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上海測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試流程

來源: 發(fā)布時(shí)間:2024-12-10

嵌入式MCU的特點(diǎn)是執(zhí)行速度快、操作簡(jiǎn)單,,但這種實(shí)現(xiàn)方式的專門使用性較強(qiáng)不容易擴(kuò)展,?;赑LC的控制方式,,其重點(diǎn)在于控制部分,測(cè)量功能相對(duì)較弱,,比較適合以控制為主的場(chǎng)合,。基于PC的控制方式使用較為普遍,,它具有PC機(jī)價(jià)格低廉,、數(shù)據(jù)處理功能強(qiáng)大、測(cè)試程序開發(fā)工具豐富等優(yōu)點(diǎn),。由于UUT的輸入輸出管腳數(shù)量較多,,信號(hào)種類復(fù)雜,為滿足自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的通用性,,在ITA設(shè)計(jì)時(shí),, 必須采用多通道開關(guān),(1)是對(duì)PCB的信號(hào)通道進(jìn)行自動(dòng)切換,;(2)是對(duì)PCB的信號(hào)進(jìn)行調(diào)理,,使調(diào)理后的信號(hào)能夠滿足測(cè)試儀器的量程范圍;(3)是對(duì)PCB和測(cè)試儀器的保護(hù),,避免操作失誤或外界干擾而對(duì)PCBA和測(cè)試設(shè)備造成損壞,。功能測(cè)試系統(tǒng)可提高產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性。上海測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試流程

治具,,常規(guī)的治具設(shè)計(jì),,大多采用雙載板平衡桿和針板平衡桿。在測(cè)試過程中壓板下壓時(shí),,如果壓板,、載板、針板固定不佳,,容易產(chǎn)生晃動(dòng),,從而使UUT產(chǎn)生翹邊變形,進(jìn)行而導(dǎo)致測(cè)試針和測(cè)試點(diǎn)接觸不良或者位置偏移,,使得測(cè)試針彎曲變形引起誤測(cè)甚至導(dǎo)致UUT裂損,。上述情況的發(fā)生,尤其是在UUT的厚度發(fā)生較大變化時(shí)更容易產(chǎn)生,。治具定位原理,,根據(jù)電路板的不同, 可采用以下幾種定位方式根據(jù)工件的不同情況。1,、以外緣輪廓定位,,對(duì)于面積尺寸較小而且外廓一致性較好的電路板,可采用外輪廓定位方式,。長邊用定位板,,限制2個(gè)自由度;短邊用定位針,,限制1個(gè)自由度,。在另一短邊,還可以增加1只定位針,,形成所謂的約束性過定位,。這種方式中,兩根定位柱所限位的尺寸應(yīng)比UUT尺寸略大,,在0.3mm~0.5mm即可,。雖然由于此間隙的存在,定位精度會(huì)略有降低,但操作方便,、制造簡(jiǎn)單,。2、以“邊/孔”定位,,對(duì)于面積尺寸較大的電路板,,可以采用“邊/孔”定位,這也屬于約束性過定位的一種,。定位板限制2個(gè)自由度,,定位柱限制2個(gè)自由度。這種形式中,,通常定位柱和UUT定位孔的間隙需要留的更大一些,。上海測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試流程功能測(cè)試系統(tǒng)普遍用于電子產(chǎn)品的功能性驗(yàn)證。

應(yīng)用電子技術(shù)方面的測(cè)試,,印刷電路板,,又稱印制電路板,印刷線路板,,常使用英文縮寫PCB(Printed circuit board),,是重要的電子部件,是電子元件的支撐體,,是電子元器件線路連接的提供者,。由于它是采用電子印刷技術(shù)制作的,故被稱為“印刷”電路板,。在印制電路板出現(xiàn)之前,,電子元件之間的互連都是依靠電線直接連接而組成完整的線路。電路面包板只是作為有效的實(shí)驗(yàn)工具而存在,,而印刷電路板在電子工業(yè)中已經(jīng)成了占據(jù)了一定統(tǒng)治的地位,。

操作系統(tǒng),可供電路板測(cè)試選擇的操作系統(tǒng)很多,,例如UNIX,、OS、Windows,、Solaris等,,選擇操作系統(tǒng)時(shí)受限于硬件設(shè)備的支持、程序人員的技術(shù)水平,、操作系統(tǒng)的普及程度和操作系統(tǒng)本身特點(diǎn)等諸多因素,,趨于采用廣為普及的Windows操作系統(tǒng)??偩€技術(shù),,電路板測(cè)試技術(shù)的發(fā)展與儀器控制總線的發(fā)展永遠(yuǎn)是密切相關(guān)的,,儀器控制總線的每一次更新都促進(jìn)電路板測(cè)試技術(shù)的更新。儀器控制總線有GPIB總線,、VXI總線和PXI總線三種,,它們是發(fā)展過程中依次出現(xiàn)的總線技術(shù),表示著電路板測(cè)試技術(shù)的發(fā)展歷程,。GPIB總線是早期出現(xiàn)的儀器接口控制總線,,多用于常見的臺(tái)式儀器上,采用該總線集成的系統(tǒng)體積大,、數(shù)據(jù)傳輸速率低(較大數(shù)據(jù)傳輸速率為1MB/s)且同一系統(tǒng)總線上較多可連15臺(tái)儀器。功能測(cè)試系統(tǒng)有利于產(chǎn)品上市前的全方面驗(yàn)收,。

軟件模塊,,功能測(cè)試軟件的主要功模塊包括:1、程序運(yùn)行模塊,;2,、資源管理模塊;3,、腳本管理模塊,;4、數(shù)據(jù)管理模塊,;5,、權(quán)限管理模塊...程序運(yùn)行平臺(tái),執(zhí)行環(huán)境具有功能強(qiáng)大的測(cè)試程序控制功能,,既能為高水平技術(shù)人員提供多種測(cè)試程序控制功能及故障排除功能,,也為較基本的操作人員提供極其簡(jiǎn)單的GO/NOGO測(cè)試方式。資源管理,,資源管理主要包括驅(qū)動(dòng)管理,、儀器配置、接口配置,。腳本管理平臺(tái),,腳本管理一般為使用廣為熟悉的類C的語法,具有完整的腳本編寫,、調(diào)試,、運(yùn)行環(huán)境。腳本可以系統(tǒng)自動(dòng)生成,,并可以由用戶進(jìn)行修改和編輯,。數(shù)據(jù)管理平臺(tái),數(shù)據(jù)管理平臺(tái)可以根據(jù)日期分開保存Fail和Pass產(chǎn)品序列號(hào),、測(cè)試人員,、測(cè)試時(shí)間、測(cè)試每項(xiàng)實(shí)際值及結(jié)果;可以自動(dòng)統(tǒng)計(jì)測(cè)試結(jié)果資料,,對(duì)不良品和返修品可以隨時(shí)根據(jù)日期或批次,,查詢對(duì)應(yīng)S/N號(hào)的測(cè)試結(jié)果狀態(tài)等。靜動(dòng)態(tài)功能測(cè)試系統(tǒng)可測(cè)試產(chǎn)品在靜態(tài)和動(dòng)態(tài)條件下的性能,。上海測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試流程

高效測(cè)試:功能測(cè)試系統(tǒng)提高測(cè)試效率,,縮短產(chǎn)品研發(fā)周期。上海測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試流程

由于自動(dòng)測(cè)試速度極快,,各測(cè)試步驟之間不易分清,,難以檢測(cè)出故障。又因測(cè)試的關(guān)鍵部分無人參與,,測(cè)試程序和被測(cè)單元電路圖中的錯(cuò)誤無人察覺,。因此,自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的硬件和軟件均應(yīng)有良好的可靠性,,方能保證系統(tǒng)的可靠性,。自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)、使用,、維護(hù)和管理都是極其復(fù)雜的課題,。先進(jìn)的元器件、計(jì)算機(jī),、機(jī)器人和人工智能技術(shù)推動(dòng)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)向數(shù)字化和智能化的方向發(fā)展,。由之而來對(duì)測(cè)試過程中所需要的工裝(夾具)不斷提出要求,于是電路板測(cè)試儀(又稱電子測(cè)試工裝)應(yīng)運(yùn)而生,。上海測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試流程