)的發(fā)射譜,是專為研究品體缺陷附近的原子排列狀態(tài)而設(shè)計(jì)的,，如核磁共振儀,、電子自旋共振譜儀、穆斯堡爾譜儀、正電子湮滅等等,。熱分析技術(shù),，納米材料的熱分析主要是指差熱分析、示差掃描量熱法以及熱重分析,。三種方法常常相互結(jié)合,并與其他方法結(jié)合用于研究微納米材料或納米粒子的一些特 征:(1)表面成鍵或非成鍵有機(jī)基團(tuán)或其他物質(zhì)的存在與否,、含量多少、熱失重溫度等(2)表面吸附能力的強(qiáng)弱與粒徑的關(guān)系(3)升溫過程中粒徑變化(4)升溫過程中的相轉(zhuǎn)變情況及晶化過程,。四川高校納米力學(xué)測試