較大壓痕深度1.5 μ m時(shí)的試驗(yàn)結(jié)果,其中納米硬度平均值為0.46GPa,,而用傳統(tǒng)硬度計(jì)算方法得到的硬度平均值為0.580GPa,,這說明傳統(tǒng)硬度計(jì)算方法在微納米硬度測量時(shí)誤差較大,其原因就是在微納米硬度測量時(shí),,材料變形的彈性恢復(fù)造成殘余壓痕面積較小,,傳統(tǒng)方法使得計(jì)算結(jié)果產(chǎn)生了偏差,不能正確反映材料的硬度值,。圖片通過對不同載荷下的納米硬度測量值進(jìn)行比較發(fā)現(xiàn),,單晶鋁的納米硬度值并不是恒定的, 而是在一定范圍內(nèi)隨著載荷(壓頭位移)的降低而逐漸增大,,也就是存在壓痕尺寸效應(yīng)現(xiàn)象,。圖3反映了納米硬度隨壓痕深度的變化,。較大壓痕深度1μm時(shí)單晶鋁彈性模量與壓痕深度的關(guān)系。此外,,納米硬度儀還可以輸出接觸剛,、實(shí)時(shí)載荷等隨壓頭位移的變化曲線,試驗(yàn)者可以從中獲得豐富的信息,。納米力學(xué)測試可以應(yīng)用于納米材料的研究和開發(fā),,以及納米器件的設(shè)計(jì)和制造。廣州空心納米力學(xué)測試供應(yīng)
銀微納米材料,,微納米材料的性能受到其形貌的影響,不同維度類型的銀微納米材料有著不同的應(yīng)用范圍,。零維的銀納米材料包括銀原子和粒徑小于15nm 的銀納米粉,主要提高催化性能,、 抗細(xì)菌及光性能:一維的銀納米線由化學(xué)還原法制備,,主要用于透明納米銀線薄膜制備的柔性電子器件;二維的銀微納米片可用球磨法、光誘導(dǎo)法,、模板法等方法制備,,其在導(dǎo)電漿料及電子元器件等方面有普遍的應(yīng)用:三維的銀微納米材料包括球形和異形銀粉,球形銀粉主要用于導(dǎo)電漿料填充物,,異形銀粉主要應(yīng)用催化,、光學(xué)等方面。改善制備方法,,實(shí)現(xiàn)微納米材雨的形貌授制,提升產(chǎn)物穩(wěn)定性,,是銀納米材料研究的發(fā)展方向,。預(yù)覽與源文檔一致,下載高清無水印微納米技術(shù)是一門擁有廣闊應(yīng)用前景的高新技術(shù),不只在材料科學(xué)領(lǐng)域,,微納米材料有著普遍的應(yīng)用,,在日常生活和工業(yè)生產(chǎn)中,微納米材料的應(yīng)用實(shí)例不勝枚舉,。廣州空心納米力學(xué)測試供應(yīng)在納米力學(xué)測試中,,常用的儀器包括原子力顯微鏡、納米硬度儀等設(shè)備,。
納米劃痕法,,納米劃痕硬度計(jì)主要是通過測量壓頭在法向和切向上的載荷和位移的連續(xù)變化過程,進(jìn)而研究材料的摩擦性能,、塑性性能和斷裂性能的,。納米劃痕儀器的設(shè)計(jì)主要有兩種方案 納米劃痕計(jì)和壓痕計(jì),合二為一即劃痕計(jì)的法向力和壓痕深度由高分辨率的壓痕計(jì)提供,,同時(shí)記錄勻速移動(dòng)的試樣臺(tái)的位移,,使壓頭沿試樣表面進(jìn)行刻劃,,切向力由壓桿上的兩個(gè)相互垂直的力傳感器測量納米劃痕硬度計(jì)和壓痕計(jì)相互單獨(dú)。納米劃痕硬度計(jì),,不只可以研究材料的摩擦磨損行為,,還普遍應(yīng)用于薄膜的粘著失效和黏彈行為。對刻劃材料來說,,不只載荷和壓入深度是重要的參數(shù),,而且殘余劃痕的深度、寬度,、凸起的高度在研究接觸壓力和實(shí)際摩擦也是十分重要的,。目前,該類儀器已普遍應(yīng)用于各種電子薄膜,、汽車噴漆,、膠卷、光學(xué)鏡 頭,、磁盤,、化妝品(指甲油和口紅)等的質(zhì)量檢測。
微納米材料力學(xué)性能測試系統(tǒng)可移動(dòng)范圍:250mm x 150mm,;步長分辨率:50nm,;Encoder 分辨率:500nm;較大移動(dòng)速率:30mm/S,;Z stage,。可移動(dòng)范圍:50mm,;步長分辨率:3nm,;較大移動(dòng)速率:1.9mm/S。原位成像掃描范圍,。XY 方向:60μm x 60μm,;Z 方向:4μm;成像分辨率:256 x 256 像素點(diǎn),;掃描速率:3Hz,;壓頭原位的位置控制精度:<+/-10nm;較大樣品尺寸:150mm- 200mm,。納米壓痕試驗(yàn):測試硬度及彈性模量(包括隨著連續(xù)壓入深度的變化獲得硬度和彈性模量的分布)以及斷裂韌性,、蠕變、應(yīng)力釋放等,。 納米劃痕試驗(yàn):獲得摩擦系數(shù),、臨界載荷、膜基結(jié)合性質(zhì),。納米摩擦磨損試驗(yàn) :評價(jià)抗磨損能力,。在壓痕,、劃痕、磨損前后的SPM原位掃描探針成像: 獲得微區(qū)的形貌組織結(jié)構(gòu),。利用納米力學(xué)測試,,研究人員可揭示材料內(nèi)部缺陷、應(yīng)力分布等關(guān)鍵信息,。
納米壓痕技術(shù),,納米壓痕技術(shù)是一種直接測量材料硬度和彈性模量的方法。該方法通過在納米尺度下施加一個(gè)小的壓痕負(fù)荷,,通過測量壓痕的深度和形狀來推算材料的力學(xué)性質(zhì),。納米壓痕技術(shù)一般使用壓痕儀進(jìn)行測試。在進(jìn)行納米壓痕測試時(shí),,樣品通常需要進(jìn)行前處理,,例如制備平整的表面或進(jìn)行退火處理。測試過程中,,將頂端負(fù)載在材料表面上,,并控制負(fù)載的大小和施加時(shí)間。然后,,通過測量壓痕的深度和直徑來計(jì)算材料的硬度和彈性模量,。納米壓痕技術(shù)普遍應(yīng)用于納米硬度測試、薄膜力學(xué)性質(zhì)研究等領(lǐng)域,。在進(jìn)行納米力學(xué)測試前,,需要對測試樣品進(jìn)行表面處理和尺寸測量,以確保測試結(jié)果的準(zhǔn)確性,。廣州空心納米力學(xué)測試供應(yīng)
納米力學(xué)測試的結(jié)果可以為納米材料的安全性和可靠性評估提供重要依據(jù),。廣州空心納米力學(xué)測試供應(yīng)
微納米材料力學(xué)性能測試系統(tǒng)是一種用于機(jī)械工程領(lǐng)域的科學(xué)儀器,于2008年11月18日啟用,。縱向載荷力和位移,。載荷力分辨率:3nN(在施加1μN(yùn)的條件下),;較小載荷接觸力:<100nN;較大載荷:10mN,;位移分辨率:0.0004nm,;較小位移:<0.2nm;較大位移:5μm,;熱漂移:<0.05nm/s(在室溫條件下),。 橫向載荷力和位移。載荷力的分辨率:0.5μN(yùn),;較小橫向力:<5μN(yùn),;較大橫向力:2mN,;位移分辨率:3nm;較小位移:<5nm,;較大位移:15μm,;熱漂移:<0.05nm/s(在室溫條件下)。磨損面積范圍:4μm x 4μm 到 60μm x 60μm,;磨損速率:≤180μm/s,;縱向載荷范圍:100nN – 1mN。X-Y stage,。廣州空心納米力學(xué)測試供應(yīng)