本發(fā)明在另一實(shí)施例中公開一種芯片測試機(jī)的測試方法,。該測試方法包括以下步驟：將多個(gè)待測試芯片放置于多個(gè)tray盤中，每一個(gè)tray盤中放置多個(gè)待測試芯片，將多個(gè)tray盤放置于自動(dòng)上料裝置,，并在自動(dòng)下料裝置及不良品放置臺(tái)上分別放置一個(gè)空tray盤；移載裝置從自動(dòng)上料裝置的tray盤中取出待測試芯片移載至測試裝置進(jìn)行測試,；芯片測試完成后,，移載裝置將測試合格的芯片移載至自動(dòng)下料裝置的空tray盤中,，將不良品移載至不良品放置臺(tái)的空tray盤中；當(dāng)自動(dòng)上料裝置的一個(gè)tray盤中的待測試芯片全部完成測試,，且自動(dòng)下料裝置的空tray盤中放滿測試合格的芯片后,，移載裝置將自動(dòng)上料裝置的空tray盤移載至自動(dòng)下料裝置。芯片測試機(jī)可以進(jìn)行傳輸門延時(shí)測試,，用于檢測電路的延時(shí)性能,。吉林芯片測試機(jī)價(jià)格

盡管每款獨(dú)特的電路設(shè)計(jì)要求的功能測試條件都不一樣，但很多時(shí)候我們還是能找到他們的相同之處,，比如一些可以通過功能測試去驗(yàn)證的參數(shù),，我們就可以總結(jié)出一些標(biāo)準(zhǔn)的方法。開短路測試原理（通俗叫O/S）,，開短路測試,，是基于產(chǎn)品本身管腳的ESD防靜電保護(hù)二極管的正向?qū)▔航档脑磉M(jìn)行測試。 進(jìn)行開短路測試的器件管腳,，對(duì)地或者對(duì)電源端,，或者對(duì)地和對(duì)電源，都有ESD保護(hù)二極管,，利用二極管正向?qū)ǖ脑?，就可以判別該管腳的通斷情況。IC芯片測試機(jī)公司芯片測試機(jī)可以進(jìn)行超時(shí)測試,，用于測試芯片在極端條件下的穩(wěn)定性,。

設(shè)計(jì)公司主要目標(biāo)是根據(jù)市場需求來進(jìn)行芯片研發(fā)，在整個(gè)設(shè)計(jì)過程中,，需要一直考慮測試相關(guān)的問題,，主要有下面幾個(gè)原因：1） 隨著芯片的復(fù)雜度原來越高，芯片內(nèi)部的模塊越來越多,，制造工藝也是越來越先進(jìn),，對(duì)應(yīng)的失效模式越來越多，而如何能完整有效地測試整個(gè)芯片,，在設(shè)計(jì)過程中需要被考慮的比重越來越多,。2） 設(shè)計(jì)、制造,、甚至測試本身,，都會(huì)帶來一定的失效，如何保證設(shè)計(jì)處理的芯片達(dá)到設(shè)計(jì)目標(biāo),，如何保證制造出來的芯片達(dá)到要求的良率,，如何確保測試本身的質(zhì)量和有效，從而提供給客戶符合產(chǎn)品規(guī)范的,、質(zhì)量合格的產(chǎn)品,，這些都要求必須在設(shè)計(jì)開始的頭一時(shí)間就要考慮測試方案,。3） 成本的考量。越早發(fā)現(xiàn)失效,，越能減少無謂的浪費(fèi),；設(shè)計(jì)和制造的冗余度越高，越能提供較終產(chǎn)品的良率,；同時(shí),，如果能得到更多的有意義的測試數(shù)據(jù)，也能反過來提供給設(shè)計(jì)和制造端有用的信息,，從而使得后者有效地分析失效模式,，改善設(shè)計(jì)和制造良率。

本發(fā)明的目的在于提供一種芯片測試機(jī)及芯片測試方法,，本發(fā)明的芯片測試機(jī)的結(jié)構(gòu)緊湊,、體積較小，占地面積只一平米左右,，可以滿足小批量的芯片測試要求,。其技術(shù)方案如下：本發(fā)明在一實(shí)施例中公開了一種芯片測試機(jī)。該芯片測試機(jī)包括機(jī)架,，以及設(shè)置于機(jī)架上的移載裝置,、測試裝置、自動(dòng)上料裝置,、自動(dòng)下料裝置及不良品放置臺(tái),，所述自動(dòng)上料裝置包括頭一料倉及自動(dòng)上料機(jī)構(gòu)，所述自動(dòng)上料機(jī)構(gòu)在所述頭一料倉內(nèi)上下移動(dòng),；所述自動(dòng)下料機(jī)構(gòu)包括第二料倉及自動(dòng)下料機(jī)構(gòu),，所述自動(dòng)下料機(jī)構(gòu)在所述第二料倉內(nèi)上下移動(dòng),，所述移載裝置位于所述自動(dòng)上料裝置,、自動(dòng)下料裝置、測試裝置及不良品放置臺(tái)的上方,，所述移載裝置將自動(dòng)上料裝置的待測試芯片移動(dòng)至測試裝置,，并將測試完成的芯片移動(dòng)至自動(dòng)下料裝置或不良品放置臺(tái)，所述移載裝置還將自動(dòng)上料裝置的空tray盤移動(dòng)至自動(dòng)下料裝置,。芯片測試機(jī)可以用于測試各種芯片,，包括數(shù)字芯片、模擬芯片和混合信號(hào)芯片,。

自動(dòng)下料機(jī)構(gòu)52下料時(shí),，首先將一個(gè)空的tray盤放置于第二料倉51的第二移動(dòng)底板47上，并將該空的tray盤置于第二料倉51的開口部,。檢測合格的芯片放置于該空的tray盤中,。當(dāng)該tray盤中已放滿檢測后的芯片后,，伺服電機(jī)43帶動(dòng)滾珠絲桿45轉(zhuǎn)動(dòng)，滾珠絲桿45帶動(dòng)tray盤向下移動(dòng)一定距離,，然后移載裝置20將自動(dòng)上料裝置40空的tray盤移載至自動(dòng)下料裝置50放置,，并將空的tray盤放置于自動(dòng)下料裝置50的放滿芯片的tray盤的上方，并上下疊放,。吸嘴基板232上固定有多個(gè)真空發(fā)生器27,，該真空發(fā)生器27與真空吸盤25、真空吸嘴26相連,。本實(shí)施例可通過真空吸盤25和/或真空吸嘴26吸取芯片,。本實(shí)施例的機(jī)架10上還固定有顯示器110，通過顯示器110顯示測試機(jī)的運(yùn)行,，同時(shí)機(jī)架10上還固定有三色顯示燈120,，通過顯示燈顯示測試機(jī)的不同的工作狀態(tài)。本測試機(jī)的工控箱,、測試機(jī)主機(jī),、電控箱等均固定于機(jī)架10上。本發(fā)明在另一實(shí)施例中公開了一種芯片測試機(jī)的測試方法,。芯片測試機(jī)可以進(jìn)行反相測試,，用于測試反相運(yùn)算器和逆變器。上海常規(guī)倒裝芯片測試機(jī)廠商

芯片測試機(jī)支持多樣化的測試需求,，適用不同種類芯片的測試,。吉林芯片測試機(jī)價(jià)格

芯片測試是指對(duì)集成電路芯片的功能、性能,、可靠性等進(jìn)行測試和驗(yàn)證的一系列工作,。檢測過程中，會(huì)檢查芯片的各個(gè)部分是否達(dá)到設(shè)計(jì)要求,，并評(píng)估其在不同使用環(huán)境下的工作表現(xiàn),。芯片測試的原理，芯片測試的基本原理是通過特制的測試儀器,，將預(yù)定信號(hào)注入被測試的芯片引腳上,，然后檢測芯片輸出端口所產(chǎn)生的響應(yīng)情況，以此來判斷芯片能否正常工作,，達(dá)到預(yù)期效果,。芯片測試的數(shù)據(jù)分析主要依賴于數(shù)字信號(hào)處理、模擬信道仿真,、統(tǒng)計(jì)推斷等技術(shù)手段,。吉林芯片測試機(jī)價(jià)格

深圳市泰克光電科技有限公司在同行業(yè)領(lǐng)域中，一直處在一個(gè)不斷銳意進(jìn)取，不斷制造創(chuàng)新的市場高度,，多年以來致力于發(fā)展富有創(chuàng)新價(jià)值理念的產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn),，在廣東省等地區(qū)的能源中始終保持良好的商業(yè)口碑，成績讓我們喜悅,，但不會(huì)讓我們止步,，殘酷的市場磨煉了我們堅(jiān)強(qiáng)不屈的意志，和諧溫馨的工作環(huán)境,，富有營養(yǎng)的公司土壤滋養(yǎng)著我們不斷開拓創(chuàng)新,，勇于進(jìn)取的無限潛力，深圳市泰克光電科技供應(yīng)攜手大家一起走向共同輝煌的未來,，回首過去,，我們不會(huì)因?yàn)槿〉昧艘稽c(diǎn)點(diǎn)成績而沾沾自喜，相反的是面對(duì)競爭越來越激烈的市場氛圍,，我們更要明確自己的不足,，做好迎接新挑戰(zhàn)的準(zhǔn)備，要不畏困難,，激流勇進(jìn),，以一個(gè)更嶄新的精神面貌迎接大家，共同走向輝煌回來,！