探索LIMS在綜合第三方平臺(tái)建設(shè)
高校實(shí)驗(yàn)室引入LIMS系統(tǒng)的優(yōu)勢(shì)
高校實(shí)驗(yàn)室中LIMS系統(tǒng)的應(yīng)用現(xiàn)狀
LIMS應(yīng)用在生物醫(yī)療領(lǐng)域的重要性
LIMS系統(tǒng)在醫(yī)藥行業(yè)的應(yīng)用
LIMS:實(shí)驗(yàn)室信息管理系統(tǒng)的模塊組成
如何選擇一款適合的LIMS,?簡(jiǎn)單幾步助你輕松解決
LIMS:解決實(shí)驗(yàn)室管理的痛點(diǎn)
實(shí)驗(yàn)室是否需要采用LIMS軟件,?
LIMS系統(tǒng)在化工化學(xué)行業(yè)的發(fā)展趨勢(shì)
在高濕度環(huán)境中,,空氣里水汽含量增大,,這對(duì)光學(xué)儀器而言,,無(wú)疑是巨大的威脅,。儀器內(nèi)部的鏡片猶如極易受潮的精密元件,當(dāng)水汽附著其上,,便會(huì)在表面悄然形成一層輕薄且均勻的水膜,。這層水膜宛如光線傳播的阻礙,大幅降低光線的透過(guò)率,,致使成像亮度明顯減弱,,對(duì)比度也隨之降低,觀測(cè)視野仿佛被蒙上一層朦朧的薄紗,,原本清晰的景象變得模糊不清,。倘若光學(xué)儀器長(zhǎng)期處于這樣的高濕度環(huán)境,問(wèn)題將愈發(fā)嚴(yán)重,。水汽會(huì)逐漸滲透至鏡片與鏡筒的結(jié)合處,,對(duì)金屬部件發(fā)起 “攻擊”,使之遭受腐蝕,。隨著時(shí)間的推移,,金屬部件被腐蝕得千瘡百孔,無(wú)法穩(wěn)固地固定鏡片,,導(dǎo)致鏡片出現(xiàn)松動(dòng)現(xiàn)象,,光路精度被進(jìn)一步破壞。對(duì)于那些運(yùn)用鍍膜技術(shù)來(lái)提升光學(xué)性能的鏡片,,高濕度同樣是一大勁敵,,它會(huì)使鍍膜層受損,鏡片的抗反射能力大打折扣,,進(jìn)而嚴(yán)重影響成像效果,,讓光學(xué)儀器難以發(fā)揮應(yīng)有的作用。設(shè)備的氣流循環(huán)系統(tǒng)經(jīng)過(guò)特殊設(shè)計(jì),,確保每個(gè)角落都能均勻享受穩(wěn)定環(huán)境,。電子元器件溫濕度車(chē)間
在集成電路制造這一高精密的領(lǐng)域中,芯片生產(chǎn)線上的光刻工序堪稱關(guān)鍵的環(huán)節(jié),,其對(duì)溫濕度的要求近乎達(dá)到苛刻的程度,。即便是極其微小的 1℃溫度波動(dòng),,都可能引發(fā)嚴(yán)重后果。光刻機(jī)內(nèi)部的光學(xué)鏡片會(huì)因熱脹冷縮,,致使光路發(fā)生細(xì)微偏移,。這看似毫厘之差,卻足以讓光刻圖案精度嚴(yán)重受損,,使得芯片上的電路布線出現(xiàn)偏差,,甚至短路等問(wèn)題,進(jìn)而大幅拉低芯片的良品率,。而在濕度方面,,一旦濕度突破 50% 的警戒線,光刻膠便極易受潮,,其感光度發(fā)生改變,,導(dǎo)致曝光效果大打折扣,無(wú)疑同樣對(duì)芯片質(zhì)量產(chǎn)生不可忽視的負(fù)面影響,。光學(xué)溫濕度控制房提供詳細(xì)的培訓(xùn)服務(wù),,讓用戶熟練掌握設(shè)備操作與維護(hù)要點(diǎn)。
原子力顯微鏡,,堪稱納米尺度下微觀世界探索的一把利刃,,在材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)等前沿領(lǐng)域發(fā)揮著無(wú)可替代的重要作用,。它能夠?qū)ξ⒂^形貌進(jìn)行觀測(cè),,并細(xì)致地測(cè)量力學(xué)性能,為科研工作者打開(kāi)了通往微觀世界的大門(mén),。然而,這一精密儀器對(duì)環(huán)境條件極為敏感,。即便是極其微小的溫度波動(dòng),,哪怕只有零點(diǎn)幾攝氏度的變化,都會(huì)對(duì)其關(guān)鍵部件 —— 微懸臂產(chǎn)生影響,。微懸臂會(huì)因熱脹冷縮效應(yīng),,改變自身的共振頻率與彈性系數(shù),使得測(cè)量力與位移的精度大幅下降,,難以探測(cè)樣品表面的原子級(jí)細(xì)微起伏,。在濕度方面,高濕度環(huán)境同樣是個(gè)棘手的難題,。此時(shí),,水汽極易在針尖與樣品之間悄然凝結(jié),額外增加的毛細(xì)作用力,,會(huì)嚴(yán)重干擾測(cè)量數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性,。不僅如此,,水汽長(zhǎng)期作用還可能腐蝕微懸臂,極大地縮短儀器的使用壽命,,給科研工作帶來(lái)諸多阻礙,。
激光干涉儀用于測(cè)量微小位移,精度可達(dá)納米級(jí)別,。溫度波動(dòng)哪怕只有 1℃,,由于儀器主體與測(cè)量目標(biāo)所處環(huán)境溫度不一致,二者熱脹冷縮程度不同,,會(huì)造成測(cè)量基線的微妙變化,,導(dǎo)致測(cè)量位移結(jié)果出現(xiàn)偏差,在高精度機(jī)械加工零件的尺寸檢測(cè)中,,這種偏差可能使零件被誤判為不合格品,,增加生產(chǎn)成本。高濕度環(huán)境下,,水汽會(huì)干擾激光的傳播路徑,,使激光發(fā)生散射,降低干涉條紋的對(duì)比度,,影響測(cè)量人員對(duì)條紋移動(dòng)的精確判斷,,進(jìn)而無(wú)法準(zhǔn)確獲取位移數(shù)據(jù),給精密制造,、航空航天等領(lǐng)域的科研與生產(chǎn)帶來(lái)極大困擾,。設(shè)備大小可定制,能匹配各種高精密設(shè)備型號(hào),,及操作空間要求,,構(gòu)建完整環(huán)境體系,保障高精密設(shè)備正常運(yùn)行,。
設(shè)備運(yùn)行靜音高效是精密環(huán)控柜的又一優(yōu)勢(shì),。采用的 EC 風(fēng)機(jī),具備更高效,、更強(qiáng)大,、更安靜的運(yùn)行特點(diǎn)。相比傳統(tǒng)風(fēng)機(jī),,EC 風(fēng)機(jī)能夠在提供充足風(fēng)量的同時(shí),,有效降低能耗,提高能源利用效率,。制冷單元內(nèi)部采用高效隔音材質(zhì),,進(jìn)一步降低設(shè)備噪音,使其運(yùn)行噪音小于 45dB 。噪音作為一種能量對(duì)于生產(chǎn)過(guò)程存在難以忽視的影響,,極低的噪音恰恰能防止設(shè)備收到干擾,,影響生產(chǎn)環(huán)境。高效的運(yùn)行則保證了設(shè)備能夠快速,、穩(wěn)定地調(diào)節(jié)溫濕度和潔凈度,,滿足各類(lèi)精密實(shí)驗(yàn)和生產(chǎn)的需求。提供專(zhuān)業(yè)的售后團(tuán)隊(duì),,定期回訪設(shè)備使用情況,,及時(shí)解決潛在問(wèn)題。甘肅芯片蝕刻溫濕度
設(shè)備采用EC 風(fēng)機(jī),,運(yùn)行時(shí)更加靜音,,高效。電子元器件溫濕度車(chē)間
在計(jì)量校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室中,,高精度的電子天平用于精確稱量微小質(zhì)量差異,,對(duì)環(huán)境溫濕度要求極高。若溫度突然升高 2℃,,天平內(nèi)部的金屬部件受熱膨脹,,傳感器的靈敏度隨之改變,原本能測(cè)量到微克級(jí)別的質(zhì)量變化,,此時(shí)卻出現(xiàn)讀數(shù)偏差,,導(dǎo)致測(cè)量結(jié)果失準(zhǔn)。濕度方面,,當(dāng)濕度上升至 70% 以上,,空氣中的水汽容易吸附在天平的稱量盤(pán)及內(nèi)部精密機(jī)械結(jié)構(gòu)上,增加了額外的重量,,使得測(cè)量數(shù)據(jù)偏大,,無(wú)法反映被測(cè)量物體的真實(shí)質(zhì)量,進(jìn)而影響科研實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的可靠性以及工業(yè)生產(chǎn)中原材料配比度,。電子元器件溫濕度車(chē)間