探索LIMS在綜合第三方平臺(tái)建設(shè)
高校實(shí)驗(yàn)室引入LIMS系統(tǒng)的優(yōu)勢(shì)
高校實(shí)驗(yàn)室中LIMS系統(tǒng)的應(yīng)用現(xiàn)狀
LIMS應(yīng)用在生物醫(yī)療領(lǐng)域的重要性
LIMS系統(tǒng)在醫(yī)藥行業(yè)的應(yīng)用
LIMS:實(shí)驗(yàn)室信息管理系統(tǒng)的模塊組成
如何選擇一款適合的LIMS?簡(jiǎn)單幾步助你輕松解決
LIMS:解決實(shí)驗(yàn)室管理的痛點(diǎn)
實(shí)驗(yàn)室是否需要采用LIMS軟件,?
LIMS系統(tǒng)在化工化學(xué)行業(yè)的發(fā)展趨勢(shì)
原子力顯微鏡,,堪稱納米尺度下微觀世界探索的一把利刃,在材料科學(xué),、生物醫(yī)學(xué)等前沿領(lǐng)域發(fā)揮著無可替代的重要作用,。它能夠?qū)ξ⒂^形貌進(jìn)行觀測(cè),并細(xì)致地測(cè)量力學(xué)性能,,為科研工作者打開了通往微觀世界的大門,。然而,這一精密儀器對(duì)環(huán)境條件極為敏感,。即便是極其微小的溫度波動(dòng),,哪怕只有零點(diǎn)幾攝氏度的變化,都會(huì)對(duì)其關(guān)鍵部件 —— 微懸臂產(chǎn)生影響,。微懸臂會(huì)因熱脹冷縮效應(yīng),,改變自身的共振頻率與彈性系數(shù),使得測(cè)量力與位移的精度大幅下降,,難以探測(cè)樣品表面的原子級(jí)細(xì)微起伏,。在濕度方面,高濕度環(huán)境同樣是個(gè)棘手的難題。此時(shí),,水汽極易在針尖與樣品之間悄然凝結(jié),,額外增加的毛細(xì)作用力,會(huì)嚴(yán)重干擾測(cè)量數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性,。不僅如此,水汽長(zhǎng)期作用還可能腐蝕微懸臂,,極大地縮短儀器的使用壽命,,給科研工作帶來諸多阻礙。精密環(huán)境控制設(shè)備內(nèi)部壓力波動(dòng)極小,,穩(wěn)定在 +/-3Pa,。上海電子顯微鏡溫濕度
在光學(xué)鏡片研磨這一精細(xì)入微的工藝?yán)铮瑴貪穸炔▌?dòng)無疑是如影隨形的 “大敵”,,對(duì)鏡片質(zhì)量的影響堪稱致命,。就研磨設(shè)備而言,即便是零點(diǎn)幾攝氏度的細(xì)微溫度變化,,也會(huì)迅速讓研磨盤與鏡片材料的熱膨脹系數(shù)差異暴露無遺,。這一差異會(huì)直接導(dǎo)致鏡片在研磨過程中受力不均,研磨效果參差不齊,,鏡片的曲率精度因此大打折扣,,進(jìn)而嚴(yán)重影響其光學(xué)性能,。而當(dāng)處于高濕度環(huán)境時(shí),空氣中彌漫的水汽就像隱匿的破壞者,,極易在鏡片表面悄然凝結(jié)成水漬,。這些水漬會(huì)在后續(xù)鍍膜工藝中成為棘手難題,極大地干擾鍍膜均勻性,,致使鏡片的透過率和抗反射能力雙雙下滑,,成品鏡片根本無法契合光學(xué)儀器所要求的嚴(yán)苛標(biāo)準(zhǔn)。上海電子顯微鏡溫濕度主要由設(shè)備主柜體,、控制系統(tǒng),、氣流循環(huán)系統(tǒng)、潔凈過濾器,、制冷(熱)系統(tǒng),、照明系統(tǒng)、局部氣浴等組成,。
激光干涉儀以其納米級(jí)別的測(cè)量精度,,在半導(dǎo)體制造、精密機(jī)械加工等領(lǐng)域發(fā)揮著關(guān)鍵作用,。然而,,它對(duì)環(huán)境變化極為敏感,溫度,、濕度的微小波動(dòng)以及空氣潔凈度的差異,,都可能干擾激光的傳播路徑與干涉效果,致使測(cè)量結(jié)果出現(xiàn)偏差,。精密環(huán)控柜的超高精度溫度控制,,能將溫度波動(dòng)控制在極小區(qū)間,如關(guān)鍵區(qū)域 ±2mK(靜態(tài)),,同時(shí)確保濕度穩(wěn)定性可達(dá) ±0.5%@8h,,并且實(shí)現(xiàn)百級(jí)以上潔凈度控制,為激光干涉儀提供穩(wěn)定,、潔凈的測(cè)量環(huán)境,,保障其測(cè)量精度不受外界因素干擾。光譜分析儀用于分析物質(zhì)的光譜特性,,廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體材料檢測(cè),、化學(xué)分析等領(lǐng)域。在工作時(shí),,外界環(huán)境的不穩(wěn)定可能導(dǎo)致儀器內(nèi)部光學(xué)元件的性能變化,,影響光譜的采集與分析精度。精密環(huán)控柜通過調(diào)控溫濕度,避免因溫度變化使光學(xué)元件熱脹冷縮產(chǎn)生變形,,以及因濕度異常造成的鏡片霉變、光路散射等問題,。其穩(wěn)定的環(huán)境控制能力,,保證光譜分析儀能夠準(zhǔn)確、可靠地分析物質(zhì)光譜,,為科研與生產(chǎn)提供數(shù)據(jù)支持,。
光刻設(shè)備對(duì)溫濕度的要求也極高,光源發(fā)出的光線需經(jīng)過一系列復(fù)雜的光學(xué)系統(tǒng)聚焦到硅片表面特定區(qū)域,,以實(shí)現(xiàn)對(duì)光刻膠的曝光,,將設(shè)計(jì)好的電路圖案印制上去。當(dāng)環(huán)境溫度出現(xiàn)極其微小的波動(dòng),,哪怕只是零點(diǎn)幾攝氏度的變化,,光刻機(jī)內(nèi)部的精密光學(xué)元件就會(huì)因熱脹冷縮特性而產(chǎn)生細(xì)微的尺寸改變。這些光學(xué)元件包括鏡片,、反射鏡等,,它們的微小位移或形狀變化,會(huì)使得光路發(fā)生偏差,。原本校準(zhǔn),、聚焦于硅片特定坐標(biāo)的光線,就可能因?yàn)楣饴返母淖兌x預(yù)定的曝光位置,,出現(xiàn)曝光位置的漂移,。在超高水準(zhǔn)潔凈度控制下,該系統(tǒng)設(shè)備工作區(qū)呈現(xiàn)高潔凈度,,可優(yōu)于 ISOclass3,。
我司憑借深厚的技術(shù)積累,自主研發(fā)出高精密控溫技術(shù),,精度高達(dá) 0.1% 的控制輸出,。溫度波動(dòng)值可實(shí)現(xiàn)±0.1℃、±0.05℃,、±0.01℃,、±0.005℃、±0.002℃等精密環(huán)境控制,。該系統(tǒng)潔凈度可實(shí)現(xiàn)百級(jí),、十級(jí)、一級(jí),。關(guān)鍵區(qū)域 ±5mK(靜態(tài))的溫度穩(wěn)定性,,以及均勻性小于 16mK/m 的內(nèi)部溫度規(guī)格,為諸如芯片研發(fā)這類對(duì)溫度極度敏感的項(xiàng)目,打造了近乎完美的溫場(chǎng)環(huán)境,,保障實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)不受溫度干擾,。同時(shí),設(shè)備內(nèi)部濕度穩(wěn)定性可達(dá)±0.5%@8h,,壓力穩(wěn)定性可達(dá)+/-3Pa,,長(zhǎng)達(dá) 144h 的連續(xù)穩(wěn)定工作更是讓長(zhǎng)時(shí)間實(shí)驗(yàn)和制造無后顧之憂。在潔凈度方面,,實(shí)現(xiàn)百級(jí)以上潔凈度控制,,工作區(qū)潔凈度優(yōu)于 ISO class3,確保實(shí)驗(yàn)結(jié)果的準(zhǔn)確性與可靠性,,也保障了精密儀器的正常工作和使用壽命,。精密環(huán)控柜為光刻、干法刻蝕,、沉積,、表征和其他常見加工設(shè)備提供穩(wěn)定溫濕度、潔凈度,、防噪音,、抗微震條件。高精度溫濕度均勻性
設(shè)備內(nèi)部壓力穩(wěn)定性可達(dá) +/-3Pa,。上海電子顯微鏡溫濕度
刻蝕的目的在于去除硅片上不需要的材料,,從而雕琢出精細(xì)的電路結(jié)構(gòu)。在這一精細(xì)操作過程中,,溫度的波動(dòng)都會(huì)如同“蝴蝶效應(yīng)”般,,干擾刻蝕速率的均勻性。當(dāng)溫度不穩(wěn)定時(shí),,硅片不同部位在相同時(shí)間內(nèi)所經(jīng)歷的刻蝕程度將參差不齊,,有的地方刻蝕過度,有的地方刻蝕不足,,直接破壞芯片的電路完整性,,嚴(yán)重影響芯片性能。濕度方面,,一旦出現(xiàn)不穩(wěn)定狀況,,刻蝕環(huán)境中的水汽會(huì)與刻蝕氣體發(fā)生復(fù)雜的化學(xué)反應(yīng),生成一些難以預(yù)料的雜質(zhì),。這些雜質(zhì)可能會(huì)附著在芯片表面,,或是嵌入剛剛刻蝕形成的微觀電路結(jié)構(gòu)中,給芯片質(zhì)量埋下深深的隱患,,后續(xù)即便經(jīng)過多道清洗工序,,也難以徹底根除這些隱患帶來的負(fù)面影響,。上海電子顯微鏡溫濕度