對于表面無任何痕跡的熔斷電阻器好壞的判斷,，可借助萬用表R×1擋來測量，為保證測量準確,，應將熔斷電阻器一端從電路上焊下,。若測得的阻值為無窮大，則說明此熔斷電阻器已失效開路,，若測得的阻值與標稱值相差甚遠,，表明電阻變值，也不宜再使用,。在維修實踐中發(fā)現,，也有少數熔斷電阻器在電路中被擊穿短路的現象，檢測時也應予以注意,。4 電位器的檢測,。檢查電位器時，首先要轉動旋柄,，看看旋柄轉動是否平滑,，開關是否靈活，開關通,、斷時“喀噠”聲是否清脆,，并聽一聽電位器內部接觸點和電阻體摩擦的聲音，如有“沙沙”聲,，說明質量不好,。用萬用表測試時，先根據被測電位器阻值的大小,，選擇好萬用表的合適電阻擋位,，然后可按下述方法進行檢測。傳感器能感受規(guī)定的被測量并按照一定的規(guī)律轉換成可用信號的器件或裝置,，通常由敏感元件和轉換元件組成,。浦東新區(qū)防爆電子元器件設計

在點接觸型晶體管開發(fā)成功的同時,，結型晶體管論就已經提出，但是直至人們能夠制備超高純度的單晶以及能夠任意控制晶體的導電類型以后,，結型晶體管材真正得以出現,。1950年，具有使用價值的**早的鍺合金型晶體管誕生,。1954年,，結型硅晶體管誕生。此后,，人們提出了場效應晶體管的構想,。隨著無缺陷結晶和缺陷控制等材料技術、晶體外誕生長技術和擴散摻雜技術,、耐壓氧化膜的制備技術,、腐蝕和光刻技術的出現和發(fā)展，各種性能優(yōu)良的電子器件相繼出現,，電子元器件逐步從真空管時代進入晶體管時代和大規(guī)模,、超大規(guī)模集成電路時代。逐步形成作為高技術產業(yè)**的半導體工業(yè),。松江區(qū)進口電子元器件供應商蜂鳴器是一種一體化結構的電子訊響器,，采用直流電壓供電。

5 正溫度系數熱敏電阻(PTC)的檢測,。檢測時,，用萬用表R×1擋，具體可分兩步操作：A 常溫檢測(室內溫度接近25℃),；將兩表筆接觸PTC熱敏電阻的兩引腳測出其實際阻值,，并與標稱阻值相對比，二者相差在±2Ω內即為正常,。實際阻值若與標稱阻值相差過大,，則說明其性能不良或已損壞。B 加溫檢測,；在常溫測試正常的基礎上,，即可進行第二步測試—加溫檢測，將一熱源(例如電烙鐵)靠近PTC熱敏電阻對其加熱,，同時用萬用表監(jiān)測其電阻值是否隨溫度的升高而增大,，如是，說明熱敏電阻正常,，若阻值無變化,，說明其性能變劣，不能繼續(xù)使用。注意不要使熱源與PTC熱敏電阻靠得過近或直接接觸熱敏電阻,，以防止將其燙壞,。

元件屬于不需要能源的器件。它包括：電阻,、電容,、電感。(又稱為被動元件Passive Components)元件分為：1,、電路類元件：二極管,，電阻器等。2,、連接類元件：連接器,，插座，連接電纜,，印刷電路板(PCB)等,。二,、器件：工廠在生產加工時改變了原材料分子結構的產品稱為器件,。器件分為：1、主動器件,，它的主要特點是：(1)自身消耗電能,，(2)需要外界電源。2,、分立器件,，分為(1)雙極性晶體三極管，(2)場效應晶體管,，(3)可控硅,，(4)半導體電阻、電容,。故在電路中起著自動調節(jié),、安全保護、轉換電路等作用,。

A 用萬用表的歐姆擋測“1”,、“2”兩端，其讀數應為電位器的標稱阻值,，如萬用表的指針不動或阻值相差很多,，則表明該電位器已損壞。B 檢測電位器的活動臂與電阻片的接觸是否良好,。用萬用表的歐姆檔測“1”,、“2”(或“2”、“3”)兩端，將電位器的轉軸按逆時針方向旋至接近“關”的位置,，這時電阻值越小越好,。再順時針慢慢旋轉軸柄，電阻值應逐漸增大,，表頭中的指針應平穩(wěn)移動,。當軸柄旋至極端位置“3”時，阻值應接近電位器的標稱值,。如萬用表的指針在電位器的軸柄轉動過程中有跳動現象,，說明活動觸點有接觸不良的故障。模擬集成電路是指由電阻,、電容,、晶體管等元件集成在一起用來處理模擬信號的模擬集成電路。松江區(qū)進口電子元器件供應商

電子信息技術是當今新技術,，電子元器件是發(fā)展電子信息技術的基礎,。浦東新區(qū)防爆電子元器件設計

數字集成電路是將元器件和連線集成于同一半導體芯片上而制成的數字邏輯電路或系統(tǒng)。根據數字集成電路中包含的門電路或元器件數量,，可將數字集成電路分為小規(guī)模集成(SSI)電路,、中規(guī)模集成(MSI)電路、大規(guī)模集成(LSI)電路,、超大規(guī)模集成(VLSI)電路和特大規(guī)模集成(ULSI)電路,。小規(guī)模集成電路包含的門電路在10個以內，或元器件數不超過100個,；中規(guī)模集成電路包含的門電路在10-100個之間,，或元器件數在100-1000個之間；大規(guī)模集成電路包含的門電路在100個以上,，或元器件數在1000個以上,；浦東新區(qū)防爆電子元器件設計

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